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本发明涉及一种动态存储器的测试装置及测试方法。动态存储器测试装置包括系统整合式芯片，用以耦接至动态存储器。系统整合式芯片包括控制单元以及内嵌式存储装置。控制单元耦接至动态存储器。内嵌式存储装置储存存储器测试程序码，其中，控制单元读取存储器测...
该专利属于力晶科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过力晶科技股份有限公司授权不得商用。

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