集成电路实时检测的系统结构及其测试方法技术方案

本发明专利技术描述的是一个集成电路测试系统。该集成电路测试系统能够对待测集成电路设备（ＤＵＴ）进行测试。该集成电路测试系统包含一个目标系统的接口。该目标系统包含一个结构上功能上和ＤＵＴ一样的已知是好的集成电路（ＫＧＩＣ）。ＫＧＩＣ在目标系统上实现后可以用于目标系统的常规操作。目标系统运行诊断程序来检测ＫＧＩＣ，或者发送适当的指令促使ＫＧＩＣ为目标系统执行不同的功能。本发明专利技术设计的接口系统能够实时捕获从ＫＧＩＣ发出的或者向ＫＧＩＣ发送的信号。本发明专利技术的测试系统把ＫＧＩＣ的输入信号作为ＤＵＴ的激励信号输入ＤＵＴ。然后把ＫＧＩＣ产生的输出信号作为参考信号和相应的ＤＵＴ的响应信号进行比较，检测故障。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术主要涉及到集成电路(ICs)检测的系统结构和及其检测方法。尤其是，本专利技术涉及到利用一种新的测试技术进行高速实时检测，该测试技术利用不同的系统结构，因此，预先产生或者预先储存的测试激励源作为测试模式或者测试向量在测试时输入系统的要求也就可能被取消。随着集成电路的发展，集成电路的输入，输出，输入/输出(I/O)管脚越来越多，工作速度越来越快，集成电路的测试变得越来越复杂和昂贵。不得不开发复杂的模拟程序来模拟待测设备上的电路的高速特性。不得不为每个输入管脚产生多数个输入数据以及模拟其输出数据，然后作为‘测试模式信号’存储在内存中，也同样需要为每个输出管脚存储多数个输出模拟信号。必须控制这些测试模式信号在特定的时间以特定的顺序以很高的速度传输以及输入到每个管脚中。同时，必须收集，存储，处理每个输出管脚的输出信号，当然这些处理过程也必须以很高的速度来完成。完成这样的测试工作，需要大量的资源，包括大量的人力，测试设备的花费，以及昂贵的测试软件的开发费用。在以往的美国专利中揭示了许多不同的技术，来减小测试费用，或者提高集成电路的测试水平。在美国第4,523,312号专利中(19本文档来自技高网...

【技术保护点】
一个实时集成电路测试系统利用已知是正确的（ｋｎｏｗｎ－ｇｏｏｄ）ＩＣ（ＫＧＩＣ）进行ＤＵＴＩＣ测试，其特征在于其集成电路测试系统包含：一个包容上述已知是正确的（ｋｎｏｗｎ－ｇｏｏｄ）ＩＣ（ＫＧＩＣ）的目标系统接口，为上述ＫＧＩＣ产生 多数个目标系统输入信号，ＫＧＩＣ对应于上述的输入信号产生多数个已知是正确的（ｋｎｏｗｎ－ｇｏｏｄ）输出信号；一个输入信号传送器，向上述ＤＵＴＩＣ传送上述目标系统的输入信号，以产生多数个测试输出信号；以及一个输出信号处理器，用来接收上 述的已知是正确的（ｋｎｏｗｎ－ｇｏｏｄ）输出信号和上述的测试输出信号，并对之进行处理以判断测试结果。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：陆放，
申请(专利权)人：陆放，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]