ＩＣ芯片测试座制造技术

本实用新型专利技术涉及电子产品测试用具技术领域，特指ＩＣ芯片测试座，其包括上盖、基座、底座，上盖上开设有容置区，容置区安装有旋转板，旋转板与上盖之间设有压板，上盖与底座通过销钉铰接，底座内设有基座，基座内依次设有ＩＣ芯片固定板、探针定位中板、探针定位板，底座上设有与基座卡接的卡钩，其设计科学、维护方便，同时大大提高了测试效率。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子产品测试用具
，特指IC芯片测试座。技术背景 近年来集成电路发展迅速，随之而设计的集成电路测试/烧录也日趋成熟，但现 国内国际的IC芯片测试座，结构设计上存在问题，如有盖的测试座，主要问题表现如IC芯 片测试/烧录时，IC芯片与测试座接触不良；由于IC芯片规格不同，测试座不能对不同规 格的IC芯片进行测试/烧录，具有一定的局限性；在维护上由于其结构复杂，导致维护不 便
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足，而提供具有弹性接触，可更换与维护 测试针的IC芯片测试座，其设计科学、维护方便，同时大大提高了测试效率。为实现上述目的，本技术采用如下技术方案其包括上盖、基座、底座，上盖上 开设有容置区，容置区安装有旋转板，旋转板与上盖之间设有压板，上盖与底座通过销钉铰接，底座内设有基座，基座内依次设有ic芯片固定板、探针定位中板、探针定位板，底座上设有与基座卡接的卡钩。 所述的探针定位板设有探针； 所述的基座、探针定位板之间设有弹簧； 所述的IC芯片固定板、探针定位中板、探针定位板通过螺钉与基座固定，IC芯片固定板、探针定位中板、探针定位板上开设有规则的探针孔； 所本文档来自技高网...

【技术保护点】
ＩＣ芯片测试座，其包括上盖（１）、基座（２）、底座（３），其特征在于：上盖（１）上开设有容置区（１１），容置区（１１）安装有旋转板（４），旋转板（４）与上盖（１）之间设有压板（５），上盖（１）与底座（３）通过销钉（１００）铰接，底座（３）内设有基座（２），基座（２）内依次设有ＩＣ芯片固定板（６）、探针定位中板（７）、探针定位板（８），底座（３）上设有与基座（２）卡接的卡钩（９）。

【技术特征摘要】
IC芯片测试座，其包括上盖(1)、基座(2)、底座(3)，其特征在于上盖(1)上开设有容置区(11)，容置区(11)安装有旋转板(4)，旋转板(4)与上盖(1)之间设有压板(5)，上盖(1)与底座(3)通过销钉(100)铰接，底座(3)内设有基座(2)，基座(2)内依次设有IC芯片固定板(6)、探针定位中板(7)、探针定位板(8)，底座(3)上设有与基座(2)卡接的卡钩(9)。2. 根据权利要求1所述的IC芯片测试座，其特征在于所述的探针定位板(8)设有探 针(81)。3. 根据权利要求1所述的IC芯片测试座，其特征在于所述的基座(2)、探针定位板 (8)之间设有弹簧(101)。4. 根据权利要求1所述的IC芯片测试座，其特征在于所述的IC芯片固定板(6)、探 针定位中板(7)、探针定位板(8)通过螺钉与基座(2)固定，I...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐金海，
申请(专利权)人：东莞市珍世好电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：44[中国|广东]