【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种IC芯片测试分选机的测试抓手总成装置，更准确地说，涉及在芯片测试过程中能对待测芯片自动抓放、温度控制、稳定加压的一种IC芯片测试分选机的测试抓手总成装置。
技术介绍
IC芯片完成加工制造工序后，需要一一进行测试，最初，人们对芯片进行测试，是靠人工进行的，不仅效率低，还容易发生错误。目前已有用测试抓手将芯片自动抓取到测试机的测试头处进行测试，但其测试抓手存在着温度控制差、测试接触不稳定等缺陷。
技术实现思路
本技术为了解决现有技术中存在的问题，提供了一种IC芯片测试分选机的测试抓手总成装置，其结构简单、紧凑，能在芯片到达测试机测试点位时进一步通过压紧力，使待测芯片测试点与测试机的测试头接触稳固。为实现上述目的，本技术的技术方案是一种IC芯片测试分选机的测试抓手总成装置，包括上部总成，所述上部总成包括连通外部气路并封装在缸筒内的活塞，套装在活塞向下延伸的活塞杆上的压缩弹簧和缸筒卡合，所述活塞杆穿出缸筒的底端并固联有下部总成，包括外壳，以及封装在外壳内并连通有外部真空接头的吸嘴杆，所述吸嘴杆包括分别位于上下两端的上部杆和下部杆，以及位于上部杆、下部杆之间的卡合部...
【技术保护点】
一种IC芯片测试分选机的测试抓手总成装置，其特征在于：包括，上部总成，包括连通外部气路并封装在缸筒内的活塞，套装在活塞向下延伸的活塞杆上的压缩弹簧和缸筒卡合，所述活塞杆穿出缸筒的底端并固联有下部总成，包括外壳，以及封装在外壳内并连通有外部真空接头的吸嘴杆，所述吸嘴杆包括分别位于上下两端的上部杆和下部杆，以及位于上部杆、下部杆之间的卡合部，所述卡合部卡住外壳底端的内壁并使下部杆穿出外壳底端外壁设置的吸嘴外套，所述卡合部上方的上部杆套装有压缩弹簧并和伸入外壳顶端设置的通孔中，压缩弹簧卡合住外壳顶端的内壁，使吸嘴杆可在外壳中上下移动。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林宜龙，付义超，唐召来，刘飞，
申请(专利权)人：格兰达技术深圳有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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