【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及大规模集成电路芯片测试中的故障信息自动处理技术,特别是涉及一种在存储器的测试过程中,能够自动产生包含故障信息(位图格式)的处理方法。
技术介绍
现有的大规模集成电路芯片测试中的错误信息自动处理技术,存在下述问题1、测试完毕后获得的故障信息不全面。2、在故障位图(FBM,Fail Bit Map)中,无法知道故障比特位的故障种类。3、在FBM中,能够显示的故障比特位数目太少。4、无法产生与设备无关的位图(DIB,Device Independent Bitmap)格式的FBM文件。5、FBM中故障信息并非按照其物理地址来排列。所有上述问题的存在,均影响了对测试结果的分析,从而为短时间内进行存储器的错误分析(F/A,Fail Analysis)定位带来了困难。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种在存储器测试过程中自动产生位图(BMP Bit Map)信息的方法,它能够将每个比特位的故障信息自动保存并转换成FBM,该FBM中包含了大量的用于F/A的故障信息。为解决上述技术问题,本专利技术的,包括如下步骤首先,由故障信息采集模块将测试过程中产生的所有故障信息按照存储器的逻辑地址储存下来,并将该故障信息传递给FBM转换模块;其次,FBM转换模块将所述故障信息按照存储器的物理地址转换为DIB格式的BMP图形信息,并将该BMP图形信息传递给FBM显示模块;然后,由FBM显示模块按照BMP图形格式显示文件的信息;由模式控制模块控制FBM转换模块是否进行多线程转换处理及生成FBM文件中显示故障的种类。采用本专利技术的方法,在测试仪在线(Onli ...
【技术保护点】
一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法,其特征在于:它包括如下步骤:首先,由故障信息采集模块(2)将测试过程中产生的所有故障信息按照存储器的逻辑地址储存下来,并将该故障信息传递给FBM转换模块(1);其次,FBM转换模 块(1)将所述故障信息按照存储器的物理地址转换为DIB格式的BMP图形信息,并将该BMP图形信息传递给FBM显示模块(3);然后,由FBM显示模块(3)按照BMP图形格式显示文件的信息;由模式控制模块(4)控制FBM转换模块 (1)是否进行多线程转换处理及生成FBM文件中显示故障的种类。
【技术特征摘要】
1.一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法,其特征在于它包括如下步骤首先,由故障信息采集模块(2)将测试过程中产生的所有故障信息按照存储器的逻辑地址储存下来,并将该故障信息传递给FBM转换模块(1);其次,FBM转换模块(1)将所述故障信息按照存储器的物理地址转换为DIB格式的BMP图形信息,并将该BMP图形信息传递给FBM显示模块(3);然后,由FBM显示模块(3)按照BMP图形格式显示文件的信息;由模式控制模块(4)控制FBM转换模块(1)是否进行多线程转换处理及生成FBM文件中显示故障的种类。2.如权利要求1所述的一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法,其特征在于所述按照BMP图形格式显示文件的信息中,所有比特位的故障信息情况均可以得到显示;不同的颜色代表不同的故障信息。3.如权利...
【专利技术属性】
技术研发人员:桑浚之,辛吉升,曾志敏,
申请(专利权)人:上海华虹NEC电子有限公司,
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]
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