温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种芯片测试方法及装置。其中，该芯片测试装置包括：测试设备；芯片测试电路板；输入接口，设置在芯片测试电路板上，与测试设备相连接，用于在测试设备和芯片测试电路板之间进行数据传输；控制器，设置在芯片测试电路板上，与待测芯片和输入接口...该专利属于硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司授权不得商用。