实现冗余功能存储器芯片测试的方法技术

本发明专利技术公开了一种实现冗余功能存储器芯片测试的方法，其把存储器芯片主区域测试向量按最小冗余单元进行分割，做成子测试向量组；针对每个测试项目分别运行子测试向量组，读出子测试向量组的每个向量的测试结果；把失效向量的序号换算成失效单元地址存放在内存变量中，不同测试项目的子测试向量组测试出的失效单元地址存放在不同的内存变量中，并累积计算每个测试项目的失效单元个数及地址；根据每个测试项目的失效单元个数及地址，统计得出存储器芯片主区域失效单元数的总和以及失效地址。本发明专利技术的实现冗余功能存储器芯片测试的方法，可以利用自带数字向量发生器的数字测试机实现和存储器测试机相同的冗余功能存储器芯片测试，降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
201610086766

【技术保护点】
一种实现冗余功能存储器芯片测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：一、把存储器芯片主区域测试向量按最小冗余单元进行分割，做成子测试向量组；二、针对每个测试项目分别运行子测试向量组，读出子测试向量组的每个向量的测试结果；三、把失效向量的序号换算成失效单元地址存放在内存变量中，不同测试项目的子测试向量组测试出的失效单元地址存放在不同的内存变量中，并累积计算每个测试项目的失效单元个数及地址；四、根据每个测试项目的失效单元个数及地址，统计得出存储器芯片主区域失效单元数的总和以及失效地址。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱渊源，
申请(专利权)人：上海华虹宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31