半导体设备和成像设备制造技术

本公开涉及一种半导体设备和成像设备，其中被设置在半导体设备中的可编程增益放大器包括全差分放大器，该全差分放大器被配置为将具有偏置电压的差分输入电压放大。第一校正电压和第二校正电压分别经由第一电阻元件和第二电阻元件而被输入到全差分放大器的非反相输入节点和反相输入节点。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及半导体设备和成像装置，并且适合被用于例如被设置有可编程增益放大器的模拟前端。

技术介绍

1、作为在成像装置等中使用的手抖动校正机构，已知一种根据检测到的手抖动量来使校正透镜或图像传感器偏移的方法。这种类型的手抖动校正机构包括被配置为检测校正透镜或图像传感器的位置的霍尔传感器和被配置为将霍尔传感器的输出放大的可编程增益放大器。此外，在可编程增益放大器后面设置有模数转换器(adc)。

2、上述手抖动校正机构中的问题之一例如是诸如霍尔传感器组装误差和霍尔元件本身的特性变化之类的误差因素。为了实现准确的手抖动校正，消除这些误差因素的校准电路是必不可少的。

3、公开了下面列出的技术。

4、[专利文献1]日本未审查专利申请公开号2007-129700

5、例如，在专利文献1的图22中公开的手抖动校正控制电路中，用于校准的校正电压被输入到构成可编程增益放大器的op放大器的非反相输入端子。校正电压由数模转换器(dac)生成。

技术实现思路

1、另外，为了实现准确的手抖本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体设备，包括第一可编程增益放大器，

2.根据权利要求1所述的半导体设备，

3.根据权利要求1所述的半导体设备，

4.根据权利要求1所述的半导体设备，

5.根据权利要求4所述的半导体设备，

6.根据权利要求1所述的半导体设备，

7.根据权利要求6所述的半导体设备，

8.根据权利要求1所述的半导体设备，还包括模数转换器，所述模数转换器被配置为将从所述非反相输出节点和所述反相输出节点输出的差分输出电压转换成数字值。

9.根据权利要求1所述的半导体设备，

10.根据权利要求1所...

【技术特征摘要】

1.一种半导体设备，包括第一可编程增益放大器，

2.根据权利要求1所述的半导体设备，

3.根据权利要求1所述的半导体设备，

4.根据权利要求1所述的半导体设备，

5.根据权利要求4所述的半导体设备，

6.根据权利要求1所述的半导体设备，

7.根据权利要求6所述的半导体设备，

8.根据权利要求1所述的半导体设备，...

【专利技术属性】
技术研发人员：斋藤航，森下玄，
申请(专利权)人：瑞萨电子株式会社，
类型：发明
国别省市：