【技术实现步骤摘要】
本专利技术是关于一种封装结构的制造方法,详言之,是关于一种覆晶封装结构的制 造方法。
技术介绍
已知技术应用于低脚数且须微小化或薄形化的封装结构,一般是采用覆晶封装方 法制造。然而,在已知覆晶封装方法中,用于电性连接基板及芯片的锡铅凸块成本较高,故 金凸块(gold stud bump)的应用则成为低成本覆晶封装较佳的选择。其中,已知覆晶封装 方法在凸块间距小于60微米时,对于凸块的连结就会有一定的限制及困难。已知技术较常应用的金凸块接合方法为下列几种栓柱凸点接合(SBB)、共晶合 金连结(Eutectic Solder Bonding, ESC)、非导电颗粒膜(NCF)/非导电颗粒膏(NCP)、 各向异性导电膜(ACF)/各向异性导电膏(ACP)及超音波金对金连结(Gold toGold Interconnect, GGI)工艺,其又以SBB工艺及ESC工艺为最常应用的技术。其中,SBB工艺中金凸块须沾附导电银胶,以结合基板及芯片,但其结合强度较弱, 仅适用于陶瓷基板或低热膨胀系数(CTE)基板;ESC工艺以直接热压合方式结合基板及芯 片,但须先于基板上的接垫 ...
【技术保护点】
一种覆晶封装结构的制造方法,包括以下步骤:(a)提供一基板,该基板具有一第一表面,该第一表面数个第一接垫;(b)提供一芯片,该芯片具有数个金凸块,这些金凸块是相对于这些第一接垫;(c)沾附一液态锡于每一该金凸块;(d)结合相对应的这些第一接垫及这些金凸块;(e)形成一保护胶层于该基板与该芯片之间且至少覆盖这些金凸块。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:胡嘉杰,
申请(专利权)人:日月光半导体制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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