一种测试方法和芯片技术

本发明专利技术实施例提供了一种测试方法和芯片，其中的测试方法具体包括：通过芯片的固定电压接口向芯片输入电压；通过芯片的数据和指令接口向芯片输入控制指令，并在控制指令输入完成后，停止向芯片输入电压；在向芯片输入控制指令之后，通过数据和指令接口向芯片输入标识指令；在向芯片输入标识指令之后，通过数据和指令接口向芯片输入比特形式的数据内容；其中，数据内容包括如下类型中的至少一种：指令类型、地址类型及数据类型；在向芯片输入比特形式的数据内容之后，根据标识指令识别数据内容的类型；根据数据内容及识别得到的数据内容的类型对芯片进行测试，得到测试结果。本发明专利技术实施例能够提高测试的效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子
，特别是涉及一种测试方法和一种芯片。
技术介绍
随着便携式电子产品市场的快速增长，应用在这些电子产品中的芯片也随着有了迅猛发展，而测试是决定芯片能否量产的重要因素。现有开放式NAND闪存接口(OpenNANDFlashInterface，ONFI)分为x8和x16两种数据接口类型，其中，x8数据接口类型的ONFI有8个输入输出(input/output，I/O)接口，x16数据接口类型的NANDFLASH有16个I/O接口。以x8数据接口类型的ONFI为例，现有的测试方法数据以字节(byte)形式通过I/O接口输入，所使用的测试接口有：片选PAD_CEB、读时钟输入端PAD_REB、写时钟输入端PAD_WEB、地址锁存使能PAD_ALE、指令锁存使能PAD_CLE、写保护使能PAD_WPB、I/O接口PAD_I/O<7:0>、VDD及VSS共16个接口。x8数据接口类型的ONFI用上述测试方法进行晶元测试时，每个芯片需要16个探针，同理，x16数据接口类型的ONFI则需要更多的探针，而测试仪的探针数是有限的，因此该测试方法每次测试的芯片的数量有限，这严重影响了测试效率。
技术实现思路
本专利技术实施例所要解决的技术问题是提供一种测试方法，以在进行晶元测试时能够提高测试的效率。相应的，本专利技术实施例还提供了一种芯片，用以保证上述方法的实现及应用。为了解决上述问题，本专利技术公开了一种测试方法，包括：通过芯片的固定电压接口向所述芯片输入电压；通过所述芯片的数据和指令接口向所述芯片输入控制指令，并在所述控制指令输入完成后，停止向所述芯片输入所述电压；在向所述芯片输入控制指令之后，通过所述数据和指令接口向所述芯片输入标识指令；在向所述芯片输入标识指令之后，通过所述数据和指令接口向所述芯片输入比特形式的数据内容；其中，所述数据内容包括如下类型中的至少一种：指令类型、地址类型及数据类型；在向所述芯片输入比特形式的数据内容之后，根据所述标识指令识别所述数据内容的类型；根据所述数据内容及识别得到的所述数据内容的类型对所述芯片进行测试，得到测试结果。优选的，所述标识指令包括如下指令中的至少一种：第一标识指令、第二标识指令及第三标识指令；所述第一标识指令用于标识所述数据内容为指令类型，所述第二标识指令用于标识所述数据内容为地址类型，所述第三标识指令用于标识所述数据内容为数据类型；所述根据所述标识指令识别所述数据内容的类型的步骤包括：在所述标识指令为所述第一标识指令时，识别数据内容的类型为指令类型；和/或在所述标识指令为所述第二标识指令时，识别数据内容的类型为地址类型；和/或在所述标识指令为所述第三标识指令时，识别数据内容的类型为数据类型。优选的，所述方法还包括：通过所述数据和指令接口输出所述测试结果。优选的，在所述在向所述芯片输入控制指令之前，所述方法还包括：通过所述芯片的时钟信号接口向所述芯片输入时钟信号，其中，所述时钟信号用于控制所述芯片进行所述控制指令、所述标识指令及所述数据内容的输入、以及所述测试结果的输出。另一方面，本专利技术还公开了一种芯片，包括：固定电压接口，用于向所述芯片输入电压；数据和指令接口，用于依次向所述芯片输入控制指令、标识指令和比特形式的数据内容；其中，所述数据内容包括如下类型中的至少一种：指令类型、地址类型及数据类型；识别模块，用于根据所述标识指令识别所述数据内容的类型；及测试模块，用于根据所述数据内容及识别得到的所述数据内容的类型对所述芯片进行测试，得到测试结果；其中，所述固定电压接口还用于在所述控制指令输入完成后，停止向所述芯片输入所述电压。优选的，所述标识指令包括如下指令中的至少一种：第一标识指令、第二标识指令及第三标识指令；所述第一标识指令用于标识所述数据内容为指令类型，所述第二标识指令用于标识所述数据内容为地址类型，所述第三标识指令用于标识所述数据内容为数据类型；所述识别模块包括：第一识别单元，用于在所述标识指令为所述第一标识指令时，识别数据内容的类型为指令类型；和/或第二识别单元，用于在所述标识指令为所述第二标识指令时，识别数据内容的类型为地址类型；和/或第三识别单元，用于在所述标识指令为所述第三标识指令时，识别数据内容的类型为数据类型。优选的，所述数据和指令接口还用于输出所述测试结果。优选的，所述芯片还包括：时钟信号接口，用于在所述数据和指令接口向所述芯片输入控制指令之前，向所述芯片的内部输入时钟信号，其中，所述时钟信号控制所述芯片进行控制指令、所述标识指令及所述数据内容的输入与所述测试结果的输出。与现有技术相比，本专利技术实施例包括以下优点：本专利技术实施例测试过程所需的数据内容可以通过一个数据和指令接口输入芯片内，并且可以通过同一个数据和指令接口输入标识指令来识别数据内容的类型，进而可以在芯片内利用上述输入的数据内容对芯片的功能进行测试，与现有的测试方法需要通过八个接口输入测试所需的数据内容，并通过其他三个接口对数据内容的类型进行识别相比，本专利技术实施例在不向芯片内部添加逻辑功能的情况下，减少在进行晶元测试时所需的接口，因此本专利技术实施例减少了测试时所需测试仪的探针数，测试仪每次测试的芯片的数量较多，进而在进行晶元测试时能够提高测试的效率附图说明图1是本专利技术的一种测试方法实施例一的步骤流程图；图2是本专利技术的一种测试方法实施例二的步骤流程图；图3是本专利技术的一种测试方法实施例三的步骤流程图；图4是本专利技术的一种测试方法实施例四的步骤流程图；图5是了本专利技术的一种芯片的结构示意图；图6是本专利技术的一种测试方法实施例五的步骤流程图；图7是本专利技术实施例测试过程中的测试波形示意图；图8是本专利技术的一种芯片实施例一的结构示意图；图9是本专利技术的一种芯片实施例二的结构示意图；图10是本专利技术的一种芯片实施例三的结构示意图；及图11是本专利技术的一种芯片实施例四的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。方法实施例一参照图1，示出了本专利技术的一种测试方法实施例一的步骤流程图，具体可以包括如下步骤：步骤101、通过芯片的固定电压接口向上述芯片输入电压；本专利技术实施例可以应用于芯片的晶元测试中。晶元(wafer)测试是对晶片上的每个晶粒进行针测，以对一些基本器件参数进行的测试，在检测头装上以金线制成的探针，与晶粒上的接点PAD接触，测试其电气特性，不合格的晶粒会被标上记号，而后当晶片依晶粒为单位切割成独立的晶粒时，标有记号的不合格晶粒会被淘汰，不再进行下一个制程，以免徒增制造成本。本专利技术实施例中，上述电压用于驱动芯片以使其进入串口模式从而对数据内容进行输入，即向芯片内部输入上述电压后，控制指令、标识指令及数据内容便可以从一个I/O接口输入芯片内部。在具体实现过程中，上述输入的电压的具体值可由本领域技术人员自行确定，实际上，只要输入的是一个稳定值的电压都是可行的，本专利技术实施例对其不做具体限定。固定电压接口可以为上述芯片除I/O接口外的任一接口，在具体实现过程中可由本领域技术人员自行确定，本专利技术实施例对其不做具体限定。步骤102、通过上述芯片的数据和指令接口向上述芯片输入控制指本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：通过芯片的固定电压接口向所述芯片输入电压；通过所述芯片的数据和指令接口向所述芯片输入控制指令，并在所述控制指令输入完成后，停止向所述芯片输入所述电压；在向所述芯片输入控制指令之后，通过所述数据和指令接口向所述芯片输入标识指令；在向所述芯片输入标识指令之后，通过所述数据和指令接口向所述芯片输入比特形式的数据内容；其中，所述数据内容包括如下类型中的至少一种：指令类型、地址类型及数据类型；在向所述芯片输入比特形式的数据内容之后，根据所述标识指令识别所述数据内容的类型；根据所述数据内容及识别得到的所述数据内容的类型对所述芯片进行测试，得到测试结果。

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：通过芯片的固定电压接口向所述芯片输入电压；通过所述芯片的数据和指令接口向所述芯片输入控制指令，并在所述控制指令输入完成后，停止向所述芯片输入所述电压；在向所述芯片输入控制指令之后，通过所述数据和指令接口向所述芯片输入标识指令；在向所述芯片输入标识指令之后，通过所述数据和指令接口向所述芯片输入比特形式的数据内容；其中，所述数据内容包括如下类型中的至少一种：指令类型、地址类型及数据类型；在向所述芯片输入比特形式的数据内容之后，根据所述标识指令识别所述数据内容的类型；根据所述数据内容及识别得到的所述数据内容的类型对所述芯片进行测试，得到测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标识指令包括如下指令中的至少一种：第一标识指令、第二标识指令及第三标识指令；所述第一标识指令用于标识所述数据内容为指令类型，所述第二标识指令用于标识所述数据内容为地址类型，所述第三标识指令用于标识所述数据内容为数据类型；所述根据所述标识指令识别所述数据内容的类型的步骤包括：在所述标识指令为所述第一标识指令时，识别数据内容的类型为指令类型；和/或在所述标识指令为所述第二标识指令时，识别数据内容的类型为地址类型；和/或在所述标识指令为所述第三标识指令时，识别数据内容的类型为数据类型。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：通过所述数据和指令接口输出所述测试结果。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述在向所述芯片输
\t入控制指令之前，所述方法还包括：通过所述芯片的时钟信号接口向所述芯片输入时钟信号，其中，所述时钟信号用于控制所述芯片进行所述控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏志强，丁冲，陈立刚，谢瑞杰，
申请(专利权)人：北京兆易创新科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11