【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于控制与测试
，具体涉及。
技术介绍
随着智能电能表的推广与普及，时钟的准确度不仅在分段计费、分时计费方面有着重要的作用，同时为智能电能表运行工况分析、需求侧管理提供重要依据。智能电能表的计时误差需经过检测后才可投入使用。时钟芯片作为智能电能表计时的依据，其质量决定了智能电能表整机计时的准确性，只有经过全性能检测合格的时钟芯片才可应用于智能电能表中。时钟芯片本质是通过对晶体振荡器产生的震荡频率进行分频然后累加得到年月日时分秒等时间信息，并通过计算机通讯口送入处理器处理。随着智能电能表对时钟芯片的要求越来越高，需要根据时钟芯片在电能表中应用的实际工况，制定时钟芯片的全性能检测方法，包括基本参数试验、环境参数试验，以检验其工艺设计方法。目前对于智能电能表的计时误差仅仅检测其日计时误差，没有针对时钟芯片采取专门的检测设备及检测方法，导致在现场实际应用中出现智能电能表的计时误差。因此有必要提供一种电能表用时钟芯片全性能检测系统及其方法，确保时钟芯片的可靠性，为电能表计时准确度提供保障。
技术实现思路
为了克服上述现有技术的不足，本专利技术提供，可对时钟芯片...
【技术保护点】
一种电能表用时钟芯片全性能测试系统，其特征在于：所述系统包括测试模块、日计时误差测试单元和温度试验箱；置于测试模块中的时钟芯片输出秒脉冲信号，所述测试模块将秒脉冲信号输入日计时误差测试单元，通过调节温度试验箱的温度，测试模块和日计时误差测试单元测试不同温度下的晶体振荡输出频率偏差和日计时误差。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郜波，刘鹰，薛阳，张蓬鹤，
申请(专利权)人：中国电力科学研究院，国家电网公司，
类型：发明
国别省市：
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