交流涌入电流测试器及交流涌入电流测试方法技术

一种交流涌入电流测试器及交流涌入电流测试方法，交流涌入电流测试器电连接于交流电源及电源供应单元。交流涌入电流测试器包含微处理单元、检测单元、切换单元、自耦变压器及开关元件。检测单元电连接于交流电源及微处理单元；切换单元包含共同接点、第一及第二接点，共同接点电连接于交流电源。自耦变压器包含第一绕组、第二绕组及第三绕组，第一绕组的一端点电连接于交流电源，另一端点电连接于第二绕组及第一接点，第三绕组的一端电连接于第二端点，另一端电连接于第二绕组。开关元件电连接于电源供应单元、微处理单元、第二及第三绕组。本发明专利技术更提供一种交流涌入电流测试方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电子测试器，且特别涉及一种交流涌入电流测试器。
技术介绍
在电源供应器启动的瞬间，涌入电源供应器的电流称为涌入电流。为保护电源供应器免于涌入电流的瞬间最大值导致电源供应器内部的电子元件受损，或使得电源供应器提供的电源产生压降，而影响连接于同一电源的其他装置或电路，可先通过涌入电源测试器测试电源供应器的最大涌入电流。现有的涌入电流测试器常因交流电源供应器的容量不足，而造成流进待测电源供应器的涌入电流偏低，而造成了测试结果与实际情况间具有极大差异。虽然使用大容量的交流电源供应器，可以产生与实际情况接近的涌入电流，然却使得测试的成本大幅的提升。若直接使用一般交流电源，虽然可以产生与实际情况接近的涌入电流，但却存在很难准确地控制在电压峰值时间点产生输出电压的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于解决无法准确控制在电压峰值时间点产生输出电压的缺点。依据本专利技术提供一种交流涌入电流测试器，交流涌入电流测试器设置于交流电源及电源供应单元之间，并与交流电源及电源供应单元形成电性连接。交流涌入电流测试器包含微处理单元、检测单元、切换单元、自耦变压器及开关元件。检测单元电连接于交流电源及微处理单元。切换单元包含共同接点、第一接点及第二接点，共同接点电连接于交流电源。自耦变压器包含第一绕组、第二绕组及第三绕组，第一绕组的一端点电连接于交流电源，第一绕组的另一端点电连接于第二绕组及第一接点，第三绕组的一端电连接于第二端点，另一端电连接于第二绕组。开关元件电连接于电源供应单元、微处理单元、第二绕组及第三绕组。检测单元检测交流电源的交流电压信号的电压准位，并输出一具有电压零交越点的待测电压信号予微处理单元，微处理单元检测待测电压信号的周期，并于待测电压信号的次一周期的特定时点触发开关元件，使交流电压信号传递至电源供应单元。本专利技术另提供一种交流涌入电流测试方法，用以测试电源供应单元的交流涌入电流。交流涌入电流测试方法包含如下步骤:(a)检测交流电压信号的电压准位；(b)调整交流电压信号的电压准位使成为待测电压信号，待测电压信号由高逻辑准位信号及低逻辑准位信号组合；(c)计算高逻辑准位信号的全周期；(d)于次一待侧电压信号的高逻辑准位信号的全周期的特定时点输出交流电压信号至电源供应单元。本专利技术的交流涌入电流测试器通过切换单元切换自耦变压器，产生多组不同准位的电压输出以符合测试电压值，可以有效地解决交流电源电压不符需求的问题，以及利用微处理单元控制交流电源输出时机，解决无法准确控制在电压峰值时间点产生输出电压的缺点。同时还克服了传统交流电源供应器在测试时，因其容量不足，造成涌入电流偏低，或需要使用很大容量的交流电源供应器，方能产生与实际情况相符的涌入电流的缺点。以下结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述，但不作为对本专利技术的限定。附图说明图1绘示本专利技术的一种交流涌入电流测试器的电路图；图2绘示本专利技术的一种检测单元的电路图；图3绘示交流电压信号及待侧电压信号的波形图；以及图4绘示本专利技术的电压信号及触发信号的时序图。其中，附图标记1交流涌入电流测试器10微处理单元12检测单元120比较器1200反向输入端1202非反向输入端1204输出端122隔离变压器1220初级绕组1222次级绕组124第一电阻器126第二电阻器14切换单元16自耦变压器18开关元件20控制单元22放电单元24电压感测单元26示波器3交流电源5电源供应单元N1第一绕组的匝数N2第二绕组的匝数N3第三绕组的匝数P0共同接点P1第一接点P2第二接点Vac交流电压信号W1第一绕组W2第二绕组W3第三绕组具体实施方式下面结合附图对本专利技术的结构原理和工作原理作具体的描述：本专利技术提供一种交流涌入电流测试器，其可将交流电源呈弦波变化的交流电压信号调整成符合测试需求的待测电压信号，并藉由检测交流电压信号的零交越点及周期，于交流电压信号的峰值处启动开关元件以输出峰值电压，进行交流涌入电流测试。藉此，可以解决传统交流电源供应器在测试时，因其容量不足，造成涌入电流偏低，或需要使用很大容量的交流电源供应器，方能产生与实际情况相符的涌入电流的缺点。此外，本专利技术的交流涌入电流测试器通过切换单元切换自耦变压器，产生多组不同准位的电压输出以符合测试电压值，可以有效地解决交流电源电压不符需求的问题，以及利用微处理单元控制交流电源输出时机，解决无法准确控制在电压峰值时间点产生输出电压的缺点。以下提出具体实施方式并配合附图予以详细说明。请参照图1，其绘示依照本专利技术的交流涌入电流测试器的电路方框图。由图1可知，交流涌入电流测试器1设置于交流电源3及电源供应单元5之间，并与交流电源3及电源供应单元5形成电性连接。交流电源3包含呈弦波变化的交流电压信号Vac(如图3所示)。交流涌电流测试器1包含微处理单元10、检测单元12、切换单元14、自耦变压器16、开关元件18、控制单元20、放电单元22、电压感测单元24及示波器26。检测单元12电连接于交流电源3及微处理单元10，检测单元12用以将交流电源3呈弦波变化的交流电压信号Vac调整成符合需求的待侧电压信号Vz(如图3所示)，并传递至微处理单元10。请参照图2，其绘示依照本专利技术的检测单元的电路图。检测单元12包含比较器120、隔离变压器122、第一电阻器124及第二电阻器126。比较器120包含反向输入端1200、非反向输入端1202及输出端1204，反向输出端1200通过第一电阻器124电连接至地端，非反向输入端1202电连接于第二电阻器126，输出端1204电连接于微处理单元10。隔离变压器122包含初级绕组1220及次级绕组1222，初级绕组1220接收交流电压信号Vac，次级绕组1222的其中一端电连接于第二电阻器126，另一端电连接于第一电阻器124及地端。切换单元14电连接于交流电源3，由图1可知，切换单元14为单刀双切(SinglePoleDoubleThrow)继电器，其包含共同接点P0、第一接点P1、第二接点P2及切换端SEL。共同接点P0电连接于交流电源3。自耦变压器16包含多个绕组，由图1可知，自耦变压器16由下而上依序包含第一绕组W1、第二绕组W2及第三绕组W3。第一绕组W1的一端点电连接于交流电源3，另一端点电连接于第二绕组W2及切换单元14的第一接点P1。第三绕组W3的一端点电连接于第二绕组W2及开关元件18，另一端点电连接于切换单元14的第二端点P2。当第一接点P1与共同接点P0接触时，交流电源3经第一绕组W1传递至电源供应单元5；当第二接点P2与共同接点P0接触时，交流电源3经第一绕组W1、第二绕组W2及第三绕组W3传递至电源供应单元5；换言之，就由切换单元14可改变传递至电源供应单元5的电力的电压准位，在此定义经过自耦变压器16转换后的交流电压信号Vac为交流转换信号。此外，当输入电压为VI，低输出电压为VL，高输出电压为VH，低输出电压与输入电压的比值为a，高输出电压与输入电压的比值为b，第一绕组W1的匝数为N1，第二绕组W2的匝数为N2，第三绕组W3的匝数为N3，其满足下列条件:a＝VL/VI；b＝VH/VI；N1/N2＝1/(b-1)；以及N1/N3＝1/本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种交流涌入电流测试器，设置于一交流电源及一电源供应单元之间，并与该交流电源及该电源供应单元形成电性连接，其特征在于，该交流涌入电流测试器包含：一微处理单元；一检测单元，电连接于该交流电源及该微处理单元；一切换单元，包含一共同接点、一第一接点及一第二接点，该共同接点电连接于该交流电源；一自耦变压器，包含一第一绕组、一第二绕组及一第三绕组，该第一绕组的一端点电连接于该交流电源，该第一绕组的另一端点电连接于该第二绕组及该第一接点，该第三绕组的一端电连接于该第二端点，另一端电连接于该第二绕组；及一开关元件，电连接于该电源供应单元、该微处理单元、该第二绕组及该第三绕组，其中，该检测单元检测该交流电源的一交流电压信号的电压准位，并输出一具有电压零交越点的待测电压信号予该微处理单元，该微处理单元检测该待测电压信号的周期，并于次一待测电压信号的周期的特定时点触发该开关元件，使该交流电压信号传递至该电源供应单元。

【技术特征摘要】
1.一种交流涌入电流测试器，设置于一交流电源及一电源供应单元之间，并与该交流电源及该电源供应单元形成电性连接，其特征在于，该交流涌入电流测试器包含：一微处理单元；一检测单元，电连接于该交流电源及该微处理单元；一切换单元，包含一共同接点、一第一接点及一第二接点，该共同接点电连接于该交流电源；一自耦变压器，包含一第一绕组、一第二绕组及一第三绕组，该第一绕组的一端点电连接于该交流电源，该第一绕组的另一端点电连接于该第二绕组及该第一接点，该第三绕组的一端电连接于该第二端点，另一端电连接于该第二绕组；及一开关元件，电连接于该电源供应单元、该微处理单元、该第二绕组及该第三绕组，其中，该检测单元检测该交流电源的一交流电压信号的电压准位，并输出一具有电压零交越点的待测电压信号予该微处理单元，该微处理单元检测该待测电压信号的周期，并于次一待测电压信号的周期的特定时点触发该开关元件，使该交流电压信号传递至该电源供应单元。2.根据权利要求1所述的交流用入电流测试器，其特征在于，该特定时点为该待测电压信号对应该交流电压信号正半周的半周期点。3.根据权利要求1所述的交流用入电流测试器，其特征在于，输入电压为VI，低输出电压为VL，高输出电压为VH，低输出电压与输入电压的比值为a，高输出电压与输入电压的比值为b，该第一绕组的匝数为N1，该第二绕组的匝数为N2，该第三绕组的匝数为N3，其满足下列条件:a＝VL/VI；b＝VH/VI；N1/N2＝1/(b-1)；以及N1/N3＝1/b(1-a)。4.根据权利要求1所述的交流涌入电流测试器，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄文楠，林明赞，陈庆国，李淑惠，游智名，游欣璋，谢昌利，
申请(专利权)人：群光电能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71