【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体制造领域,更具体地说,本专利技术涉及一种晶圆垂直加工设备及晶圆垂直加工方法,例如晶圆背面金属处理设备及晶圆背面金属处理方法。
技术介绍
随着半导体器件封装工艺的发展,在以晶圆垂直的状态对晶圆进行加工的晶圆垂直加工工艺(例如晶圆背面沉积金属层的工艺)变得越来越普遍。图1示意性地示出了根据现有技术的晶圆垂直加工设备的结构图。如图1所示, 为了使晶圆1垂直(竖直)放置,需要在按压点2处对晶圆1施加压力来防止晶圆1滑落, 该按压点2位于晶圆1的边缘。更具体地说,这样可以通过按压点2处的按压力所产生的摩擦力来固定垂直放置的晶圆1,由此来防止晶圆1滑落或倾倒。即,在例如晶圆背面金属处理过程中,传统的固定晶圆2的结构都会给晶圆边缘带来压力,会导致晶圆1(尤其是薄片晶圆)容易破裂或破碎。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术中存在上述缺陷,提供一种使得晶圆 (即使是薄片晶圆)也不容易破裂或破碎的晶圆垂直加工设备及晶圆垂直加工方法。根据本专利技术的第一方面,提供了一种晶圆垂直加工设备,其特征在于包括支撑部件;其中,在晶圆垂直加工过程中,所述支撑 ...
【技术保护点】
1.一种晶圆垂直加工设备,其特征在于包括支撑部件;其中,在晶圆垂直加工过程中,所述支撑部件位于晶圆周围,用于在晶圆的边缘处支撑竖直放置的晶圆。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:傅荣颢,刘玮荪,
申请(专利权)人:上海宏力半导体制造有限公司,
类型:发明
国别省市:31
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