用于存储存储器测试信息的方法和装置制造方法及图纸

用于存储存储器测试信息的方法和装置。所述方法包括存储与在测试存储器时检测到的故障存储器单元的位置和数目有关的信息部分的步骤；在检测到故障存储器单元时更新存储的信息的步骤，指示要分配第一类型存储器备件以修复一个故障存储器单元，要分配第二补充类型存储器备件以修复该故障存储器单元，或该存储器不可修复。第一类型存储器备件相应于存储器的行和列部分中的一个，第二补充类型存储器备件相应于存储器的行和列部分中的另一个。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

所描述的是用于存储存储器测试信息的方法和装置。特别说明了为存储对具有冗余存储器电路的存储器的存储器测试信息的方法和装置。
技术介绍
常规存储器测试包括识别存储器阵列的所有故障存储器地址和识别这些存储器地址的哪一个(一些)位故障。典型的存储器测试包括在一个存储器中写入数据模式，然后读出该存储器的输出并与期望值或模式比较。在期望的和实际读出的存储器值之间的不匹配存储在一个外部存储器映像中，通常位于存储器测试器自身内。在执行所有测试模式和识别和存储故障地址(和位)后，然后测试器可以对存储的错误数据执行修复分析以决定哪一些故障地址行和/或列(或I/O)位(或单元)需要用可用的冗余(或备用)存储器单元替换而使存储器可完全操作。故障存储器信息通常在所有存储器测试结束时被分析。这允许修复算法考虑所有故障的存储器信息以便决定最优修复配置，它能最大化存储器操作和以最经济的方式使用冗余存储器单元。另外，同时考虑所有故障的存储器信息，可以在对不可修复的情形浪费珍贵的测试和修复时间之前，早期识别不可修复存储器条件和舍弃存储器。与大多数常规测试器相关的限制是需要动态产生和使用修复信息。由于使用冗余存储器单元的效率低下，导致减少总的存储器产出。这些限制也使得存储器测试在开发更快更密的存储器中成为最昂贵耗时的处理。例如，和用以进行测试的存储器单元的操作频率相比，常规存储器测试通常具有较慢的处理时钟速度。相对较慢的时钟速度使它不能决定在测试下的存储器能否在正常操作速度下正常运行。另外，在正常运行速度下收集错误信息不可能使用这些较慢的常规测试器。结果，测试器必须能够存储大量错误数据，然后使用一个“脱机”执行修复算法分析这一大量数据。使用常规测试器，错误存储器必须和总的期望的故障位数一样大。此外，随着存储器密度继续增加，已经受限制的测试器存储器也必须增加并且测试器的处理功率必须增加，以便能够处理更复杂的修复算法解决方案。与常规测试器相关的另一个限制是它们通常受限的I/O容量。随着存储器变得更密，测试存储器所需要的I/O数目也必须增加。I/O受限的测试器将不能一次测试整个存储器，需要把测试程序分成几个较小的测试。存储器测试的细分导致总测试时间增加。这将显著增大与存储器制造相关的费用。存储器设计者已经使用嵌入式自测试(或BITS)技术来解决这样一些关心的问题。使用BIST，在和存储器自身所在同一半导体芯片(或晶片)上制造用于测试存储器的模式产生器。这允许BIST电路在“使用速度”下测试存储器，消除了以低于运行速度的速度测试存储器而导致不能检测错误的担心。另外，BIST电路说明与今天I/O受限的测试器相关的担心。另外，常规BIST技术存在限制。例如，大量错误存储器仍然必须结合到BIST电路中以便存储错误的存储器信息。另外，附加的存储器和处理器资源必须结合到存储器中以执行修复算法处理。因为空间和处理器限制，只有有限量的错误存储器和修复代码可以集成到BIST设计中。结果，常规BIST技术继续使用“抽点打印”来监测故障存储器位置。这需要修复算法“随机”处理故障的存储器信息，其如上所述导致无效使用包含在存储器芯片中的冗余存储器单元。因此，需要改进存储从存储器测试产生的故障存储器信息的技术，它将释放对测试器提出的错误存储器需求和减少修复算法的复杂性使之成为一个简单得多的任务。特别是，需要一种改进的技术来只存储对完全分析和产生修复信息所需要的故障存储器信息。
技术实现思路
因此，一个目的是以高效方式对所有故障存储器信息提供一种芯片上存储。另一个目的是对所有故障存储器信息提供一种以运行速度的存储。再一个目的是支持具有大量I/O总线存储器的存储器测试。还有一个目的是在启动一们修复算法前检测确定的不可修复存储器故障条件。再一个目的是减少修复算法自身的复杂性。这些目的通过用压缩与故障存储器位置相关的信息的方法和装置来实现。根据一个方面，一种用于存储存储器测试信息的方法包括存储一部分与在测试存储器时检测到的故障存储器单元的位置和数目有关的信息的步骤。在检测到故障存储器单元时更新存储的信息，以指示要分配第一类型存储器备件来修复故障存储器单元，要分配第二补充类型存储器备件以修复该故障存储器单元，或者存储器是不可修复的。第一类型存储器备件相应于存储器的行和列部分中的一个，第二类型补充类型存储器备件相应于存储器行和列部分中的另一个。根据一个有关方面，更新存储的信息，以指示为修复故障存储器单元而要分配的那类存储器备件根据在故障存储器单元所在处的存储器的各个行或列部分的故障存储器单元的数目是否超过可用补充类型存储器备件的数目而定。根据另一个有关方面，在一个具有行和列部分的表中存储信息，该表的每一行或列部分包含至少一个地址/错误计数条目对，用于存储故障存储器单元所在处的存储器的各个行或列部分的一个地址，和在该存储器的各个行或列部分中检测到的故障存储器单元的数目。根据再一个有关方面，本方法进一步包括判断在故障存储器单元所在处的存储器的行和列部分的至少一个地址和在所述表中存储的一个地址条目之间是否存在匹配的步骤。根据另一个有关方面，如果存在匹配，则本方法进一步包括，如果成对的错误计数条目等于可用补充类型存储器备件的数目，则增加与匹配地址条目配对的错误计数条目的步骤。如果在表的行和列部分都存在匹配，则本方法进一步包括，如果成对的错误计数条目小于可用补充类型存储器备件的各数目的话，增加与匹配地址条目配对的错误计数条目的步骤。根据另一个有关方面，如果在表的行和列部分的一个中存在匹配，则本方法进一步包括判断不包括匹配地址条目的表的行或列部分是否已满的步骤。如果不包括匹配地址条目的表的行或列部分未满，则本方法进一步包括，如果成对的错误计数条目小于可用补充类型存储器备件的数目的话，增加与匹配地址条目配对的错误计数条目，和在不包括匹配地址条目的表的部分增加一个地址/错误计数条目对的步骤，增加的条目对包括故障存储器单元所在存储器的行和列部分不匹配表的一个地址条目与一个错误计数的地址。如果不包括匹配地址条目的表的行或列部分已满，则更新表中存储的信息以指示存储器不可修复。根据另一个有关方面，如果不存在匹配，则本方法进一步包括判断表的行和列部分是否至少有一个已满的步骤。如果表的行或列部分哪一个都不满，则本方法进一步包括在表的行和列部分两者都增加一个地址/错误计数条目对的步骤，每一增加的条目对包括故障存储器单元所在处的存储器的行或列的各个地址和一个错误计数。如果表的行和列部分的至少一个已满，则更新表中存储的信息，指示存储器不可修复。根据另一个有关方面，如果一类存储器备件的总数目大于补充类型存储器备件的总数目，则判断是否存在匹配的步骤包括，在比较相应于具有较小总备件数目的该类型存储器备件的存储器的行或列部分的地址与在表中的地址条目之前比较相应于具有较大总备件数目的该类型存储器备件的存储器的行或列部分的地址与在表中的地址条目的步骤。根据另一个有关方面，如果第一和第二类型存储器备件的总数目相等，则判断是否存在匹配的步骤包括，随机选择故障存储器单元所在处的存储器的行和列部分的一个地址，在比较未随机选择的存储器的行或列地址与表中的地址条目之前比较该随机选择的存储器的行或列地址与表中的地址条目。根据另一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储存储器测试信息的方法，所述方法包括步骤：存储与在测试存储器时检测到的故障存储器单元的位置和数目有关的信息部分；和在检测到故障存储器单元时更新存储的信息，指示要分配第一类型存储器备件以修复一个故障存储器单元，要分配第二补充类型 存储器备件以修复该故障存储器单元，或该存储器不可修复；其中，第一类型存储器备件相应于存储器的行和列部分中的一个，第二补充类型存储器备件相应于存储器的该行和列部分中的另一个。

【技术特征摘要】
US 2001-6-8 60/296789;US 2002-5-31 10/1606401.一种存储存储器测试信息的方法，所述方法包括步骤存储与在测试存储器时检测到的故障存储器单元的位置和数目有关的信息部分；和在检测到故障存储器单元时更新存储的信息，指示要分配第一类型存储器备件以修复一个故障存储器单元，要分配第二补充类型存储器备件以修复该故障存储器单元，或该存储器不可修复；其中，第一类型存储器备件相应于存储器的行和列部分中的一个，第二补充类型存储器备件相应于存储器的该行和列部分中的另一个。2.权利要求1的方法，其中，更新存储的信息以指示，要分配修复故障存储器单元的存储器备件的类型部分基于在故障存储器单元所在的存储器的各个行或列部分中的故障存储器单元的数目是否超过可用补充类型存储器备件的数目。3.权利要求2的方法，其中，所述信息存储在具有行和列部分的一个表中，该表的每一行和列部分包括至少一个地址/错误计数条目对，用于存储故障存储器单元所在存储器的各个行或列部分的地址和在存储器的各个行或列部分中检测到的故障存储器单元的数目。4.权利要求3的方法，进一步包括步骤判断在故障存储器单元所在处的存储器的行和列部分的至少一个地址和在所述表中存储的一个地址条目之间是否存在匹配。5.权利要求4的方法，其中，如果存在匹配，则所述方法进一步包括步骤如果成对的错误计数条目等于可用补充类型存储器备件数目，则增加与匹配地址条目配对的错误计数条目。6.权利要求4的方法，其中，如果在所述表的行和列部分都存在匹配，则所述方法进一步包括步骤如果成对的错误计数条目每一个都小于可用补充类型存储器备件的各数目，则增加与匹配地址条目配对的错误计数条目。7.权利要求4的方法，其中，如果在所述表的行和列部分的一个中存在匹配的话，则所述方法进一步包括步骤决定不包括匹配地址条目的所述表的行或列部分是否已满。8.权利要求7的方法，其中，如果不包括匹配地址条目的所述表的行或列部分不满，则所述方法进一步包括步骤如果成对的错误计数条目小于可用补充类型存储器备件的数目，则增加与匹配地址条目配对的错误计数条目；在不包括匹配地址条目的表的部分增加一个地址/错误计数条目对，增加的条目对包括故障存储器单元所在处的存储器的行或列部分的不匹配表中一个地址条目的地址和一个错误计数。9.权利要求7的方法，其中，如果不包括匹配地址条目的所述表的行或列部分已满，则更新表中存储的信息，以指示所述存储器不可修复。10.权利要求4的方法，其中，如果不存在匹配，则所述方法进一步包括步骤判断所述表的行和列部分中的至少一个是否已满。11.权利要求10的方法，其中，如果所述表的无论行还是列部分都不满，则所述方法进一步包括步骤在所述表的行和列部分上都增加一个地址/错误计数条目对，每一增加的条目对包括故障存储器单元所在存储器的行或列部分的各个地址和一个错误计数。12.权利要求10的方法，其中，如果所述表的行和列部分中至少一个已满，则更新表中存储的信息，指示所述存储器不可修复。13.权利要求4的方法，其中，如果一类存储器备件的总数目大于补充类型存储器备件的总数目，则决定是否存在匹配的步骤包括步骤在比较相应于具有较小总备件数目的那类存储器备件的存储器的行或列部分的地址与在所述表中的地址条目之前比较相应于具有较大总备件数目的那类存储器备件的存储器行或列部分的地址与在所述表中的地址条目。14.权利要求4的方法，其中，如果第一和第二类型存储器备件的总数目相等，则决定是否存在匹配的步骤包括步骤随机选择故障存储器单元所在处的存储器的行和列部分的一个地址；在比较未随机选择的存储器的行或列部分的地址与在所述表中的地址条目之前比较随机选择的存储器的行或列部分的地址与在所述表中的地址条目。15.权利要求3的方法，进一步包括步骤连接在所述表的行部分中包含的地址/错误计数条目对和在所述表的列部分中包含的相关地址/错误计数条目对。16.权利要求15的方法，其中，给相应于具有较大备件总数目的那类存储器备件的所述表的行或列部分的每一地址/错误计数条目对添加一个用于存储一个唯一的连接ID的连接标识符条目，用于连接在所述表的行部分中包含的地址/错误计数条目对和在所述表的列部分中包含的相关地址/错误计数条目对。17.权利要求16的方法，其中，唯一的连接ID的数目等于具有较小备件总数目的那类存储器备件的数目。18.权利要求3的方法，其中，所述表说明第一类型存储器备件的至少一个与第二补充类型存储器备件的至少一个相交处的一部分存储器。19.权利要求3的方法，其中，所述表的大小用下述等式计算决定 式中CE＝表的列部分中的条目数＝SR*(SC+1)；RE＝表的行部分中的条目数＝SC*(SR+1)；RowCnt＝表的行部分中的错误计数的大小＝[log2(Sc+2)]；RowAddr ＝表的行部分中的地址的大小＝[log2(R)]；ColumnCnt ＝表的列部分中的错误计数的大小＝[log2(SR+2)]；Colum...

【专利技术属性】
技术研发人员：MA穆林斯，AJ索瓦格奥，
申请(专利权)人：三菱电气株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]