【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种动态存储器(DRAM)模块(module),且特别涉及一种可预老化测试(pre-burn in)的DRAM模块与可预老化测试的DRAM模块电路板。参照附图说明图1的公知DRAM模块电路板示意图。公知的DRAM模块电路板由单一DRAM模块100排列组合而成,其中每个DRAM模块100是独立的,该电路板切开后变成可以独立使用的DRAM模块。公知的DRAM模块电路板没有老化测试电路,因此,公知DRAM模块的制作方法无法使用模块电路板直接进行老化测试。大多数的公知DRAM模块制作方法的流程步骤为(1)晶片分拣(wafersorting)或称为晶片探针测试(Chip Probe testing;CP testing);(2)集成电路(IC)封装(package assembly);(3)最终测试-1(final testing-1);(4)老化测试(burn in);(5)最终测试-2(final testing-2);(6)模块组装(module assembly);(7)模块测试(module testing);(8)出货(shipping)。少数品质低的公知DRAM模块制作方法的流程步骤为(1)晶片分拣(或称为晶片探针测试);(2)IC封装或是板上晶片装配(chip on board);(3)模块组装;(4)模块系统老化测试(5)模块测试;(6)出货。然而,公知DRAM模块制作方法具有以下缺点(a)制作流程很长且复杂。(b)老化测试和模块拷机测试必须分开,并且各自都必须耗时1-2天的时间。(c)老化测试与模块电路分别独立使用各自的电路板 ...
【技术保护点】
一种可预老化测试的动态存储器体模块,它至少包括:多个集成电路;以及一印刷电路板,包括一模块电路层与一老化测试电路层,并划分为一模块区与一辅助电路区,并且该模块电路层与该老化测试电路层被一接地面分开隔离;其中,这些集成电路位于该模块电路层的该模块区上,该动态存储器模块的模块电路布线在该模块电路层中,该动态存储器模块的老化测试电路布线在该老化测试电路层中,而该老化测试电路层的老化测试信号经由该辅助电路区进入该模块电路层。
【技术特征摘要】
1.一种可预老化测试的动态存储器体模块,它至少包括多个集成电路;以及一印刷电路板,包括一模块电路层与一老化测试电路层,并划分为一模块区与一辅助电路区,并且该模块电路层与该老化测试电路层被一接地面分开隔离;其中,这些集成电路位于该模块电路层的该模块区上,该动态存储器模块的模块电路布线在该模块电路层中,该动态存储器模块的老化测试电路布线在该老化测试电路层中,而该老化测试电路层的老化测试信号经由该辅助电路区进入该模块电路层。2.如权利要求1所述的动态存储器模块,其中为了防止产生天线效应,在完成该动态存储器模块的老化测试和其它测试之后,将该辅助电路区切除。3.如权利要求1或2所述的动态存储器模块,其中这些集成电路以封装件或板上晶片或裸晶片C4焊接的形式,组装在该模块电路层的该模块区上。4.一种可预老化测试的动态存储器模块,它至少包括多个集成电路;以及一印刷电路板,具有由第一模块电路层/第一老化测试电路层/第二老化测试电路层/第二模块电路层组成的结构,并划分为一模块区与一辅助电路区,该第一模块电路层与第二模块电路层分别位于该印刷电路板两表面,该第一模块电路层与该第一老化测试电路层被一第一接地面分开隔离,该第二模块电路层与该第二老化测试电路层被一第二接地面分开隔离;其中,这些集成电路分别位于所述第一模块电路层与该第二模块电路层的所述模块区上,该动态存储器模块的模块电路布线分别在该第一模块电路层与所述第二模块电路层中,该动态存储器模块的老化测试电路布线分别在该第一老化测试电路层与该第二老化测试电路层中,而该第一老化测试电路层的老化测试信号经由该辅助电路区进入该第一模块电路层,该第二老化测试电路层的老化测试信号经由该辅助电路区进入该第二模块电路层。5.如权利要求4所述的动态存储器模块,其中为了防止产生天线效应,在该动态存储器模块老化测试和其它测试之后,将该辅助电路区切除。6.如权利要求4或5所述的动态存储器模块,其中这些集成电路以封装件或板上晶片或裸晶片C4焊接的形式,分别组装在该第一模块电路层与该第二模块电路层的该模块区上。7.一种可预老化测试的动态存储器模块电路板,可直接置于一老化测试炉中,耦接一老化测试信号,对动态存储器进行老化测试;它至少包括至少一测试区,该测试区包括一老化测试信号缓冲/分路器与多个动态存储器模块。其中,这些动态存储器模块分别并联耦接该老化测试信号缓冲/分路器,该老化测试信号缓冲/分路器耦接该老化测试信号,并将该老化测试信号缓冲分配输出至这些动态存储器模块,对这些动态存储器模块内的动态存储器进行老化测试。8.如权利要求7所述的动态存储器模块电路板,其中该动态存储器模块包括多个集成电路;以及一印刷电路板,包括一模块电路层与一老化测试电路层,并划分为一模块区与一辅助电路区,并且该模块电路层与该老化测试电路层被一接地面分开隔离;其中,这些集成电路位于该模块电路层的该模块区上,该动态存储器模块的模块电路布线在该模块电路层中,该动态存储器模块的老化测试电路布线在老化测试电路层中,而该老化测试信号依序经由该老化测试电路层与...
【专利技术属性】
技术研发人员:宣明智,韩宗立,赵君兴,刘东奇,
申请(专利权)人:联华电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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