半导体电路设计验证设备制造技术

在本半导体电路设计验证设备中，其寄生器件恢复部分在输入的设计信息的基础上将寄生在连接构成半导体电路的多个有源器件的一个信号线上的寄生器件恢复；其时间常数计算部分连同由寄生器件恢复部分恢复的寄生器件一起计算每个有源器件和下一级有源器件之间的时间常数；其输出数据产生部分与半导体电路的设计信息的至少一个部分一起输出与所计算的时间常数有关的信息。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一个半导体电路设计验证设备，它用于当设计好一个电路时对所设计的半导体电路例如一个LSI(大规模集成电路)的正确性进行验证。附图说明图16是一个说明一个常规半导体电路设计验证设备的方框图。在该图中，参考号101代表逻辑电路图信息，它描述了一个要设计的LSI的逻辑电路。参考号102代表绘制的版图信息，它描述了一个要设计的LSI芯片的绘制的版图。参考号103代表一个关键部件选择部分，它用于为用户从逻辑电路图信息101和绘制的版图信息102中选择一个对用户来说是工作中的关键部件，并且该关键部件选择部分103将所选部件输出。参考号104代表一个用于电路模拟的输入数据产生部分；该输入数据产生部分104产生对关键部件选择部分103所选的关键部件进行电路模拟所必需的数据。参考号105代表一个用于电路模拟的输入数据保存部分；该输入数据保存部分105保存输入数据产生部分104产生的数据。参考号106代表一个电路模拟执行部分，它利用输入数据保存部分105中保存的数据执行对关键部件选择部分103所选的关键部件的电路模拟。参考号107代表一个模拟结果保存部分，用于存贮电路模拟执行部分106本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体电路设计验证设备，其特征包括：一个设计信息输入装置，用于输入一个半导体电路的设计信息，一个寄生器件恢复装置，用于在用上述设计信息输入装置输入的设计信息的基础上恢复寄生在连接构成上述半导体电路的多个有源器件的一个信号线上的一个寄生器件，一个时间常数计算装置，用于连同寄生在连接有源器件的信号线上并用上述寄生器件恢复装置恢复的寄生器件一起计算在上述多个有源器件中的每个有源器件与一个下一级有源器件之间的一个时间常数，以及一个时间常数信息输出装置，用于连同上述半导体电路的设计信息的至少一个部分输出与用上述时间常数计算装置计算的时间常数有关的信息。

【技术特征摘要】
JP 1995-12-12 323065/951.一种半导体电路设计验证设备，其特征包括一个设计信息输入装置，用于输入一个半导体电路的设计信息，一个寄生器件恢复装置，用于在用上述设计信息输入装置输入的设计信息的基础上恢复寄生在连接构成上述半导体电路的多个有源器件的一个信号线上的一个寄生器件，一个时间常数计算装置，用于连同寄生在连接有源器件的信号线上并用上述寄生器件恢复装置恢复的寄生器件一起计算在上述多个有源器件中的每个有源器件与一个下一级有源器件之间的一个时间常数，以及一个时间常数信息输出装置，用于连同上述半导体电路的设计信息的至少一个部分输出与用上述时间常数计算装置计算的时间常数有关的信息。2.权利要求1中所述的半导体电路设计验证设备，其中上述时间常数计算装置通过将每个有源器件和下一级有源器件及一个寄生器件的电阻元件和电容元件用一个合成的电阻和一个合成的电容的一个组合代替来计算时间常数。3.权利要求1中所述的半导体电路设计验证设备，它还包括一个存贮装置，该装置用来存贮一个规定的参考时间常数值，和一个比较装置，该装置用来比较一个用上述时间常数计算装置计算的时间常数和存贮在上述存贮装置中的规定的参考时间常数值，并且其中上述时间常数信息输出装置在用上述比较装置比较的一个结果的基础上输出与具有一个大于上述参考时间常数的值的一个时间常数有关的信息。4.权利要求1中所述的半导体电路设计验证设备，其中上述设计信息包括指明一个有源器件的工作状态的有...

【专利技术属性】
技术研发人员：中村旨生，山本博文，山崎晃稔，
申请(专利权)人：三菱电器半导体软件株式会社，三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]