微小电子元件测试分光设备制造技术

一种微小电子元件测试分光设备，包括机架、上料模块、转盘模块、测试模块，以及落料模块，转盘模块包括侧吸附式吸嘴，侧吸附式吸嘴包括吸嘴本体和吸嘴托板，吸嘴本体设置在吸嘴托板的上表面，且吸嘴托板部分伸出于吸嘴本体的前端，吸嘴本体内设有气体通道；测试模块包括两两垂直的X轴驱动单元、Y轴驱动单元和Z轴驱动单元，以及设在Z轴驱动单元上的探针检测组件，探针检测组件包括探针固定件、数根探针，以及滑轨，数根所述探针的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合。本发明专利技术具有测试精度更高的、运行更加稳定的、适合于微小材料的LED芯片的测试的优点。

Micro electronic component testing and splitting device

A light dividing device small electronic components testing, including frame, module, turntable module, test module, and blanking module, a turntable module includes a side adsorption type suction nozzle side adsorption type nozzle includes a nozzle body and a nozzle plate, the nozzle body is arranged on the upper surface of the nozzle plate, and the nozzle plate extending from the front part of the nozzle body, the suction nozzle gas channel is arranged in the body; the test module comprises 22 vertical X axis Y axis drive unit, drive unit and a driving unit and a Z axis, Z axis drive component detection probe unit on the probe assembly includes a fixing piece, a plurality of probe probe well, slide, the lower end of the plurality of probes on the same level and to the test sample point copper foil match. The invention has the advantages of higher testing accuracy, more stable operation and testing of LED chips suitable for micro materials.

【技术实现步骤摘要】
微小电子元件测试分光设备
本专利技术涉及LED分光设备,尤其是一种微小电子元件测试分光设备。
技术介绍
分光机是发光二极管(又称LED)在生产过程中必需的设备，它用来对LED按照发出光的波长(颜色)、光强、电流电压大小进行分类筛选；分光机一般包括上料模块、转盘模块、测试模块和落料模块，电子元件经上料模块上料至转盘模块，然后通过转盘模块输送至测试模块测试后，最后落入相应的料箱中；但是，目前的分光机只适用于体积较大的LED芯片的测试，对于较小体积的LED芯片则不适用，会出现测试精度不够，运行不稳定的状况，测试的故障率较高，尤其是现在市面上的微小材料的LED芯片，有五个发光面，且铜箔只存在于一个面上，现有的分光机根本无法顺利对其进行测试，于是人们便尝试研发出适合于微小材料的LED芯片测试的分光机，但是由于技术的缺陷，适合这种微小材料的LED芯片的分光机尚不成熟，市面上尚没有较完善的适合微小材料的分光机。
技术实现思路
为了克服上述问题，本专利技术向社会提供一种测试精度更高的、运行更加稳定的、适合于微小材料的LED芯片的测试的微小电子元件测试分光设备。本专利技术的技术方案是：提供一种微小电子元件测试分光设备，包括机架、设置在机架上的上料模块、设置在上料模块后的转盘模块、对转盘模块上的电子元件进行测试的测试模块，以及落料模块，转盘模块包括数个侧吸附式吸嘴，侧吸附式吸嘴包括吸嘴本体和用于放置被检测元件的吸嘴托板，所述吸嘴本体设置在所述吸嘴托板的上表面，且所述吸嘴托板部分伸出于所述吸嘴本体的前端，所述吸嘴本体内设有用于与气源相接的气体通道，所述气体通道的被测元件接触端所在的平面与吸嘴托板相垂直，所述吸嘴托板的至少与被检测元件接触的部位是由透光材料制成的；测试模块包括两两垂直的X轴驱动单元、Y轴驱动单元和Z轴驱动单元，以及设在Z轴驱动单元上的探针检测组件，所述探针检测组件包括探针固定件、数根探针，以及供探针固定件移动的滑轨，数根所述探针的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合；所述Z轴驱动单元工作时，带动探针沿滑轨移动从而接触或者远离待测试样品。作为对本专利技术的改进，在气体通道的端口的一侧设有用于限定被测元件的位置的挡块。作为对本专利技术的改进，所述吸嘴本体通过第一螺钉固定在所述吸嘴托板上。作为对本专利技术的改进，所述吸嘴托板包括底板、垫圈和用于与被检测元件接触的接触板，所述底板上设有与所述接触板相吻合的容置部，所述接触板通过所述垫圈设置在所述容置部内。作为对本专利技术的改进，所述接触板是由透光材料制成的。作为对本专利技术的改进，所述底板是由陶瓷材料制成的。作为对本专利技术的改进，所述底板和接触板上分别设有销孔，所述接触板通过插销固定在所述底板的容置部内。作为对本专利技术的改进，所述Z轴驱动单元包括伺服电机和与伺服电机的输出轴连接的凸轮结构，所述凸轮结构在伺服电机的驱动下带动探针沿滑轨移动。本专利技术由于包括机架、设置在机架上的上料模块、设置在上料模块后的转盘模块、对转盘模块上的电子元件进行测试的测试模块，以及落料模块，转盘模块包括数个侧吸附式吸嘴，本专利技术适用于微小材料的LED芯片的测试，因此，本专利技术具有测试精度更高的、运行更加稳定的、适合于微小材料的LED芯片的测试的优点。附图说明图1是本专利技术的一种实施例的立体结构示意图。图2是图1中的转盘模块的结构示意图。图3是图2中的侧吸附式吸嘴的结构示意图。图4是图1中的测试模块的结构示意图。图5是图4另外一个视角的结构示意图。图6是图1的另外一个视角的结构示意图。具体实施方式在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语中“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”、“相连”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术的具体含义。此外，在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”、“若干”的含义是两个或两个以上。请先参见图1，图1揭示的是微小电子元件测试分光设备的一种实施例，一种微小电子元件测试分光设备，包括机架1、设置在机架1上的上料模块2、设置在上料模块2后的转盘模块3、对转盘模块3上的电子元件进行测试的测试模块4，以及落料模块5，电子元件经测试后，由落料模块5将电子元件吹入料箱90中。本专利技术中，所述转盘模块3包括转盘88和数个设在转盘88上的侧吸附式吸嘴30（请参见图2和图3），侧吸附式吸嘴30包括吸嘴本体302和用于放置被检测元件的吸嘴托板303，所述吸嘴本体302设置在所述吸嘴托板303的上表面，且所述吸嘴托板303部分伸出于所述吸嘴本体302的前端，所述吸嘴本体302内设有用于与气源相接的气体通道321，所述气体通道321的被测元件接触端3210所在的平面与吸嘴托板303相垂直，所述吸嘴托板303的至少与被检测元件接触的部位是由透光材料制成的。本专利技术中，优选的，所述吸嘴本体2通过第一螺钉71固定在所述吸嘴托板303上，这样可以所述吸嘴本体302和吸嘴托板303之间便可以随时进行拆卸和安装，更加有利于维护和维修。本专利技术中，优选的，所述吸嘴托板303包括底板3031、垫圈3033和用于与被检测元件接触的接触板3032，所述底板3031上设有与所述接触板3032相吻合的容置部310，所述接触板3032通过所述垫圈3033设置在所述容置部310内，本专利技术中，所述垫圈3033能够起到密封的作用，从而防止漏真空。本专利技术中，优选的，所述接触板3032是由透光材料制成的，这样可以进一步优化具有多个发光面的被检测元件的测试，使得测试的效果更好；本专利技术中，优选的，所述接触板3032是光学玻璃；其中，进一步的，为了防止接触板3032因刮花而对测试结果造成影响，所述接触板3032优选为耐磨材料，本实施例中，所述接触板3032的材料是蓝宝石。本专利技术中，优选的，所述底板3031是由陶瓷材料制成的，这样的好处是使得所述吸嘴本体302和吸嘴托板303之间即使经过多次的装拆，也不至于磨损，也就是更加耐磨。本专利技术中，优选的，所述底板3031和接触板3032上分别设有销孔，所述接触板3032通过插销（图中不可见）固定在所述底板3031的容置部310内，达到进一步的固定和密封的作用。本专利技术中，所示侧吸附式吸嘴是通过吸嘴定位块87和第二螺钉72固定在转盘88上的，这样的好处是可以随时实现吸嘴的更换，使得本专利技术更加利于维护和维修；另外，本专利技术中，所述吸嘴本体2内的气体通道21是通过快速接头与气源相通的。本专利技术中，所述测试模块4包括底座100，所述底座100上设有两两垂直的X轴驱动单元、Y轴驱动单元和Z轴驱动单元41（如图4和图5所示），以及设在Z轴驱动单元41上的探针检测组件40，所述探针检测组本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微小电子元件测试分光设备，包括机架（1）、设置在机架（1）上的上料模块（2）、设置在上料模块（2）后的转盘模块（3）、对转盘模块（3）上的电子元件进行测试的测试模块（4），以及落料模块（5），其特征在于，转盘模块（3）包括数个侧吸附式吸嘴（30），侧吸附式吸嘴（30）包括吸嘴本体（302）和用于放置被检测元件的吸嘴托板（303），所述吸嘴本体（302）设置在所述吸嘴托板（303）的上表面，且所述吸嘴托板（303）部分伸出于所述吸嘴本体（302）的前端，所述吸嘴本体（302）内设有用于与气源相接的气体通道（321），所述气体通道（321）的被测元件接触端（3210）所在的平面与吸嘴托板（303）相垂直，所述吸嘴托板（303）的至少与被检测元件接触的部位是由透光材料制成的；测试模块（4）包括两两垂直的X轴驱动单元、Y轴驱动单元和Z轴驱动单元（41），以及设在Z轴驱动单元上的探针检测组件（40），所述探针检测组件（40）包括探针固定件（402）、数根探针（401），以及供探针固定件（402）移动的滑轨（403），数根所述探针（401）的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合；所述Z轴驱动单元（41）工作时，带动探针（401）沿滑轨（403）移动从而接触或者远离待测试样品。...

【技术特征摘要】
1.一种微小电子元件测试分光设备，包括机架（1）、设置在机架（1）上的上料模块（2）、设置在上料模块（2）后的转盘模块（3）、对转盘模块（3）上的电子元件进行测试的测试模块（4），以及落料模块（5），其特征在于，转盘模块（3）包括数个侧吸附式吸嘴（30），侧吸附式吸嘴（30）包括吸嘴本体（302）和用于放置被检测元件的吸嘴托板（303），所述吸嘴本体（302）设置在所述吸嘴托板（303）的上表面，且所述吸嘴托板（303）部分伸出于所述吸嘴本体（302）的前端，所述吸嘴本体（302）内设有用于与气源相接的气体通道（321），所述气体通道（321）的被测元件接触端（3210）所在的平面与吸嘴托板（303）相垂直，所述吸嘴托板（303）的至少与被检测元件接触的部位是由透光材料制成的；测试模块（4）包括两两垂直的X轴驱动单元、Y轴驱动单元和Z轴驱动单元（41），以及设在Z轴驱动单元上的探针检测组件（40），所述探针检测组件（40）包括探针固定件（402）、数根探针（401），以及供探针固定件（402）移动的滑轨（403），数根所述探针（401）的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合；所述Z轴驱动单元（41）工作时，带动探针（401）沿滑轨（403）移动从而接触或者远离待测试样品。2.根据权利要求1所述的微小电子元件测试分光设备，其特征在于：在气体通道的端口（...

【专利技术属性】
技术研发人员：何选民，段雄斌，李清，
申请(专利权)人：深圳市标谱半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44