芯片测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片测试方法及装置。其中，该芯片测试装置包括：测试设备；芯片测试电路板；输入接口，设置在芯片测试电路板上，与测试设备相连接，用于在测试设备和芯片测试电路板之间进行数据传输；控制器，设置在芯片测试电路板上，与待测芯片和输入接口均相连接，控制器用于获取输入接口处的状态指令，并根据状态指令确定对应的测试向量；控制器还用于发送测试向量对应的工作模式至待测芯片，以使待测芯片运行工作模式；控制器还用于获取待测芯片运行工作模式后的工作状态，并根据工作状态确定待测芯片的检测结果。本发明专利技术解决了现有技术中，芯片测试装置的兼容性较差的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试领域，具体而言，涉及一种芯片测试方法及装置。
技术介绍
参见图1，现有技术中的芯片测试装置基本都是通过计算机的控制来完成芯片的测试，上述芯片测试装置由三部分组成，分别是计算机、测试设备以及芯片测试电路板。具体的测试过程为：按照待测芯片的功能，把所需的测试向量在计算机中进行编译，转换的程序驱动测试设备的信号针输出需要的信号，进而使芯片测试电路板运行。上述芯片测试装置所对应的测试方式有如下缺点：1、调试困难。芯片的实际应用环境和芯片的测试环境有很大的差异，从而导致一系列的调试困难，例如测试系统搭建初期难以调试、需要定位测试向量等问题；2、脱离测试系统以后难以独立使用；3、维护难度高；4、兼容性差，针对不同的待测芯片，需要进行多次定位测试向量等重复性劳动。针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种芯片测试方法及装置，以至少解决现有技术中，芯片测试装置的兼容性较差的技术问题。根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种芯片测试装置，包括：测试设备；芯片测试电路板；输入接口，设置在所述芯片测试电路板上，与所述测试设备相连接，用于在所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片测试装置，其特征在于，包括：测试设备；芯片测试电路板；输入接口，设置在所述芯片测试电路板上，与所述测试设备相连接，用于在所述测试设备和所述芯片测试电路板之间进行数据传输；控制器，设置在所述芯片测试电路板上，与待测芯片和所述输入接口均相连接，所述控制器用于获取所述输入接口处的状态指令，并根据所述状态指令确定对应的测试向量；所述控制器还用于发送所述测试向量对应的工作模式至所述待测芯片，以使所述待测芯片运行所述工作模式；所述控制器还用于获取所述待测芯片运行所述工作模式后的工作状态，并根据所述工作状态确定所述待测芯片的检测结果。

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：测试设备；芯片测试电路板；输入接口，设置在所述芯片测试电路板上，与所述测试设备相连接，用于在所述测试设备和所述芯片测试电路板之间进行数据传输；控制器，设置在所述芯片测试电路板上，与待测芯片和所述输入接口均相连接，所述控制器用于获取所述输入接口处的状态指令，并根据所述状态指令确定对应的测试向量；所述控制器还用于发送所述测试向量对应的工作模式至所述待测芯片，以使所述待测芯片运行所述工作模式；所述控制器还用于获取所述待测芯片运行所述工作模式后的工作状态，并根据所述工作状态确定所述待测芯片的检测结果。2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括：现场可编程门阵列，设置在所述芯片测试电路板上，与所述控制器相连接，其中，所述控制器还用于通过所述现场可编程门阵列输出所述工作模式至所述待测芯片。3.根据权利要求2所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括：继电器，设置在所述芯片测试电路板上，其中，所述控制器还用于根据所述测试向量控制所述继电器吸合或者断开。4.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括：输出接口，设置在所述芯片测试电路板上，与所述控制器和所述测试设备均相连接，用于向所述测试设备输出所述检测结果。5.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括：上位机，与所述测试设备相连接，用于显示所述测试设备发送的所述检测结果。6.一种芯片测试方法，其特征在于，通过权利要求1至5中任一项所述的芯片测试装置执行所述芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭春成，郑又诚，彭嘉庆，
申请(专利权)人：硅谷数模半导体北京有限公司，硅谷数模国际有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11