【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种集成电路的静电保护电路,特别是关于一种在焊垫(pad)受到静电袭击时,具有较高静电放电能力的静电保护电路。随着超大规模集成VLSI电路的体积不断缩小,VLSI电路的制造商为了符合电路积体的压缩原则及增加产品性能,亦不断地生产出具有更薄的栅极氧化层的半导体装置。因此,使得半导体装置中的栅极氧化层厚度不断地缩小。目前在深度半微米(half micrometer)技术中,栅极氧化层厚度可以做到约60。在此条件下,如果在栅极氧化层加上一7MV/cm大小的电场,因FN穿道(Tunneling)而产生电流便会出现。所以,此种半导体装置无法耐受长时间在栅极氧化层上持续出现高于7MV/cm大小电场。因此,为了不使此种半导体装置栅极氧化层产生损坏的问题,在栅极氧化层上所加偏压最大不能超过4.2V(60×7MV/cm)。如果再把制造过程中会产生暇疵考虑在内,所能使用的最大偏压值还要再减小。使用薄栅极氧化层还会引起其它的问题,尤其是对I/O单元及静电保护电路。对某些核心电路,如微处理器,其体积不断地在减小,且其速度也比外围装置来得快。微处理过程中所需供应电压 ...
【技术保护点】
一种集成电路之静电保护电路,用以防止一内部电路受到静电袭击,且该内部电路经过一焊垫(pad)接收或输出信号,该静电保护电路包括: 一第一晶体管,其漏极连接至该焊垫; 一第二晶体管,漏极连接至该第一晶体管的源极,且源极与栅极相连并同时连接至一供应电压端; 一分压电路,连接于该焊垫与该供应电压端之间,并且与该第一晶体管的栅极连接而在该焊垫受静电袭击时,提供一偏压至该第一晶体管的栅极,使该第一晶体管导通。
【技术特征摘要】
1.一种集成电路之静电保护电路,用以防止一内部电路受到静电袭击,且该内部电路经过一焊垫(pad)接收或输出信号,该静电保护电路包括一第一晶体管,其漏极连接至该焊垫;一第二晶体管,漏极连接至该第一晶体管的源极,且源极与栅极相连并同时连接至一供应电压端;一分压电路,连接于该焊垫与该供应电压端之间,并且与该第一晶体管的栅极连接而在该焊垫受静电袭击时,提供一偏压至该第一晶体管的栅极,使该第一晶体管导通。2.一种集成电路静电保护电路,用以防止一内部电路受到静电袭击,且该内部电路经过一焊垫(pad)接收或输出信号,该静电保护电路包括一第一晶体管,其漏极连接至该焊垫;一第二晶体管,漏极连接至该第一晶体管源极,且源极与栅极相连并同时连接至一供应电压端;一分压电路,连接于该焊垫与该供应电压端之间,包括一...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈伟梵,
申请(专利权)人:华邦电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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