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可预老化测试的动态存储器模块及其电路板制造技术
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文档序号:3087334
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一种可预老化测试的动态存储器模块及其电路板,其中,将老化测试电路与模块电路共同设计在每一个动态存储器模块的印刷电路板中,可同时对所有模块内的动态存储器进行老化测试,老化测试后又可以修复不良的集成电路,而切开后又变成可以独立使用的动态存储器模...
该专利属于联华电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联华电子股份有限公司授权不得商用。
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