【技术实现步骤摘要】
本技术涉及集成电路晶圆测试,尤其是一种芯片测试连接板。
技术介绍
芯片是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分。随着科技的发展,芯片成为了目前电子设备中不可或缺的一个重要组成部分,它的影响是十分巨大的,所以在芯片生产完毕后,对芯片的检测也是非常必要,芯片检测时需要使用到探针卡来进行检测,传统的探针卡的结构为悬臂梁式,过去大量使用的IC基本为2边或4边引脚的封装形式,悬臂梁式的探针卡可以较为方便的在4边布针,但是目前,越来越多的BGA,CSP(chipscalepackage)的封装形式出现,IC的引脚改为了矩阵式分布,悬臂梁式探针卡因结构限制无法进行矩阵式布针,悬臂梁式探针卡的组装基本以纯手工制作,无法机器生产,对我们日益发展的生活带来不便。
技术实现思路
为了克服上述问题,本技术提供一种结构简单、生产效率的芯片测试连接板。本技术的技术方案是提供一种芯片测试连接板,其包括连接板主体,其特征在于,所述连接板主体包括上下并列设置的上板体及下板体,所述上板体的直径大于所述下板体的直径,所述连接板主体顶部向下设置有一矩形形状的通孔组列,所述通孔组列包括若干上下贯通设置的条状通孔,所述条状通孔内均设置有探针,所述探针的上部延伸出所述上板体,每根所述探针上端部均连接有金属线。本技术一个较佳实施例中,所述下板体的侧面等距设置有多个凹槽,所述凹槽为水平设置,所述凹槽内设置有弹片。本技术一个较佳实施例中,所述上板体的外围四周等距设置有多个安装孔,所述安装孔包括上下并列设置的上圆孔及下圆孔,所述上圆孔的直径大于所述下圆孔的直径。本技术一个较佳实施例中,所 ...
【技术保护点】
一种芯片测试连接板,其包括连接板主体,其特征在于,所述连接板主体包括上下并列设置的上板体及下板体,所述上板体的直径大于所述下板体的直径,所述连接板主体顶部向下设置有一矩形形状的通孔组列,所述通孔组列包括若干上下贯通设置的条状通孔,所述条状通孔内均设置有探针,所述探针的上部延伸出所述上板体,每根所述探针上端部均连接有金属线。
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试连接板,其包括连接板主体,其特征在于,所述连接板主体包括上下并列设置的上板体及下板体,所述上板体的直径大于所述下板体的直径,所述连接板主体顶部向下设置有一矩形形状的通孔组列,所述通孔组列包括若干上下贯通设置的条状通孔,所述条状通孔内均设置有探针,所述探针的上部延伸出所述上板体,每根所述探针上端部均连接有金属线。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试连接板,其特征在于,所述下板体的侧面等距设置有多个凹槽,所述凹槽为水平设置,所述凹槽内设置有弹片。3.根据权利要求1所述的一...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘明星,
申请(专利权)人:强一半导体苏州有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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