电子元件测试装置制造方法及图纸

技术编号:13576731 阅读:85 留言:0更新日期:2016-08-23 13:35
本实用新型专利技术提供电子元件测试装置,它包括有转盘,转盘底部设有带动转盘旋转的动力机构,转盘盘缘处均布有若干检测座,转盘顶部设有检测架,检测架上设有固定座,固定座上设有上下滑动的滑板,滑板顶部与检测架上的升降杆相连接,滑板底部安装有检测头,检测头位于检测座上方;转盘一侧设有与检测座相配合的送料机构,转盘底部设有与检测头相配合的下顶紧机构。采用本方案后的结构简单、操作方便、无需使用气缸带动,使机械手的稳定性得以大大提高,减少了冲击性,使测试数据更精准。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子元件
,尤其是指片式电子元件测试装置
技术介绍
电子元件是组成电子产品的基础,了解常用的电子元件的种类、结构、性能并能正确选用是学习、掌握电子技术的基本。常用的电子元件有电阻、电容、电感、电位器、变压器、晶振等,电子元件在生产后需要检测,现有的检测装置都是采用气缸传动,检测时冲击性较大,会大大影响产品性能,甚至会击穿产品。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足,提供一种结构简单、操作方便、数据更精准的电子元件测试装置。为实现上述目的,本技术所提供的技术方案为:电子元件测试装置,它包括有转盘,转盘底部设有带动转盘旋转的动力机构,转盘盘缘处均布有若干检测座,转盘顶部设有检测架,检测架上设有固定座,固定座上设有上下滑动的滑板,滑板顶部与检测架上的升降杆相连接,滑板底部安装有检测头,检测头位于检测座上方;转盘一侧设有与检测座相配合的送料机构,转盘底部设有与检测头相配合的下顶紧机构。所述的检测头为三个,呈弧形分布在检测架上,每个检测头下方均设有一组下顶紧机构。本技术在采用上述方案后,电子元件通过送料机构输送至检测座上,动力机构带动转盘旋转使电子元件输送至第一检测头下方,第一检测头和第一顶紧机构相配合完成第一次检测,然后继续旋转进行下一次检测;采用本方案后的结构简单、操作方便、无需使用气缸带动,使机械手的稳定性得以大大提高,减少了冲击性,使测试数据更精准。附图说明图1为本技术的整体结构示意图。具体实施方式下面结合所有附图对本技术作进一步说明,本技术的较佳实施例为:参见附图1,本实施例所述的电子元件测试装置包括有转盘1,转盘1底部设有带动转盘1旋转的动力机构2,转盘1盘缘处均布有若干检测座3,转盘1顶部设有检测架4,检测架4上设有固定座5,固定座5上设有上下滑动的滑板6,滑板6顶部与检测架4上的升降杆7相连接,滑板6底部安装有检测头8,检测头8位于检测座3上方;转盘1一侧设有与检测座3相配合的送料机构9,转盘1底部设有与检测头8相配合的下顶紧机构10,所述的检测头8为三个,呈弧形分布在检测架4上,每个检测头8下方均设有一组下顶紧机构10。本实施例的电子元件通过送料机构输送至检测座上,动力机构带动转盘旋转使电子元件输送至第一检测头下方,第一检测头和第一顶紧机构相配合完成第一次检测,然后继续旋转进行下一次检测;采用本实施例后的结构简单、操作方便、无需使用气缸带动,使机械手的稳定性得以大大提高,减少了冲击性,使测试数据更精准。以上所述之实施例只为本技术之较佳实施例,并非以此限制本技术的实施范围,故凡依本技术之形状、原理所作的变化,均应涵盖在本技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
电子元件测试装置,其特征在于:它包括有转盘(1),转盘(1)底部设有带动转盘(1)旋转的动力机构(2),转盘(1)盘缘处均布有若干检测座(3),转盘(1)顶部设有检测架(4),检测架(4)上设有固定座(5),固定座(5)上设有上下滑动的滑板(6),滑板(6)顶部与检测架(4)上的升降杆(7)相连接,滑板(6)底部安装有检测头(8),检测头(8)位于检测座(3)上方;转盘(1)一侧设有与检测座(3)相配合的送料机构(9),转盘(1)底部设有与检测头(8)相配合的下顶紧机构(10)。

【技术特征摘要】
1.电子元件测试装置,其特征在于:它包括有转盘(1),转盘(1)底部设有带动转盘(1)旋转的动力机构(2),转盘(1)盘缘处均布有若干检测座(3),转盘(1)顶部设有检测架(4),检测架(4)上设有固定座(5),固定座(5)上设有上下滑动的滑板(6),滑板(6)顶部与检测架(4)上的升降杆(7)相连接,滑板(6)底部安...

【专利技术属性】
技术研发人员:肖旭辉
申请(专利权)人:湖南省福晶电子有限公司
类型:新型
国别省市:湖南;43

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