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本发明提出一种集成电路设计的双向技术系统，是集成电路的逆向分析和正向设计相互融合的系统。在集成电路发展到目前的超大规模阶段，经常需要对市场上现成的芯片进行分析，需要一种集成电路分析仪，本发明的第一部分逆向分析技术就是解决这一问题。另一方面，...该专利属于上海芯华微电子有限公司;上海交通大学;同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯华微电子有限公司;上海交通大学;同济大学授权不得商用。