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本发明描述的是一个集成电路测试系统。该集成电路测试系统能够对待测集成电路设备（ＤＵＴ）进行测试。该集成电路测试系统包含一个目标系统的接口。该目标系统包含一个结构上功能上和ＤＵＴ一样的已知是好的集成电路（ＫＧＩＣ）。ＫＧＩＣ在目标系统上实现后...
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