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在本半导体电路设计验证设备中，其寄生器件恢复部分在输入的设计信息的基础上将寄生在连接构成半导体电路的多个有源器件的一个信号线上的寄生器件恢复；其时间常数计算部分连同由寄生器件恢复部分恢复的寄生器件一起计算每个有源器件和下一级有源器件之间的时...该专利属于三菱电器半导体软件株式会社;三菱电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三菱电器半导体软件株式会社;三菱电机株式会社授权不得商用。