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磁控溅射法制备TiCoSb半导体薄膜制造技术

技术编号:9114341 阅读:145 留言:0更新日期:2013-09-05 03:32
本发明专利技术公开了磁控溅射法制备TiCoSb半导体薄膜,涉及无机化合物功能薄膜制备技术领域及磁控溅射技术领域。其特征在于是通过一种特殊设计的复合靶材,利用普通磁控溅射及后退火处理得到成分分布均匀的、符合化学计量比的多元素化合物TiCoSb薄膜。其主要工艺参数为:溅射功率20W,工作气压0.7Pa,溅射时间60-120min,快速退火时间1-5min,常规退火时间30-120min。本发明专利技术实现了TiCoSb材料的薄膜化,为对其热电和光电性能的进一步研究及对其在薄膜热电、光电器件领域的应用有相当积极的作用。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
磁控溅射法制备TiCoSb半导体薄膜,其特征在于不需要使用多靶材共溅射法,而是通过一种特殊设计的复合靶材,在普通磁控溅射仪得到成分分布均匀的符合化学计量比的多元素化合物薄膜。TiCoSb不易利用常规的粉末冶金法或真空熔炼法制备成可供磁控溅射使用的大直径化合物靶材,而多靶材共溅射法设备成本又较高。其工艺步骤依次为:1)特殊设计的Ti?Co?Sb复合靶材各组元构成的优化;2)利用优化后的复合靶在常温下溅射制备Ti?Co?Sb复合薄膜;3)在300?600?oC温度下对复合薄膜进行快速热退火处理或常规热处理,得到单相的多晶TiCoSb薄膜。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:秦娟孙纽一王国华张敏吴纯清史伟民
申请(专利权)人:上海大学
类型:发明
国别省市:

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