一种二极电子元器件的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种二极电子元器件的检测装置，包括基座、定位座和测试针组件，测试针组件由固定针和活动针组成，活动针的外侧设有间距调整座，定位座呈由压板和拉板组成的L型结构，压板中开设有下穿孔和下活动槽；间距调整座包括方型柱和活动板，方型柱开设有内孔，方一侧部连接有限位件；基座上开设有定位槽、上穿孔、上活动槽、侧槽和限位槽。本实用新型专利技术结构简单，通过将测试针组件设置成固定针和活动针，并利用带推板的活动座来进行两者间距离的调整，调整方便快捷，满足不同类型极电子元器件的检测需求。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子元器件检测领域，具体涉及一种二极电子元器件的检测装置。
技术介绍
随着我国电子制造业的飞速发展，对各行各业电子产品的制造工艺要求也越来越高，而电子元器件贴装检测这道工序是电子产品制作工艺中不可或缺的组成部分。检测时，需要根据系统工程文件中提供的X、Y坐标和贴装高度参数，移动测试针，扎在元器件的两端，完成对元器件的检测。传统检测装置在进行贴装检测时会存在不足：(1)PCB板上元器件采用粘合方式进行连接，没有使用锡膏，连接并不可靠，扎针过程因为振动、元器件本身形状等原因会造成元器件滑动、偏移，尤其是玻璃二极管类的圆柱形器件，这样会导致检测结果不准确；(2)测试针细小，直径约为0.5mm，在检测过程中，针座快速下降至指定位置，若扎针位置不准确，极易造成元器件受损，测试针本身也会弯曲或折断。为此，专利号为201410128982.2的中国专利技术专利公开了一种二极电子元器件的检测装置，包括基座、测试针和T型定位件；所述基座上设置有一段竖直方向的导轨，所述T型定位件与导轨匹配；所述测试针固定在基座上，且测试针穿过T型定位件的横杆后其上的测试端露出基座；所述测试针上套有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧上端固定在基座上、下端抵在T型定位件的横杆上。该检测装置利用T型定位件将非焊接状态下的二极电子元器件压紧固定，然后再平缓地下降测试针，使得测试针与待测的二极电子元器件两端良好接触，减少测量失败的概率，提高检测效率。但是这种检测装置中两测试针间的距离不能够调整，而不同类型的二极电子元器件两端间距离可能不同，因此使用受范围到较大的限制，不利于推广使用。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术中存在的上述问题，提供一种二极电子元器件的检测装置，其内两测试针间的距离能够调节，满足不同类型二极电子元器件的检测需求。为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本技术是通过以下技术方案实现：一种二极电子元器件的检测装置，包括基座、定位座和测试针组件，所述测试针组件由固定针和活动针组成，所述活动针的外侧设有间距调整座，所述定位座呈由压板和拉板组成的L型结构，压板中开设有与固定针配合的下穿孔，以及与活动针配合的下活动槽；所述间距调整座包括方型柱和活动板，方型柱开设有与活动针配合的内孔，方型柱位于与活动板长度方向平行的一侧部连接有至少一个限位件；所述基座上开设有与拉板配合的定位槽，与固定针配合的上穿孔，与方型柱配合的上活动槽，与活动板配合的侧槽，以及与限位件配合的限位槽。进一步地，所述基座上设有与行走机构安装的固定部，固定部中开设有安装孔。进一步地，所述拉板呈可防止转动的长方体状结构。进一步地，所述上活动槽和下活动槽的位置相对应。进一步地，所述方型柱上对称连接有一组限位件，所述限位件呈T型结构。本技术的有益效果是：本技术结构简单，通过将测试针组件设置成固定针和活动针，并利用带推板的活动座来进行两者间距离的调整，调整方便快捷，满足不同类型极电子元器件的检测需求。当然，实施本技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术二极电子元器件检测装置的结构示意图；图2为本技术二极电子元器件检测装置中基座的结构示意图；图3为本技术二极电子元器件检测装置中定位座的结构示意图；图4为本技术二极电子元器件检测装置中间距调整座的结构示意图；附图中，各标号所代表的部件列表如下：1-基座，101-固定部，102-安装孔，103-定位槽，104-上穿孔，105-上活动槽，106-侧槽，107-限位槽，2-定位座，201-压板，202-拉板，203-下穿孔，204-下活动槽，3-固定针，4-活动针，5-间距调整座，501-方型柱，502-活动板，503-内孔，504-限位件。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-4所示，本技术为一种二极电子元器件的检测装置，包括基座1、定位座2和测试针组件，测试针组件由固定针3和活动针4组成，活动针4的外侧设有间距调整座5，定位座2呈由压板201和拉板202组成的L型结构，压板201中开设有与固定针3配合的下穿孔203，以及与活动针4配合的下活动槽204；间距调整座5包括方型柱501和活动板502，方型柱501开设有与活动针4配合的内孔503，方型柱501位于与活动板502长度方向平行的一侧部连接有至少一个限位件504；基座1上开设有与拉板202配合的定位槽103，与固定针3配合的上穿孔104，与方型柱501配合的上活动槽105，与活动板502配合的侧槽106，以及与限位件504配合的限位槽107。其中，基座1上设有与行走机构安装的固定部101，固定部101中开设有安装孔102。其中，拉板202呈可防止转动的长方体状结构。其中，上活动槽105和下活动槽204的位置相对应。其中，方型柱501上对称连接有一组限位件504，限位件504呈T型结构。本实施例的一个具体应用为：测试时，利用定位座2的压板201来压紧待测二极电子元器件，并保证下穿孔203与待测件的一端相对应，定位座2通过拉板202上下滑动实现压紧和松开，不会发生因转动损坏测试针组件的情况；根据待测件另一端部的位置来推动活动板502，进而带动方型柱501内的活动针4运动，实现活动针4与固定针3间距离的调节，调节过程中通过限位件504与限位槽107的配合来保障活动针4的垂直度，调节完毕后，同时下移固定针3和活动针4即可进行测试。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料过着特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。以上公开的本技术优选实施例只是用于帮助阐述本技术。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该技术仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本技术的原理和实际应用，从而使所属
技术人员能很好地理解和利用本技术。本技术仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种二极电子元器件的检测装置，包括基座(1)、定位座(2)和测试针组件，其特征在于：所述测试针组件由固定针(3)和活动针(4)组成，所述活动针(4)的外侧设有间距调整座(5)，所述定位座(2)呈由压板(201)和拉板(202)组成的L型结构，压板(201)中开设有与固定针(3)配合的下穿孔(203)，以及与活动针(4)配合的下活动槽(204)；所述间距调整座(5)包括方型柱(501)和活动板(502)，方型柱(501)开设有与活动针(4)配合的内孔(503)，方型柱(501)位于与活动板(502)长度方向平行的一侧部连接有至少一个限位件(504)；所述基座(1)上开设有与拉板(202)配合的定位槽(103)，与固定针(3)配合的上穿孔(104)，与方型柱(501)配合的上活动槽(105)，与活动板(502)配合的侧槽(106)，以及与限位件(504)配合的限位槽(107)。

【技术特征摘要】
1.一种二极电子元器件的检测装置，包括基座(1)、定位座(2)和测试针组件，其特征在于：所述测试针组件由固定针(3)和活动针(4)组成，所述活动针(4)的外侧设有间距调整座(5)，所述定位座(2)呈由压板(201)和拉板(202)组成的L型结构，压板(201)中开设有与固定针(3)配合的下穿孔(203)，以及与活动针(4)配合的下活动槽(204)；所述间距调整座(5)包括方型柱(501)和活动板(502)，方型柱(501)开设有与活动针(4)配合的内孔(503)，方型柱(501)位于与活动板(502)长度方向平行的一侧部连接有至少一个限位件(504)；所述基座(1)上开设有与拉板(202)配合的定位槽(103)，与固定针(3)配合的上穿孔(104)，与方型柱(...

【专利技术属性】
技术研发人员：高景旭，李龙刚，何康，
申请(专利权)人：陕西恒太电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61