【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种IC芯片测试机的测试抓手组合模组装置，更准确地说，涉及能将前、后侧料船装置左料船送来的芯片，由前、后侧测试抓手总成组合逐一抓放到测试机的对应测试位置进行测试，之后又能将测试完成并获得品质结果信息的芯片放到前、后侧料船装置的右料船上，被输送到下一道工序去进行品质分选的一种IC芯片测试分选机的测试抓手组合模组装置。
技术介绍
IC芯片完成加工制造工序后，需要一一进行测试，最初，人们对芯片测试后，是靠人工分类放置的，不仅效率低，还容易发生错误。目前已有自动测试分选机，但在测试过程中的送料和下料的抓手结构单一，数量有限，因此生产效率低，适应产品品种的规格少。
技术实现思路
本技术为了解决现有技术中存在的问题，提供了一种IC芯片测试分选机的测试抓手组合模组装置，其结构新颖、功能全面、生产效率高，能同时抓取至少四块芯片进行测试。为实现上述目的，本技术的技术方案是一种IC芯片测试分选机的测试抓手组合模组装置，包括至少一个测试抓手组合运动模组，所述测试抓手组合运动模组包括安装板，还包括测试抓手总成组合升降滑块、测试抓手总成组合左右移动滑块，所述安装板的上方设有可将测试抓...
【技术保护点】
一种IC芯片测试分选机的测试抓手组合模组装置，包括至少一个测试抓手组合运动模组，其特征在于：所述测试抓手组合运动模组包括安装板，还包括测试抓手总成组合升降滑块、测试抓手总成组合左右移动滑块，所述安装板的上方设有可将测试抓手总成组合升降滑块上下移动的垂直移动装置；所述安装板的下方设有将测试抓手总成组合左右移动滑块水平移动的水平移动装置；还设有下端固联有测试抓手总成装置的测试抓手总成组合连接板，所述测试抓手总成组合连接板垂直导轨式地卡合与测试抓手总成组合左右移动滑块，其上端水平导轨式地卡合与测试抓手总成组合升降滑块。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林宜龙，付义超，唐召来，刘飞，
申请(专利权)人：格兰达技术深圳有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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