公开了一种用于检测被安装在辅助座上的激光硬模的温度受控的系统。该检测系统包括具有受电机驱动的平移平台的基座。平移平台包括具有被安装在基部上的两级温度控制系统的第一检测位置。温度控制系统包括热电冷却器和用于在循环块中循环冷却／加热流体的流体系统。安装部也被包括在第一检测位置上，其中辅助座被定位在该安装部上。安装部的温度被该温度控制系统控制。当第一检测位置与探针板对准时，具有臂和连接到该臂的电接触部的探针板向辅助座提供电源。具有可与第一检测位置对准的透镜组件的对准器接收由激光器产生的光信号。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术大体上涉及在光学通信系统中使用的激光二极管。更特别地，本发 明涉及一检测系统，该系统能在激光在使用过程中可能受到的各种温度下自动 检测连接到辅助座组件的激光芯片。
技术介绍
激光二极管和其他相似的光源在光发射器中承担重要角色，其中一个示例 是在光数据通信中使用的光学收发模块。该激光二极管用于光发射器中以产生 光信号，数据以预定频率被调制在光信号上从而通过光纤传送到特定目的地。给出的它们的重要功能，激光二极管的检测对于确保在使用中不间断及可 靠运行是很重要的。为了该目的，每个激光二极管典型地被测试以确保它满足 可接受性能的预定规范。但是，该检测典型地在激光二极管被安装在支承辅助 座结构之前被执行， 一旦被安装在光发射器中，激光将被固定在该支承辅助座 结构上。另外，激光二极管检测通常被手动执行——时间损耗和缓慢进程将只 会增加光发射器产品的整体成本。另外，激光二极管典型地不在模拟实际温度 条件的一个或多个温度下被检测，当作为光发射器的一部分时，激光二极管将 运行在该实际温度条件下。由于上述考虑，在本领域需要一种装置，利用该装置可以在激光二极管被 安装到辅助座或其他合适表面上吋提供激光二极管检测。上述需要的任何解决 方法应包括自动处理，由此激光二极管以最少操作人员介入的方式被检测。进 一步地，激光二极管检测应能够在多个运行温度进行从而模拟真实环境的条 件。
技术实现思路
本专利技术响应本领域上述和其他需要而被fF制。简要概括，本专利技术实施例涉及用于检测被安装在辅助座上的激光硬模(laser die)的温度受控的系统。该 检测系统包括具有电机驱动平移平台的基座。平移平台包括具有被安装在基部上的两级温度控制系统(two-stage temperature control system)的第一检测位置。 温度控制系统包括热电冷却器和用于在循环块中循环冷却/加热流体的流体系 统。安装部也被包括在第一检测位置上，其中辅助座被定位在该安装部上。安 装部的温度由温度控制系统进行控制。当第一检测位置与探针板对准时，具有 臂和连接到该臂的电接触部的探针板向该辅助座提供电源。具有可与第一检测 位置对准的透镜组件的对准器接收由激光器产生的光信号。温度受控的第二检测位置和第三检测位置也包括在该系统中，以扩展用于 辅助座组件的温度受控检测选项。本专利技术的这些和其他特征从下面的说明书和所附权利要求而完全变得更 显而易见，或可通过下文所述的本专利技术的实例而被了解。附图说明为进一步阐明本专利技术上述和其他优点和特征，本专利技术的特别具体的说明将 参考在附图中示出的其特定实施例而说明。应当意识到，这些图仅描述本专利技术 典型实施例，且因此不限制它的范围。本专利技术将通过使用附图利用另外的特性和细节来描述和解释，其中图1A是根据本专利技术一个实施例的辅助座特征分析系统上的自动激光芯片 的透视图1B是图1A中的辅助座特征分析系统上的自动激光芯片的一部分的透 视图2A是图1B所示的特征分析系统的第一和第二检测位置的透视图； 图2B是图2A的第一检测位置的靠近视图； 图3A是图2B的第二检测位置的靠近视图3B是图1B所示的特征分析系统的第二和第三检测位置的透视图4是根据一实施例的第二检测位置的安装面的靠近视图，示出其各种结构；图5是如图1B所示的特征分析系统的第一检测位置和周围构件的侧视图。具体实施例方式现在将参考附图，其中相同的结构具有相同的附图标记。可以理解附图是 本专利技术示例性实施例的图示和图解表示，既不是本专利技术的限定也不必要按比例 绘制。图lA-5描述本专利技术实施例的各种特征，所述特征大体上涉及特征分析系 统，该特征分析系统用于检测和特征分析激光二极管和可被应用在光学系统中 的其它光源，如光发射器。该特征分析系统被配置为当被安装到辅助座上时能 够检测激光二极管，由此简化激光检测过程。另外，该特征分析利用一级和两 级温度受控的检测位置，所述温度受控检测位置能使激光二极管或其他合适的 光源在多个温度下被检测，由此模拟使用激光器的真实环境条件。因此，提供 了更可靠的检测结果，其继而导致更少的现场设备故障。另外，该特征分析系 统使用用于将光纤光连接到检测中的激光二极管上的自动对准台(auto-aligning stage)。这增加了检测过程的自动化，由此降低人力介入和每个设备的检测时 间。因此，该特征分析系统表现出优于公知技术的先进，该公知技术包括缺少 温度控制结构且当激光器被定位在辅助座上时不能测试该激光器的手动对准 系统。首先参考图1A和1B，其以透视图的方式描述根据本专利技术示例性实施例 的整体上被标记为10的激光源特征分析系统("系统")。系统IO被配置用 于使用多级冷却检测位置和加热检测位置的自动的辅助座安装的激光硬模检 测。具体来说，系统IO包括支承基座15的底基座18，其中多个相关的系统 构件被定位到所述基座15上。系统10主要构件之一是分度器20，所述分度 器20被构造为支承并有选择地移动多个激光硬模检测位置，g卩，第一检测位 置30、第二检测位置35和第三检测位置40。关于每个位置的更详细叙述将在 下面给出。要注意，虽然它包含三个检测位置，但如果对特定应用有需要或必 要，该系统可以可替换地包括更多或更少的检测位置。系统10包括用于特征分析激光硬模的各种其他构件，包括用于在检测 中为激光硬模/辅助座供电的探针板50;在检测中将光纤和激光输出自动对准 的对准器60;和用于将激光硬模从系统检测位置拾取和将其置入系统检测位 置的四轴(x， y， z，和旋转)布置机械手70。另夕卜，包括有装载/卸载台71， 其与布置机械手70 —起工作以促进将激光硬模装载到布置机械手和从布置机械手上卸载。在本实施例中，布置机械手70包括双直线电动机驱动的x和y 台、滚珠丝杠驱动的z台和直接驱动的旋转台，然而在其他实施例中也可接受地使用其他结构的机械手。三个检测位置30、 35和40被构造为可利用分度器20—起移动，从而使 得在检测中该位置可以根据探针板50和对准器60的需要而定位。具体来说， 检测位置30、 35和40被安装在分度器20的平移平台72上。电动机控制器 74被用于经由一平移基座76来相对于系统基座15移动平台72。这样，任意 一检测位置能在检测之前、之中或之后精确定位在探针板50和对准器60之间。 当然，可以使用其他的分度器或平移系统以全体地或单个地移动检测位置。注 意，系统IO进一步包括用于容纳与平移平台的运动相关的电缆和其他线缆的 线缆载体78、和用于辅助激光硬模在布置机械手70和装载/卸载台71之间的 合适的拾取和放置操作的照相机组件79。现在与图1A和1B—起参考图2A、 2B、 3A和3B。更细致地，第一检测 位置30被设置为使得位于该位置的激光硬模的检测能够进行。另外，检测位 置30被设置为使得激光硬模能在一个或多个温度范围内被检测，所述一个或 多个温度范围能模拟当激光器被封装在例如光发射器的设备中时该激光器所 使用的实际操作条件。图2B示出包括第一检测位置包括安装部80，包括安装 在辅助座上的激光硬模的辅助座组件82被定位在该安装部80。但是，也更具 体地参考图3A，其示出了与第二检测位置35相关联的安装部100，该安装部 也包括定位在其上的辅助座本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于检测被安装在辅助座上的激光硬模的温度受控的系统，该系统包括： 基座，具有受电机驱动的平移平台，该平移平台包括： 至少第一检测位置，该第一检测位置包括： 基部； 两级温度控制系统，安装在该基部上且具有： 热电冷却器；和 流体系统，用于循环冷却／加热流体； 安装部，所述辅助座被定位在该安装部上用于检测，该安装部的温度由该温度控制系统可选择地控制； 探针板，具有可移动臂和连接到该臂的电接触部，用于当该第一检测位置与该探针板对准时向该辅助座提供电源；和 对准器，具有可与该第一检测位置对准从而接收该激光硬模产生的光信号的透镜组件。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：亭石，丹尼尔崔恩，帕维尔普洛斯卡鲁，
申请(专利权)人：菲尼萨公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]
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