一种数控系统可靠性测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种数控系统可靠性测试装置，包括：控制单元，连接被测系统，接收待测数控系统输出信号，并进行判断，若待测数控系统运行正常，则控制单元继续进行自动上下电可靠性测试；否则控制单元记录当前的运行次数，并进行故障报警；电源单元，连接待测数控系统和控制单元，为待测数控系统、控制单元提供所需电源。本实用新型专利技术对数控系统进行可靠性测试，检验数控系统硬件设计的可靠性，数控系统的软件设计可靠性，对数控系统持续改进，提高系统可靠性具有一定的深远意义。

Reliability test device for numerical control system

The utility model relates to a numerical control system reliability testing device includes: a control unit is connected with the tested system, receiving the measured output signal of NC system, and to judge if the measured numerical control system in normal operation, the control unit continues automatic electric reliability test; otherwise the control unit records the current running times. And the fault alarm; a power supply unit connected to measure control system and control unit for the measured numerical control system, the control unit provides the required power. The utility model has the advantages of reliability test to test the reliability of CNC system CNC system, hardware design, software design of CNC system reliability, continuous improvement of CNC system, has far-reaching significance to improve the system reliability.

【技术实现步骤摘要】
一种数控系统可靠性测试装置
本技术涉及工业控制领域，具体地说是一种数控系统可靠性测试装置。
技术介绍
数控机床是机电一体化设备，采用数控系统作为机床的控制核心。由于数控技术的快速发展，其复杂性和综合性加大了数控系统的设计与维修难度。数控机床相对普通机床的故障率较高，随着数控机床的广泛应用，作为数控机床的核心数控系统必须具有高可靠性。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提供一种数控系统可靠性测试装置，通过数控系统频繁的上下电测试，可检验数控系统系统电源设计可靠性、数控系统运行可靠性等。解决数控系统可靠性检测的问题，对于提高数控数控系统的可靠性具有一定的深远意义。本技术为实现上述目的所采用的技术方案是：一种数控系统可靠性测试装置，包括：控制单元，连接被测系统，接收待测数控系统输出信号，并进行判断，若待测数控系统运行正常，则控制单元继续进行自动上下电可靠性测试；否则控制单元记录当前的运行次数，并进行故障报警；电源单元，连接待测数控系统和控制单元，为待测数控系统、控制单元提供所需电源。所述控制单元包括：信号采集模块输出端连接处理器模块，输入端连接待测数控系统，接收待测数控系统输出信号，监控待测数控系统的运行状态；输出控制模块一端输入端连接处理器模块，输出端连接待测数控系统，用于，向待测数控系统发送控制命令，控制其自动上/下电；数码显示模块连接处理器模块，用于显示当前被测数控系统已通过的测试次数、系统上电保持时间、系统下电时间和故障报警信息；功能设置模块连接处理器模块，用于可靠性测试装置的参数设置输入、测试次数清零、控制测试开始/停止以及报警复位；模式选择模块连接处理器模块，用于设置控制单元的测试模式。所述处理器模块为ARMCortex-M3内核STM32F103芯片，其运行频率可达到72MHZ。本技术具有以下有益效果及优点：1.本技术对数控系统进行可靠性测试，检验数控系统硬件设计的可靠性，数控系统的软件设计可靠性，对数控系统持续改进，提高系统可靠性具有一定的深远意义。2.本技术支持多套数控系统同时进行测试，节省系统的可靠性测试时间，提高测试效率，对于提高数控数控系统的可靠性具有一定的深远意义。3、本技术的测试具有一致性和可重复性，采用自动测试装置进行测试，每次测试的结果和执行内容的一致性是可以得到保障的。从而达到测试的可重复的效果。附图说明图1是本技术的硬件结构图。具体实施方式下面结合附图及实施例对本技术做进一步的详细说明。如图1所示为本技术的硬件结构图。可靠性测试装置由三部分组成，一个是待测数控系统，一个是电源单元，一个是控制单元。待测数控系统是进行可靠性测试的待测试对象；电源单元为待测数控系统、控制单元提供所需电源；控制单元通过信号采集模块和输出控制模块与待测数控系统进行连接，接收待测数控系统输出信号，并进行判断，若待测数控系统运行正常，则控制单元继续进行自动上下电可靠性测试；若待测数控系统运行异常，则控制单元记录当前的运行次数，并进行故障报警。可靠性测试装置电源单元主要由二部分组成：一个是为被测数控系统供电，提供数控系统所需的+12V和+5V电源；一个是为可靠性测试装置和数控系统的IO电路供电，提供所需的+24V电源。控制单元包括处理器模块，数码管显示模块，功能设置模块，测试模式选择模块，信号采集模块，输出控制模块等组成。其中处理器模块作为可靠性测试装置的CPU处理器单元，运行控制软件，实现对被测数控系统运行状态监控、被测数控系统自动上下电控制、故障报警等功能；数码显示模块用于显示当前被测数控系统已通过的测试次数、系统上电保持时间、系统下电时间、故障报警等信息；功能设置模块用于可靠性测试装置的参数设置输入，测试控制开始/停止等控制功能；测试模式选择模块用于设置控制单元的测试模式；信号采集模块用于监控被测数控系统的运行状态；输出控制模块用于控制数控系统自动上/下电。处理器模块采用的是意法半导体公司推出的ARMCortex-M3内核STM32F103芯片，其运行频率可到72MHZ，其功能是在处理器上运行控制软件，实现对被测数控系统运行状态监控及上下电控制，测试装置的控制参数设置，运行状态显示，被测数控系统自动上下电控制、故障报警等功能。处理器模块通过信号采集模块接收被测数控系统运行状态，判断被测数控系统运行状态是否正常。若数控系统输出状态正常，可靠性测试装置控制单元读取到数控系统正常运行状态后，运行一段时间后，通过输出控制模块控制被测数控系统的供电电源，实现数控系统的自动下电功能。间隔一段时间后，再给数控系统重新上电，完成一次数控装置的自动上下电功能测试，并把当前测试次数累加到芯片计数器中，实现测试次数记录功能。若被测数控系统运行状态异常，可靠性测试装置发出故障报警，记录当前次数，暂时测试功能，保留当前运行状态等待故障原因排查。信号采集模块通过接收被测数控系统运行状态，并将运行状态发送给处理器模块，由处理器模块对被测数控系统的状态进行判断。输出控制模块接收处理器模块的命令信息，通过输出控制模块来实现对被测数控系统自动上下电控制功能。数码管显示模块可实现测试次数计数显示，数控上下电时间显示，报警信息显示，控制设置参数显示等功能。功能设置模块实现数控系统上下电测试时间的参数设置，测试次数清零，测试开始/停止，报警复位等功能。测试模式选择模块实现被测数控系统的测试模式选择，待测数控系统数量设置等功能。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数控系统可靠性测试装置，其特征在于，包括：控制单元，连接被测系统，接收待测数控系统输出信号，并进行判断，若待测数控系统运行正常，则控制单元继续进行自动上下电可靠性测试；否则控制单元记录当前的运行次数，并进行故障报警；电源单元，连接待测数控系统和控制单元，为待测数控系统、控制单元提供所需电源。

【技术特征摘要】
1.一种数控系统可靠性测试装置，其特征在于，包括：控制单元，连接被测系统，接收待测数控系统输出信号，并进行判断，若待测数控系统运行正常，则控制单元继续进行自动上下电可靠性测试；否则控制单元记录当前的运行次数，并进行故障报警；电源单元，连接待测数控系统和控制单元，为待测数控系统、控制单元提供所需电源。2.根据权利要求1所述的数控系统可靠性测试装置，其特征在于，所述控制单元包括：信号采集模块输出端连接处理器模块，输入端连接待测数控系统，接收待测数控系统输出信号，监控待测数控系统的运行状态；输出控制模块一端输入端连接处理...

【专利技术属性】
技术研发人员：李锁，杜少华，武南，韩文业，李博，左震宇，
申请(专利权)人：沈阳高精数控智能技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：辽宁,21