本实用新型专利技术涉及一种半导体芯片自动测试控制装置，包括PLC模块，PLC模块输出控制信号给第一继电器，控制测试定位电磁铁的伸出，控制测试定位板的伸缩，安装在测试定位板的第一行程开关将到位信号传递给PLC模块，PLC模块控制第二继电器、第三继电器，控制左针座电测铁、右针座电测铁的伸缩，控制左测试针座和右测试针座夹紧芯片进行测试；PLC模块接收半导体芯片测试仪的测试结果信号，控制第四继电器，控制废品挡料电磁铁的伸缩，使正品芯片进入正品出料通道；安装在废品挡料板的第二行程开关用于将检测到的到位信号传递给PLC模块，PLC模块控制第五继电器，控制废品顶料电磁铁的伸缩，将废品芯片顶入废品出料通道。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体芯片测试领域，特别涉及一种半导体芯片自动测试控制装置。
技术介绍
众所周知，半导体芯片都是由专业生产厂家自动化生产出来，虽说也经过了一些检测，但不可避免产品当中存在有少量的废品。这对半导体芯片生产厂家来说有一定的废品率是正常的，但对使用半导体芯片生产其它设备的厂家来说，将一个废的芯片装入设备就相当生产了一台废设备。所以，使用半导体芯片的厂家都要对购入的半导体芯片进行测试、测试合格后方可使用。而目前一般是采用半导体芯片专用测试仪，从装芯片的管中取出芯片，用人工一个个去测芯片，时间一长，工人就会发生疲劳，从而导致测试的误差，很可能又将废品放在正品里了。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术存在的不足，提供一种自动、准确、高效的半导体芯片自动测试控制装置。本技术的目的是采用下述方案实现的：一种半导体芯片自动测试控制装置，包括PLC模块、供电电源、多个指令输入开关和多个行程开关以及多个作为执行元件的伸缩式电磁铁，所述供电电源用于给整个装置供电，所述PLC模块与半导体芯片测试仪以及多个指令输入开关电连接，所述PLC模块用于接收指令输入开关的指令信号，输出控制信号给第一继电器KA1，用于控制测试定位电磁铁带动测试定位板伸出，将沿测试轨道滑下的待测芯片定位在测试位；安装在测试定位板的第一行程开关SQ1用于将检测到的到位信号传递给PLC模块，所述PLC模块用于接收第一行程开关SQ1的到位信号，输出控制信号给第二继电器KA2、第三继电器KA3，控制左针座电测铁、右针座电测铁的伸缩，控制左测试针座和右测试针座夹紧芯片进行测试；所述PLC模块用于接收半导体芯片测试仪的测试结果信号，输出控制信号给第一继电器KA1，控制测试定位电磁铁缩回，使芯片沿测试轨道滑下，并输出控制信号给第四继电器KA4，控制废品挡料电磁铁的伸缩，控制安装在正品出料通道口的废品挡料板的伸缩，使正品芯片进入正品出料通道；安装在废品挡料板的第二行程开关SQ2用于将检测到的到位信号传递给PLC模块，所述PLC模块用于接收第二行程开关SQ2的到位信号，输出控制信号给第五继电器KA5，控制废品顶料电磁铁的伸缩，控制废品顶料板的伸缩，将废品芯片顶入废品出料通道。所述PLC模块连接有显示屏 。所述PLC 模块采用单相电源供电，PLC 模块与单相电源之间设有PLC电源开关QS1，所述PLC 模块与电源之间连接有熔断器。所述指令输入开关、第一行程开关SQ1、第二行程开关SQ2的常开触点的一端分别连接PLC 模块的输入端，另一端连接负电压V-，所述第一继电器KA1、第二继电器KA2、第三继电器KA3、第四继电器KA4、第五继电器KA5的线圈一端连接PLC 模块的输出端，另一端连接负电压V-，所述PLC 模块的公共端COM通过熔断器连接正电压V+。本技术具有的优点是：从本专利技术的技术方案可以看出，由于本专利技术半导体芯片自动测试控制装置采用了继电器与电磁铁的结合，同时将PLC 模块与电磁控制进行了完美的组合，所有动作都是在PLC模块控制下进行工作，通过测试仪自动区分正品、废品，并将正品与废品单独放置，不但避免了人为的失误，而且一人可以看管多台检测设备，提高了工效和精确度。完全达到了本专利技术自动、准确、高效的专利技术目的。附图说明图1是本专利技术半导体芯片自动测试控制装置的电路图。具体实施方式参见图1，一种半导体芯片自动测试控制装置，包括PLC模块、供电电源、多个指令输入开关和多个行程开关以及多个作为执行元件的伸缩式电磁铁，所述供电电源用于给整个装置供电，所述PLC模块与半导体芯片测试仪以及多个指令输入开关电连接，所述PLC模块用于接收指令输入开关的指令信号，输出控制信号给第一继电器KA1，控制测试定位电磁铁D1的伸出，控制测试定位板的伸缩，将沿测试轨道滑下的待测芯片定位在测试位；安装在测试定位板的第一行程开关SQ1用于将检测到的到位信号传递给PLC模块，所述PLC模块用于接收第一行程开关SQ1的到位信号，输出控制信号给第二继电器KA2、第三继电器KA3，控制左针座电测铁D2、右针座电测铁D3的伸缩，控制左测试针座和右测试针座夹紧芯片进行测试，PLC模块输出测试启动信号给半导体芯片测试仪，半导体芯片测试仪启动测试，所述PLC模块用于接收半导体芯片测试仪的测试结果信号，输出控制信号给第一继电器KA1，控制测试定位电磁铁缩回，使芯片沿测试轨道滑下，并输出控制信号给第四继电器KA4，控制废品挡料电磁铁D4的伸缩，控制安装在正品出料通道口的废品挡料板的伸缩，使正品芯片进入正品出料通道；安装在废品挡料板的第二行程开关SQ2用于将检测到的到位信号传递给PLC模块，所述PLC模块用于接收第二行程开关SQ2的到位信号，输出控制信号给第五继电器KA5，控制废品顶料电磁铁D5 的伸缩，控制废品顶料板的伸缩，将废品芯片顶入废品出料通道。所述PLC模块连接有显示屏 。所述PLC 模块采用单相电源供电，PLC 模块与单相电源之间设有PLC电源开关QS1，所述PLC 模块与电源之间连接有熔断器。所述指令输入开关、第一行程开关SQ1、第二行程开关SQ2的常开触点的一端分别连接PLC 模块的输入端，另一端连接负电压V-，所述第一继电器KA1、第二继电器KA2、第三继电器KA3、第四继电器KA4、第五继电器KA5的线圈一端连接PLC 模块的输出端，另一端连接负电压V-，所述PLC 模块的公共端COM通过熔断器连接正电压V+。测试导轨斜置固定于机架上，使得芯片可以沿测试导轨自动向下滑动。显示屏、指令输入开关均设置在机架上的控制面板上。指令输入开关包括启动键、测试键、定位键、废品顶料键、废品挡料键、手动/自动转换开关。测试导轨上端固接有一放管箱，测试导轨中上部位置对称固接有左针座电测铁、右针座电测铁，左针座电测铁、右针座电测铁的伸缩杆分别固定左测试针座、右测试针座，测试导轨一侧位于左针座电测铁、右针座电测铁下方依次固接有废品顶料电磁铁和废品挡料电磁铁，测试轨道表面下端固接有一出料压板，出料压板将通道分为正品出料通道和废品出料通道，废品挡料电磁铁设置在正品出料通道的入口将正品出料通道封住。正品出料通道的中心线与测试导轨的中心线位于同一直线，废品出料通道位于正品出料通道一侧。正品出料口和废品出料口分别设置正品胶管、废品胶管，将测试后的产品分别放入插在正品出料口和废品出料口的正品胶管或废品胶管。打开电源开关，将半导体芯片专用测试仪与PLC模块相连，将转换开关切换到自动档上，在放管箱内装上装有芯片的胶管，胶管内的芯片就会沿斜面自动下滑，进入到测试位，撞到测试定位板后停止，第一行程开关SQ1将检测到的到位信号传递给PLC模块，所述PLC模块输出控制信号给第二继电器KA2、第三继电器KA3，控制左针座电测铁、右针座电测铁的伸缩，控制左测试针座和右测试针座夹紧芯片进行测试。PLC模块于接收半导体芯片测试仪的测试结果信号，输出控制信号给第一继电器KA1，控制测试定位电磁铁缩回，使芯片沿测试轨道滑下，并输出控制信号给第四继电器KA4，控制废品挡料电磁铁伸缩，当芯片专用测试仪发出的正品信号，则废品挡料板缩回，正品芯片直接进入正品出料通道，控制安装在正品出料通道口的废品挡料板的伸缩，使正品芯片进入正品出本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种半导体芯片自动测试控制装置，其特征在于：包括PLC模块、供电电源、多个指令输入开关和多个行程开关以及多个作为执行元件的伸缩式电磁铁，所述供电电源用于给整个装置供电，所述PLC模块与半导体芯片测试仪以及多个指令输入开关电连接，所述PLC模块用于接收指令输入开关的指令信号，输出控制信号给第一继电器（KA1），用于控制测试定位电磁铁带动测试定位板伸出，将沿测试轨道滑下的待测芯片定位在测试位；安装在测试定位板的第一行程开关（SQ1）用于将检测到的到位信号传递给PLC模块，所述PLC模块用于接收第一行程开关（SQ1）的到位信号，输出控制信号给第二继电器（KA2）、第三继电器（KA3），控制左针座电测铁、右针座电测铁的伸缩，控制左测试针座和右测试针座夹紧芯片进行测试；所述PLC模块用于接收半导体芯片测试仪的测试结果信号，输出控制信号给第一继电器（KA1），控制测试定位电磁铁缩回，以及输出控制信号给第四继电器（KA4），控制废品挡料电磁铁的伸缩，控制安装在正品出料通道口的废品挡料板的伸缩，使正品芯片进入正品出料通道；安装在废品挡料板的第二行程开关（SQ2）用于将检测到的到位信号传递给PLC模块，所述PLC模块用于接收第二行程开关（SQ2）的到位信号，输出控制信号给第五继电器（KA5），控制废品顶料电磁铁的伸缩，控制废品顶料板的伸缩，将废品芯片顶入废品出料通道。...
【技术特征摘要】
1.一种半导体芯片自动测试控制装置，其特征在于：包括PLC模块、供电电源、多个指令输入开关和多个行程开关以及多个作为执行元件的伸缩式电磁铁，所述供电电源用于给整个装置供电，所述PLC模块与半导体芯片测试仪以及多个指令输入开关电连接，所述PLC模块用于接收指令输入开关的指令信号，输出控制信号给第一继电器（KA1），用于控制测试定位电磁铁带动测试定位板伸出，将沿测试轨道滑下的待测芯片定位在测试位；安装在测试定位板的第一行程开关（SQ1）用于将检测到的到位信号传递给PLC模块，所述PLC模块用于接收第一行程开关（SQ1）的到位信号，输出控制信号给第二继电器（KA2）、第三继电器（KA3），控制左针座电测铁、右针座电测铁的伸缩，控制左测试针座和右测试针座夹紧芯片进行测试；所述PLC模块用于接收半导体芯片测试仪的测试结果信号，输出控制信号给第一继电器（KA1），控制测试定位电磁铁缩回，以及输出控制信号给第四继电器（KA4），控制废品挡料电磁铁的伸缩，控制安装在正品出料通道口的废品挡料板的伸缩，使正品芯片进入...
【专利技术属性】
技术研发人员：王俊文，
申请(专利权)人：岳池县意帮实业有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51
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