电子元件测试设备制造技术

本发明专利技术是一种电子元件测试设备，包含供料装置、收料装置、环境控制装置、测试装置、搬移装置及中央控制装置，该搬移装置以移料机构在供料装置处取出待测的电子元件，并移载至环境控制装置处，该环境控制装置设有至少一暂置区、承置机构、控温机构及防结露机构，该承置机构设置于暂置区，并以承置器供移料机构置入待测的电子元件，该测试装置以拾取机构于环境控制装置的承置器取出预冷的待测电子元件，并移载至测试室，且置入于测试器而执行冷测作业，冷测完毕后，搬移装置的移料机构将已测的电子元件移载至收料装置收置。利用环境控制装置直接强制预冷待测的电子元件而缩短预冷作业时间，并防止电子元件结露而确保测试合格率，提升测试生产效能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种可利用环境控制装置直接强制预冷待测的电子元件而缩短预冷作业时间，并防止电子元件结露而确保测试合格率，进而提升测试生产效能的电子元件测试设备。
技术介绍
由于部分电子元件于实际使用时，可能处于低温环境，业者为确保电子元件的使用品质，于电子元件制作完成后，必须以测试设备对电子元件进行冷测作业，以淘汰出不良品；请参阅图1，是一种电子元件测试设备的示意图，其是在机台11上配置有测试装置12及输送装置13，该测试装置12设有一测试室121，测试室121以输送管路122连通至机台11外部的氮气供应器(图未示出)，氮气供应器则经由输送管路122将氮气输送至测试室121，使测试室121的内部逐渐降温至所需测试温度(－40度)而形成一低温模拟作业环境，在测试室121的内部配置具测试座124的测试电路板123，用以测试电子元件，该输送装置13以取放器131作第一、二、三方向(如X、Y、Z方向)位移将待测的电子元件14置入于测试装置12的测试座124，测试座124是在测试室121的低温模拟作业环境中对电子元件14进行冷测作业，于测试完毕后，输送装置13的取放器131再于测试室121取出已测的电子元件14；然而，由于待测的电子元件14未置入测试座124前的温度是常温，导致电子元件14置入于测试座124后，即必须等待电子元件14于低温模拟作业环境的测试室121内逐渐降温至所需测试的温度(－40度)，方可进行冷测作业，不仅耗费氮气而增加成本，也增加冷测作业时间。因此，请参阅图2，遂有业者设计一种具有预冷室的测试设备，该测试设备是在测试室151的侧方设有一预冷室152，预冷室152内设有料盘153承置待测的电子元件14，在预冷室152设有一连通输送氮气的输送管路154，以利用输送管路154将氮气注入于预冷室152，使预冷室152形成一低温环境，进而预先降低待测电子元件14的温度，以便待测的电子元件14移载至测试室151时可迅速进行冷测作业；然而，此一测试设备利用输送管154将氮气注入于预冷室152流动，先使预冷室152形成一低温环境后，方可间接令位于预冷室152中的电子元件14也逐渐降低温度，不仅预冷作业时间长，也耗费成本。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本专利技术的目的在于：提供一种电子元件测试设备，可利用环境控制装置直接强制预冷待测的电子元件而缩短预冷作业时间，并防止电子元件结露而确保测试合格率，进而提升测试生产效能。为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是：一种电子元件测试设备，其特征在于，包含：机台；供料装置：装配于该机台，并设有至少一供料机构，用以容置至少一待测的电子元件；收料装置：装配于该机台，并设有至少一收料机构，用以容置至少一已测的电子元件；测试装置：装配于该机台，并设有测试室，在该测试室内设有至少一测试器，用以测试电子元件；环境控制装置：装配于该机台，并设有至少第一暂置区、承置机构、控温机构及防结露机构，该第一暂置区设于该测试装置的一侧，该承置机构是在该至少第一暂置区设有至少一承置器，用以承置电子元件，该控温机构是在该承置机构的至少一承置器设有预冷单元，用以预冷该承置器上待测的电子元件，该防结露机构是在该至少第一暂置区及该测试装置的测试室分别设有能够防止电子元件结露的第一防结露单元及第三防结露单元；搬移装置：装配于该机台，并设有至少一移料机构，用以移载电子元件；中央控制装置：用以控制及整合各装置作动，而执行自动化作业。所述的电子元件测试设备，该测试装置设有拾取机构，该拾取机构设有作至少一方向位移的移动臂，该移动臂设有至少一拾取器，用以取放及压抵电子元件，在该拾取器设有冷测单元，用以使待测的电子元件处于低温模拟作业环境。所述的电子元件测试设备，该测试装置设有拾取机构，该拾取机构设有两个可作复数个方向位移的第一移动臂及第二移动臂，该第一移动臂设有至少一第一拾取器，用以取放电子元件，该第二移动臂设有至少一第二拾取器，用以压抵电子元件及取放的电子元件，在该第二拾取器设有冷测单元，用以使电子元件处于低温模拟作业环境。所述的电子元件测试设备，该环境控制装置的承置机构是在该第一暂置区内设有第二承置器及第三承置器，该第二承置器用以承置待测的电子元件，该第三承置器作至少一方向位移，用以在该第一暂置区与该测试装置的测试室间载送待测的电子元件。所述的电子元件测试设备，该环境控制装置是在该第一暂置区的前方设有具有置料口部的第一通道，在该第一暂置区内设有第一承置器，该第一承置器作至少一方向位移，用以在该第一通道与该第一暂置区间载送待测的电子元件。所述的电子元件测试设备，该环境控制装置的控温机构是在该承置机构的第二承置器或该第三承置器，或在该第二承置器和该第三承置器设有预冷单元，用以预冷电子元件。所述的电子元件测试设备，该环境控制装置是在该测试装置的另一侧设有第二暂置区，该承置机构是在该第二暂置区内设有第四承置器及第五承置器，该第四承置器作至少一方向位移，用以在该第二暂置区与该测试装置的测试室间载送已测的电子元件，该第五承置器用以承置已测的电子元件，该防结露机构是在该第二暂置区设有防止电子元件结露的第二防结露单元。所述的电子元件测试设备，该环境控制装置是在该第二暂置区的前方设有具有取料口部的第二通道，在该第二暂置区内设有第六承置器，该第六承置器作至少一方向位移，用以在该第二通道与该第二暂置区间载送已测的电子元件。所述的电子元件测试设备，该环境控制装置的控温机构是在该承置机构的第五承置器设有回温单元，用以回温该第五承置器上已测的电子元件。所述的电子元件测试设备，该测试装置的测试室及该环境控制装置的暂置区为同一空间，或该暂置区及该测试室分别为独立空间。本专利技术的优点之一，提供一种电子元件测试设备，包含供料装置、收料装置、环境控制装置、测试装置、搬移装置及中央控制装置，该搬移装置系以移料机构于供料装置处取出待测的电子元件，并移载至环境控制装置处，该环境控制装置设有至少一暂置区、承置机构、控温机构及防结露机构，该承置机构设置于暂置区，并以承置器供移料机构置入待测的电子元件，该控温机构是在承置器设有预冷单元，用以直接预冷待测的电子元件，该防结露机构系装配于暂置区及测试装置的测试室，并设有可防止电子元件结露的防结露单元，该测试装置系以拾取机构于环境控制装置的承置器取出预冷的待测电子元件，并移载至测试室，且置入于测试器而执行冷测作业，于冷测完毕后，搬移装置的移料机构系将已测的电子元件移载至收料装置收置，该中央控制装置系用以控制及整合各装置作动，而执行自动化作业；如此，可利用环境控制装置直接强制预冷待测的电子元件而缩短预冷作业时间，并防止电子元件结露而确保测试合格率，达到提升测试生产效能的实用效益。本专利技术的优点之二，提供一种电子元件测试设备，其中，该环境控制装置的防结露机构设有防结露单元，用以防止电子元件结露凝结水珠，使预冷后的待测电子元件置入于测试装置的测试器内而执行冷测作业时，可避免测试器受损，达到节省成本的实用效益。本专利技术的优点之三，提供一种电子元件测试设备，其中，该环境控制装置是在测试装置的一侧设有第一暂置区，并在另一侧设有第二暂置区，该环境控制装置的防结露机构是在第一暂置区设有本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件测试设备，其特征在于，包含：机台；供料装置：装配于该机台，并设有至少一供料机构，用以容置至少一待测的电子元件；收料装置：装配于该机台，并设有至少一收料机构，用以容置至少一已测的电子元件；测试装置：装配于该机台，并设有测试室，在该测试室内设有至少一测试器，用以测试电子元件；环境控制装置：装配于该机台，并设有至少第一暂置区、承置机构、控温机构及防结露机构，该第一暂置区设于该测试装置的一侧，该承置机构是在该至少第一暂置区设有至少一承置器，用以承置电子元件，该控温机构是在该承置机构的至少一承置器设有预冷单元，用以预冷该承置器上待测的电子元件，该防结露机构是在该至少第一暂置区及该测试装置的测试室分别设有能够防止电子元件结露的第一防结露单元及第三防结露单元；搬移装置：装配于该机台，并设有至少一移料机构，用以移载电子元件；中央控制装置：用以控制及整合各装置作动，而执行自动化作业。

【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试设备，其特征在于，包含：机台；供料装置：装配于该机台，并设有至少一供料机构，用以容置至少一待测的电子元件；收料装置：装配于该机台，并设有至少一收料机构，用以容置至少一已测的电子元件；测试装置：装配于该机台，并设有测试室，在该测试室内设有至少一测试器，用以测试电子元件；环境控制装置：装配于该机台，并设有至少第一暂置区、承置机构、控温机构及防结露机构，该第一暂置区设于该测试装置的一侧，该承置机构是在该至少第一暂置区设有至少一承置器，用以承置电子元件，该控温机构是在该承置机构的至少一承置器设有预冷单元，用以预冷该承置器上待测的电子元件，该防结露机构是在该至少第一暂置区及该测试装置的测试室分别设有能够防止电子元件结露的第一防结露单元及第三防结露单元；搬移装置：装配于该机台，并设有至少一移料机构，用以移载电子元件；中央控制装置：用以控制及整合各装置作动，而执行自动化作业。2.根据权利要求1所述的电子元件测试设备，其特征在于，该测试装置设有拾取机构，该拾取机构设有作至少一方向位移的移动臂，该移动臂设有至少一拾取器，用以取放及压抵电子元件，在该拾取器设有冷测单元，用以使待测的电子元件处于低温模拟作业环境。3.根据权利要求1所述的电子元件测试设备，其特征在于，该测试装置设有拾取机构，该拾取机构设有两个可作复数个方向位移的第一移动臂及第二移动臂，该第一移动臂设有至少一第一拾取器，用以取放电子元件，该第二移动臂设有至少一第二拾取器，用以压抵电子元件及取放的电子元件，在该第二拾取器设有冷测单元，用以使电子元件处于低温模拟作业环境。4.根据权利要求1、2或3所述的电子元件测试设备，其特征在于，该环境控制装置的承置机构是在该第一暂置区内设有...

【专利技术属性】
技术研发人员：尤信超，陈永宏，
申请(专利权)人：鸿劲科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71