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本发明公开了一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，由故障信息采集模块（２）将测试过程中产生的所有故障信息按照存储器的逻辑地址储存下来，并将该错误信息传递给ＦＢＭ转换模块（１）；所述ＦＢＭ转换模块（１）将故障信息按照存储器的物理地址转...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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