【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种氮化物半导体装置,特别涉及一种具有形成在有缘区域上的电极垫的氮化物半导体装置。
技术介绍
III-V族氮化物半导体(以下称其为氮化物半导体。)是为III族元素的镓(Ga)、铝(Al)及铟(In)等和为V族元素的氮(N)的化合物,形成通式为AlxGai_x_yInyN(在此,0彡1彡1、0彡7彡1且x+y ( I)的混晶。氮化物半导体的带隙较宽,其能带结构是直接跃迁型,因而该氮化物半导体应用于短波长光学元件中。因为氮化物半导体具有击穿电场较高且电子饱和速度较快的优点,所以正在进一步研究在电子器件中应用氮化物半导体。特别是下述异质结场效应晶体管(Hetero-junction Field EffectTransistor :以下称其为HFET)作为高输出功率型器件和高频器件正在被积极研发,该异质结场效应晶体管利用·出现于依次外延生长在半绝缘性衬底上的AlxGahN层(在此,O < X彡I)和GaN层之间的界面上的二维电子气(2Dimensional Electron Gas :以下称其为2DEG)。在HFET中,不但从载流子供给层即AlGaN ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:海原一裕,石田秀俊,上田哲三,
申请(专利权)人:松下电器产业株式会社,
类型:
国别省市:
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