一种用于LED芯片及器件的检测装置与方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于LED芯片及器件的检测装置及方法，所述装置包括蓝膜或器件基板装夹夹具，环状阵列测试电极，电源与电参数采集系统。环状阵列测试电极外形为滚筒状，具有多组正负测试探针，检测时，通过同步带轮带动本发明专利技术提出的检测装置，并使正负测试探针刚好接触待测LED芯片或器件正负电极，通过电源依次对正在接触基板的一列探针通入扫描电流，同时采集其电参数，完成后同步带轮带动装置滚动至相邻下一列探针，对下一列LED芯片或器件进行测试。本发明专利技术所提技术方法效率极高，相比传统检测方法检测效率可提高6-10倍，应用于LED产业会大大提高LED产品检测效率，减少设备损耗，提升产品成本竞争优势具有良好的产业化应用前景。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于LED芯片及器件的检测装置，其特征在于：包括方框形蓝膜或器件基板装夹夹具(1)、位于蓝膜或器件基板装夹夹具(1)下方的可转动或滚动的环状阵列测试电极辊(2)、电源与电参数采集系统(3)，所述环状阵列测试电极辊(2)包括以工程塑料或电木为材料的空心圆柱状基体(21)，该空心圆柱状基体(21)的侧面沿轴向及周向均匀设置有环状阵列通孔，每个环状阵列通孔内均向外延伸地设置有一根可弹性伸缩的金属测试电极，所述金属测试电极包括正极金属测试电极(22)和负极金属测试电极(23)，沿空心圆柱状基体(21)轴向设置的每一列环状阵列通孔均匀间隔设置，各个正极金属测试电极(22)和负极金属测试电极(23)同电源与电参数采集系统(3)电路连接，所述空心圆柱状基体(21)一端还设置有由步进电机驱动的同步带轮(24)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：余彬海，汤勇，丁鑫锐，李宇吉，朱本明，李宗涛，
申请(专利权)人：华南理工大学，
类型：发明
国别省市：