半导体集成电路制造技术

技术编号:9279127 阅读:218 留言:0更新日期:2013-10-25 00:21
本发明专利技术涉及半导体集成电路。在中心扩展的SSCG中,在上扩展和下扩展侧精确诊断操作状态,同时使诊断电路产生的噪声对SSCG所输出的时钟频率的影响最小化。产生以通过输入参考时钟频率乘以预定数字而获得的频率为中心的中心扩展调制时钟的SSCG被配置为包括相位比较器、VCO以及由分频器和分频比调制电路形成的调制电路。分频比调制电路向分频器提供在预定乘数以上和以下调制的分频比,并且输出被包括为扩展方向标识信号的量级关系。诊断电路包括对经调制时钟进行计数的计数器,并且基于扩展方向标识信号在上扩展或下扩展周期中执行计数操作。基于针对预定周期而计数的值,例如针对存在或不存在故障而对SSCG的操作状态进行诊断。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种半导体集成电路,包括时钟发生器和诊断电路,所述时钟发生器接收参考时钟的输入以便基于输入的所述参考时钟而产生经调制时钟;其中所述时钟发生器包括:相位比较器,所述相位比较器对所述参考时钟的相位与反馈时钟的相位进行比较;振荡器,所述振荡器接收所述经调制时钟的输入,所述经调制时钟的振荡频率基于来自所述相位比较器的输出而被控制,以及调制电路,所述调制电路接收所述经调制时钟的输入以便输出所述反馈时钟;其中所述调制电路包括分频器,以及向所述分频器提供分频比的分频比调制电路;其中所述分频器通过利用所述分频比对所述振荡器的输出进行分频来输出所述反馈时钟;其中所述分频比调制电路被馈送以乘法计数,并且具有两个周期中的至少一个,所述两个周期之一是其中所述分频比调制电路输出大于所述乘法计数的值作为所述分频比的周期,另一周期是其中所述分频比调制电路输出小于所述乘法计数的值作为所述分频比的周期,所述分频比调制电路还以扩展方向标识信号的形式输出所述分频比与所述乘法计数之间的量级关系,以及其中所述诊断电路包括对所述参考时钟进行计数的第一计数器,以及基于所述扩展方向标识信号对所述经调制时钟进行计数的第二计数器。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:多木良孝
申请(专利权)人:瑞萨电子株式会社
类型:发明
国别省市:

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