【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路设计的领域，尤其是指一种集成电路设计的双向技术系统。(2)
技术介绍
集成电路设计的双向技术系统是指集成电路的正向设计技术和逆向分析技术方法，又称为集成电路设计技术的双向系统。所谓集成电路正向设计技术是指从集成电路的功能要求和逻辑规范出发来设计一个集成电路芯片，其最终目标是得到一个能实现其既定功能的芯片版图。所谓集成电路逆向分析技术是指从集成电路的版图原始信息(版图源程序)出发来分析一个集成电路芯片的物理构造，其最终目的是得到该被分析芯片的正确逻辑结构。双向技术是把上述正向设计技术和逆向分析技术两方面的专利技术融会贯通，熔于一体，成为一个相互融合的统一的系统。在这个统一的系统内，既可进行逆向分析，又可从事正向设计。这类现有技术相关的专利有株式会社村田制作所(日本京都府)的“集成电路”专利(中国专利公开号1127434，申请号95116912.2)。上述现有技术仅涉及到振荡器和环行器的正向设计技术，尚未涉及逆向分析技术和双向技术。(3)
技术实现思路
本专利技术的目的是要提供一种在集成电路的设计中将正向设计技术和逆向分析技术融会贯通，熔于一体，成...
【技术保护点】
一种集成电路设计的双向技术系统，是集成电路设计中的逆向分析和正向设计相互融合的系统，其特征在于所述的双向技术系统包括：（一）逆向分析的步骤：（１）逆向分析的芯片版图原始信息输出的步骤：这是逆向分析的起始步骤，芯片版图原始信息 输出作为逆向分析版图识别和形成的输入，该步骤包括：（ａ）把待分析的集成电路版图用数字化仪将图形数据输入计算机，并进行必要的屏幕编辑，或是从用户提供的版图原程序出发，进行适当的编辑，（ｂ）把上述两种方式中任选一种的编辑结果形成版图数据文件； （２）逆向分析的版图识别和形成的步骤：版图识别和形成是由逆向分析中的芯片版图原始信...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路设计的双向技术系统，是集成电路设计中的逆向分析和正向设计相互融合的系统，其特征在于所述的双向技术系统包括(一)逆向分析的步骤(1)逆向分析的芯片版图原始信息输出的步骤这是逆向分析的起始步骤，芯片版图原始信息输出作为逆向分析版图识别和形成的输入，该步骤包括(a)把待分析的集成电路版图用数字化仪将图形数据输入计算机，并进行必要的屏幕编辑，或是从用户提供的版图原程序出发，进行适当的编辑，(b)把上述两种方式中任选一种的编辑结果形成版图数据文件；(2)逆向分析的版图识别和形成的步骤版图识别和形成是由逆向分析中的芯片版图原始信息、逆向分析中的版图规范、逆向技术中的测试诊断三者的输入形成版图的信息，所述的版图规范的输入来自于计算机中的数据库和测试诊断步骤，所述的版图识别和形成后，把这版图信息输入至逆向分析的版图/电路识别中；(3)逆向分析的版图/电路识别的步骤其输出为所提取的电路，该步骤包括(a)对优化的版图信息进行几何设计规则检查，(b)根据集成电路优化的版图信息，进行版图/电路原理图提取，(c)在版图/电路原理图提取的基础上，对于MOS集成电路，需要作拓扑结构的验证和检查，(d)根据电路原理图的信息，形成集成电路的晶体管分布图，(e)根据电路原理图的信息形成集成电路规范化的电路原理图；(4)逆向分析的电路/逻辑识别的步骤其输出为所提取的逻辑，该步骤包括(a)根据上一步骤中得到的集成电路规范化的电路原理图，形成集成电路的逻辑门分布图；(b)根据规范化的电路原理图，作电路/逻辑提取；(5)逆向分析的逻辑模拟的步骤逻辑模拟是逆向分析的终止步骤，至此，逆向系统已完成了从版图原始信息至集成电路逻辑结构描述的过程，该逻辑模拟既为所述的逆向分析的逻辑模拟，又为正向设计的逻辑模拟；(二)正向设计的步骤(1)正向设计技术中的芯片基本规范的步骤这是正向设计的起始步骤；(2)正向设计技术中的子系统结构的步骤上述正向设计芯片基本规范后，输出到正向设计子系统结构，本步骤是把芯片系统分成若干子系统结构，以于进行逻辑设计；(3)正向设计技术中的逻辑设计的步骤它的输入是上述待设计集成电路的子系统结构和数据库中有关逻辑结构的信息，其输出则是正向设计中的逻辑设计的结果，用以作为下述逻辑模拟和正向设计中的电路设计的依据；该步骤包括(a)所需求的集成电路芯片的逻辑描述，(b)对所需求的逻辑描述进行语法检查和编译，提供逻辑功能的描述语言，定义功能块，(c)对所需求的逻辑设计源程序进行编译，并提供出错信息表；(4)正向设计技术中的逻辑模拟的步骤逻辑模拟的输入为逻辑设...
【专利技术属性】
技术研发人员：林争辉，林涛，袁筱骏，顾建华，陈艳，
申请(专利权)人：上海芯华微电子有限公司，上海交通大学，同济大学，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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