本发明专利技术提供一种电能表用时钟芯片全性能测试系统及其方法，系统包括测试模块、日计时误差测试仪和温度试验箱；置于测试模块中的时钟芯片输出秒脉冲信号，所述测试模块将秒脉冲信号输入日计时误差测试仪，通过调节温度试验箱的温度，测试模块和日计时误差测试仪测试不同温度下的晶体振荡输出频率偏差和日计时误差。本发明专利技术可对时钟芯片进行测试，同时可对采用该时钟芯片的电能表整机进行测试，采用芯片测试座形式装入时钟芯片，避免了在测试中的芯片焊接，提高测试效率和测试成本；具有扩展性，可针对不同的芯片外接相应的测试板即可进行测试；可对时钟芯片可靠性进行评估，实现时钟芯片的寿命预计。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于控制与测试
，具体涉及。
技术介绍
随着智能电能表的推广与普及，时钟的准确度不仅在分段计费、分时计费方面有着重要的作用，同时为智能电能表运行工况分析、需求侧管理提供重要依据。智能电能表的计时误差需经过检测后才可投入使用。时钟芯片作为智能电能表计时的依据，其质量决定了智能电能表整机计时的准确性，只有经过全性能检测合格的时钟芯片才可应用于智能电能表中。时钟芯片本质是通过对晶体振荡器产生的震荡频率进行分频然后累加得到年月日时分秒等时间信息，并通过计算机通讯口送入处理器处理。随着智能电能表对时钟芯片的要求越来越高，需要根据时钟芯片在电能表中应用的实际工况，制定时钟芯片的全性能检测方法，包括基本参数试验、环境参数试验，以检验其工艺设计方法。目前对于智能电能表的计时误差仅仅检测其日计时误差，没有针对时钟芯片采取专门的检测设备及检测方法，导致在现场实际应用中出现智能电能表的计时误差。因此有必要提供一种电能表用时钟芯片全性能检测系统及其方法，确保时钟芯片的可靠性，为电能表计时准确度提供保障。
技术实现思路
为了克服上述现有技术的不足，本专利技术提供，可对时钟芯片进行测试，同时可对采用该时钟芯片的电能表整机进行测试，采用芯片测试座形式装入时钟芯片，避免了在测试中的芯片焊接，提高测试效率和测试成本； 可以完成时钟芯片的基本性能试验、芯片可靠性试验、电能表计时可靠性试验，试验项目全面，操作简单；具有扩展性，可针对不同的芯片外接相应的测试板即可进行测试；可对时钟芯片可靠性进行评估，实现时钟芯片的寿命预计。为了实现上述专利技术目的，本专利技术采取如下技术方案提供一种电能表用时钟芯片全性能测试系统，所述系统包括测试模块、日计时误差测试单元和温度试验箱；置于测试模块中的时钟芯片输出秒脉冲信号，所述测试模块将秒脉冲信号输入日计时误差测试单元，通过调节温度试验箱的温度，测试模块和日计时误差测试单元测试不同温度下的晶体振荡输出频率偏差和日计时误差。所述测试模块包括芯片测试座、芯片晶体振荡频率输出端子、电流检测单元、芯片功耗测试输出端子、频率测试单元、电能表集成模块、芯片外围电路和可调直流电压源。所述时钟芯片置于所述芯片测试座中，芯片晶体振荡频率输出端子连接频率测试单元，电流检测单元连接芯片功耗测试输出端子，可调直流电压源为所述芯片外围电路和电能表集成模块供电。所述电流检测单元包括数字微安表，所述电能表集成模块包括测试底座和电能表。所述系统对时钟芯片进行输出频率测试、芯片功耗测试、日计时误差测试、温度频差测试、温度日计时误差测试和温度功耗测试。提供一种电能表用时钟芯片全性能测试方法，所述方法包括以下步骤步骤I :测试时钟芯片的晶体振荡输出频率和晶体振荡温度频差；步骤2 :测试时钟芯片功耗和时钟芯片温度功耗；步骤3 :测试时钟芯片的日计时误差和温度日计时误差；步骤4 :测试时钟芯片的晶体振荡温度输出频率。所述步骤I包括以下步骤步骤1-1 :将时钟芯片置于所述芯片测试座中，并将探头置于所述频率测试单元中,测试时钟芯片的晶体振荡输出频率；步骤1-2 :将时钟芯片置于所述芯片测试座中，并将芯片测试座置于温度试验箱内，设置不同的温度点，按照时钟芯片的极限最高工作温度开始测试，选择不同时间间隔设置测试点，直至温度为时钟芯片的极限最低工作温度，每个测试点时间停留设定时间，测试时钟芯片晶体振荡温度频差。所述步骤2包括以下步骤步骤2-1 :将时钟芯片置于所述电能表中，通过所述数字微安表测试其回路电流， 模拟电能表运行不同工况，测试电能表运行不同工况下的时钟芯片功耗；步骤2-2 :将时钟芯片置于所述芯片测试座中，并将芯片测试座置于温度试验箱内，设置不同的温度点，按照时钟芯片的极限最高工作温度开始测试，选择不同时间间隔设置测试点，直至温度为时钟芯片的极限最低工作温度，每个测试点时间停留设定时间，测试时钟芯片温度功耗。所述步骤3包括以下步骤步骤3-1 :将时钟芯片置于所述电能表中，并将电能表秒输出的脉冲接入日计时误差测试单元中，测试时钟芯片的日计时误差；步骤3-2 :将时钟芯片置于所述芯片测试座中，并将芯片测试座置于温度试验箱内，设置不同的温度点，按照时钟芯片的极限最高工作温度开始测试，选择不同时间间隔设置测试点，直至温度为时钟芯片的极限最低工作温度，每个测试点时间停留设定时间，测试时钟芯片的温度日计时误差。所述步骤4包括以下步骤步骤4-1 :将时钟芯片置于温度试验箱内，设置温度为其最高存储温度，根据时钟芯片具体要求设置存储时间，取出后常温下静置，测试时钟芯片的晶体振荡输出频率；步骤4-2 :将时钟芯片置于温度试验箱内，设置温度为其最低存储温度，根据时钟芯片具体要求设置存储时间，取出后常温下静置，测试时钟芯片的晶体振荡温度输出频率。与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于(I)本专利技术可对时钟芯片进行测试，同时可对采用该时钟芯片的电能表整机进行测试；(2)采用芯片测试座形式装入时钟芯片，避免了在测试中的芯片焊接，提高测试效率和测试成本；(3)可以完成时钟芯片的基本性能试验、芯片可靠性试验、电能表计时可靠性试验，试验项目全面，操作简单；(4)采用模块化设计，针对不同的测试要求采用不同的测试模块，且具有扩展性， 可针对不同的芯片外接相应的测试板即可进行测试；(5)可对时钟芯片可靠性进行评估，实现时钟芯片的寿命预计。附图说明图I是本专利技术实施例中电能表用时钟芯片全性能测试系统的结构示意其中，I-芯片晶体振荡频率输出端子，2-电流检测单元，3-芯片测试座，4-芯片功耗测试输出端子，5-芯片外围电路，6-频率测试单元，7-温度控制面板，8-电能表集成模块，9-可调直流电压源，10-日计时误差测试单元，11-温度试验箱。具体实施方式下面结合附图对本专利技术作进一步详细说明。如图I，提供一种电能表用时钟芯片全性能测试系统，所述系统包括测试模块、日计时误差测试单元10和温度控制箱11 ;置于测试模块中的时钟芯片输出秒脉冲信号，所述测试模块将秒脉冲信号输入日计时误差测试单元10，通过调节温度控制箱11的温度，测试模块和日计时误差测试单元10测试不同温度下的晶体振荡输出频率偏差和日计时误差。所述温度试验箱11包括温度控制面板7、观测窗、温度传感器、鼓风机、加热器、温度调节器。所述测试模块包括芯片测试座3、芯片晶体振荡频率输出端子I、电流检测单元2、 芯片功耗测试输出端子4、频率测试单元6、电能表集成模块8、芯片外围电路5和可调直流电压源9。所述时钟芯片置于所述芯片测试座3中，芯片晶体振荡频率输出端子I连接频率测试单元6，电流检测单元2连接芯片功耗测试输出端子4，可调直流电压源9为所述芯片外围电路5和电能表集成模块8供电。所述电流检测单元2包括数字微安表，所述电能表集成模块8包括测试底座和电能表。所述系统对时钟芯片进行输出频率测试、芯片功耗测试、日计时误差测试、温度频差测试、温度日计时误差测试和温度功耗测试。提供一种电能表用时钟芯片全性能测试方法，所述方法包括以下步骤步骤I :测试时钟芯片的晶体振荡输出频率和晶体振荡温度频差；步骤2 :测试时钟芯片功耗和时钟芯片温度功耗；步骤3 :测试时钟芯片的日计时误差和温度日计时误差；步骤4 :测试时钟芯片的晶体振荡温度输出频率。所述步骤I包本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电能表用时钟芯片全性能测试系统，其特征在于：所述系统包括测试模块、日计时误差测试单元和温度试验箱；置于测试模块中的时钟芯片输出秒脉冲信号，所述测试模块将秒脉冲信号输入日计时误差测试单元，通过调节温度试验箱的温度，测试模块和日计时误差测试单元测试不同温度下的晶体振荡输出频率偏差和日计时误差。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郜波，刘鹰，薛阳，张蓬鹤，
申请(专利权)人：中国电力科学研究院，国家电网公司，
类型：发明
国别省市：
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