动态存储器测试装置及其测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种动态存储器的测试装置及测试方法。动态存储器测试装置包括系统整合式芯片，用以耦接至动态存储器。系统整合式芯片包括控制单元以及内嵌式存储装置。控制单元耦接至动态存储器。内嵌式存储装置储存存储器测试程序码，其中，控制单元读取存储器测试程序码并借助执行存储器测试程序码以对动态存储器执行测试操作。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种动态存储器测试装置及测试方法，且特别是涉及一种利用系统整合式芯片进行外部动态存储器测试的测试装置及测试方法。
技术介绍
请参见图1，图1绘示公知技术的动态存储器测试装置的方块。在图1中，控制器110耦接至动态存储器120，并针对动态存储器120执行测试操作。控制器110是系统整合式芯片。在此架构下，当控制器110针对外部的动态存储器进行测试时，控制器110会由动态存储器120来读取测试程序码121，并通过执行测试程序码121来对动态存储器120进行测试操作。由上述的说明可以得知，图1绘示的公知技术的动态存储器测试装置中，由于测试程序码121被储存在动态存储装置120，因此，动态存储器120中用来储存测试程序码121的存储区块的内容不可以被破坏，也因此，要针对储存测试程序码121的存储区块进行测试是不可能的。也就是说，这样的架构并无法针对动态存储器120进行完整的测试操作。再者，在动态存储装置120储存测试程序码121的存储区块无法被测试的前提下，一旦储存测试程序码121的存储区块有损坏的现象发生时，所储存的测试程序码121也必然是不正确的数据。当控制器110执行错误的测试程序码121时，将无法有效执行测试操作，严重的还可能会造成系统死机或是重新开机的可能。
技术实现思路
本专利技术提供一种动态存储器测试装置及测试方法，可提升动态存储器的测试效能。本专利技术的动态存储器测试装置包括系统整合式芯片，用以耦接至动态存储器。系统整合式芯片包括控制单元以及内嵌式存储装置。控制单元耦接至动态存储器。内嵌式存储装置储存存储器测试程序码，其中，控制单元读取存储器测试程序码并借助执行存储器测试程序码以对动态存储器执行测试操作。在本专利技术的一实施例中，动态存储器测试装置还包括连接接口。连接接口耦接至内嵌式存储装置，其中，内嵌式存储装置借助连接接口耦接外部储存单元，并由外部储存单元读取存储器测试程序码。在本专利技术的一实施例中，上述的连接接口包括内部系统总线接口及通用串行总线接口的至少其中之一。在本专利技术的一实施例中，上述的控制单元包括中央处理单元以及动态存储器控制器。动态存储器控制器耦接中央处理单元，其中，中央处理单元执行存储器测试程序码以通过动态存储器控制器对动态存储器执行测试操作。在本专利技术的一实施例中，上述的内嵌式存储装置包括静态存储器以及静态存储器控制器。静态存储器用以储存存储器测试程序码。静态存储器控制器耦接静态存储器，静态存储器控制器接收存储器测试程序码，并将存储器测试程序码储存于静态存储器中，并由静态存储器读取存储器测试程序码以提供存储器测试程序码至中央处理单元。在本专利技术的一实施例中，上述的静态存储器还包括储存动态存储器的初始化信息以及动态存储器的测试模式启动信息。本专利技术提出的动态存储器的测试方法，包括：提供系统整合式芯片，并使存储器测试程序码储存于系统整合式芯片的内嵌式存储装置中；由内嵌式存储装置读取存储器测试程序；以及，执行存储器测试程序以对动态存储器执行测试操作。基于上述，本专利技术将测试程序码放置在受测的动态存储器的外部，如此一来，动态存储器可以完整的被测试，且系统整合式芯片所执行的测试程序码也不会有可能发生错误的状态，使动态存储器的测试操作，可以无风险地有效被执行。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文列举实施例，并配合附图做详细说明如下。附图说明图1绘示的公知技术的动态存储器测试装置。图2绘示本专利技术一实施例的动态存储器测试装置的示意图。图3绘示本专利技术另一实施例的动态存储器测试装置的示意图。图4绘示本专利技术实施例的系统式整合芯片400的一实施方式。图5绘示本专利技术实施例中静态存储器的储存内容的示意图。图6绘示本专利技术实施例的动态存储器测试装置的逻辑地址配置的示意图。图7绘示本专利技术一实施例的动态存储器测试的流程图。附图符号说明110：控制器120：动态存储器121：测试程序码200：动态存储器测试装置300：动态存储器测试装置210：系统整合式芯片310：系统整合式芯片400：系统整合式芯片220、320：动态存储器211、311、410：控制单元TCODE：存储器测试程序码D3：存储器测试程序码212：内嵌式存储装置312：内嵌式存储装置313：连接接口330：外部储存单元411：中央处理单元412：动态存储器控制器420：内嵌式存储装置422：静态存储器D1：初始化信息D2：测试模式启动信息S710～S730：存储器测试步骤具体实施方式请参照图2，图2绘示本专利技术一实施例的动态存储器测试装置的示意图。动态存储器测试装置200包括系统整合式芯片210。其中，系统整合式芯片210耦接动态存储器220并可对动态存储器220进行测试操作。动态存储器220可以是动态随机存储器(DynamicRandomAccessMemory,DRAM)。系统整合式芯片210包括控制单元211以及内嵌式存储装置212。控制单元211耦接至动态存储器220，内嵌式存储装置212则耦接至控制单元211。其中，关于动态存储器220的测试方面，内嵌式存储装置212可储存存储器测试程序码TCODE，而当动态存储器220的测试操作要进行时，控制单元211可由内嵌式存储装置212读取其所储存的存储器测试程序码TCODE，并通过执行存储器测试程序码TCODE来进行对动态存储器220的测试操作。在本实施例中，存储器测试程序码TCODE可以由系统整合式芯片210外部的元件来提供，其中，内嵌式存储装置212可以由外部元件来接收存储器测试程序码TCODE，并将其储存在内嵌式存储装置212中。当控制单元211要执行动态存储器220的测试操作时，内嵌式存储装置212则可提供其所储存的存储器测试程序码TCODE至控制单元211以供控制单元211执行相对应的动态存储器220的测试操作。值得注意的是，本专利技术实施例存储器测试程序码TCODE并非由受测的动态存储器220所提供。也就是说，存储器测试程序码TCODE并不会占去动态存储器220的部分存储区域。当控制单元211对动态存储器220进行测试操作时，可以完整地对动态存储器220的所有的存储区域进行测试。另外，本专利技术实施例存储器测试程序码TCODE可以由可靠本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种动态存储器测试装置，包括：一系统整合式芯片，耦接至该动态存储器，包括：一控制单元，耦接至该动态存储器；以及一内嵌式存储装置，储存一存储器测试程序码，其中，该控制单元读取该存储器测试程序码并借助执行该存储器测试程序码以对该动态存储器执行测试操作。

【技术特征摘要】
2014.12.24 TW 1031452231.一种动态存储器测试装置，包括：
一系统整合式芯片，耦接至该动态存储器，包括：
一控制单元，耦接至该动态存储器；以及
一内嵌式存储装置，储存一存储器测试程序码，
其中，该控制单元读取该存储器测试程序码并借助执行该存储器测试程
序码以对该动态存储器执行测试操作。
2.如权利要求1所述的动态存储器测试装置，还包括：
一连接接口，耦接至该内嵌式存储装置，
其中，该内嵌式存储装置借助该连接接口耦接一外部储存单元，并由该
外部储存单元读取该存储器测试程序码。
3.如权利要求2所述的动态存储器测试装置，其中该连接接口包括内
部系统总线接口及通用串行总线接口的至少其中之一。
4.如权利要求1所述的动态存储器测试装置，其中该控制单元包括：
一中央处理单元；以及
一动态存储器控制器，耦接该中央处理单元，
其中，该中央处理单元执行该存储器测试程序码以通过该动态存储器控
制器对该动态存储器执行测试操作。
5.如权利要求1所述的动态存储器测试装置，其中该内嵌式存储装置
包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：萧启维，
申请(专利权)人：力晶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71