一种存储芯片的测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及一种存储芯片的测试设备，其特征在于，包括一恒温箱，所述恒温箱内部设有温度控制装置，所述恒温箱的内部设有接口电路，所述接口电路连接有用于装入硬盘的多个插槽，所述接口电路与多个系统主机连接，多个所述系统主机位于所述恒温箱外侧，多个所述系统主机连接至一个或多个显示器；其中，多个所述系统主机均连接至一电源控制装置。通过系统主机与恒温箱的连接，实现了在存储芯片运行过程中提供一个高温环境，并通过电源控制装置进行随机断电。所述存储芯片的测试设备通过上述结构可以在高温环境下，高效率的测试储存芯片的性能。

【技术实现步骤摘要】
201620194321

【技术保护点】
一种存储芯片的测试设备，其特征在于，包括一恒温箱，所述恒温箱内部设有温度控制装置，所述恒温箱的内部设有接口电路，所述接口电路连接有用于装入硬盘的多个插槽，所述接口电路与多个系统主机连接，多个所述系统主机位于所述恒温箱外侧，多个所述系统主机连接至一个或多个显示器；其中，多个所述系统主机均连接至一电源控制装置。

【技术特征摘要】
1.一种存储芯片的测试设备，其特征在于，包括一恒温箱，所述恒温箱内部设有温度控制装置，所述恒温箱的内部设有接口电路，所述接口电路连接有用于装入硬盘的多个插槽，所述接口电路与多个系统主机连接，多个所述系统主机位于所述恒温箱外侧，多个所述系统主机连接至一个或多个显示器；
其中，多个所述系统主机均连接至一电源控制装置。
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【专利技术属性】
技术研发人员：昌林，陆松林，
申请(专利权)人：深圳市云储科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44