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用于辅助座上激光芯片的自动特征分析系统技术方案

技术编号:2518300 阅读:225 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
公开了一种用于检测被安装在辅助座上的激光硬模的温度受控的系统。该检测系统包括具有受电机驱动的平移平台的基座。平移平台包括具有被安装在基部上的两级温度控制系统的第一检测位置。温度控制系统包括热电冷却器和用于在循环块中循环冷却/加热流体的流体系统。安装部也被包括在第一检测位置上,其中辅助座被定位在该安装部上。安装部的温度被该温度控制系统控制。当第一检测位置与探针板对准时,具有臂和连接到该臂的电接触部的探针板向辅助座提供电源。具有可与第一检测位置对准的透镜组件的对准器接收由激光器产生的光信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术大体上涉及在光学通信系统中使用的激光二极管。更特别地,本发 明涉及一检测系统,该系统能在激光在使用过程中可能受到的各种温度下自动 检测连接到辅助座组件的激光芯片。
技术介绍
激光二极管和其他相似的光源在光发射器中承担重要角色,其中一个示例 是在光数据通信中使用的光学收发模块。该激光二极管用于光发射器中以产生 光信号,数据以预定频率被调制在光信号上从而通过光纤传送到特定目的地。给出的它们的重要功能,激光二极管的检测对于确保在使用中不间断及可 靠运行是很重要的。为了该目的,每个激光二极管典型地被测试以确保它满足 可接受性能的预定规范。但是,该检测典型地在激光二极管被安装在支承辅助 座结构之前被执行, 一旦被安装在光发射器中,激光将被固定在该支承辅助座 结构上。另外,激光二极管检测通常被手动执行——时间损耗和缓慢进程将只 会增加光发射器产品的整体成本。另外,激光二极管典型地不在模拟实际温度 条件的一个或多个温度下被检测,当作为光发射器的一部分时,激光二极管将 运行在该实际温度条件下。由于上述考虑,在本领域需要一种装置,利用该装置可以在激光二极管被 安装到辅助座或其他合适表面上吋本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测被安装在辅助座上的激光硬模的温度受控的系统,该系统包括: 基座,具有受电机驱动的平移平台,该平移平台包括: 至少第一检测位置,该第一检测位置包括: 基部; 两级温度控制系统,安装在该基部上且具有: 热电冷却器;和 流体系统,用于循环冷却/加热流体; 安装部,所述辅助座被定位在该安装部上用于检测,该安装部的温度由该温度控制系统可选择地控制; 探针板,具有可移动臂和连接到该臂的电接触部,用于当该第一检测位置与该探针板对准时向该辅助座提供电源;和 对准器,具有可与该第一检测位置对准从而接收该激光硬模产生的光信号的透镜组件。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:亭石丹尼尔崔恩帕维尔普洛斯卡鲁
申请(专利权)人:菲尼萨公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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