光角度检测装置、其制造方法和使用它的电子机器制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光角度检测装置，本发明专利技术一实施例的光角度检测装置具备：第一受光透镜、第一受光元件、第二受光透镜和第二受光元件，所述第一和第二受光透镜以及所述第一和第二受光元件配置为使通过所述第一受光元件的受光面中心和所述第一受光透镜顶点的第一直线、通过所述第二受光元件的受光面中心和所述第二受光透镜顶点的第二直线、以及通过所述第一受光元件的受光面中心和所述第二受光元件的受光面中心的第三直线形成为等腰三角形。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及接收从遥控发送器等的光源射出的光信号并检测该光源方 向的光角度检测装置、其制造方法和使用它的电子机器。
技术介绍
这种现有的装置能够大致区分为下面的三种。第 一种是使光信号通过遮光板的小孔而向多个受光元件(PD等)或位置传感器(PSD)射入的装 置，第二种是把多个受光元件倾斜配置并根据各自的受光强度来检测指向 性差异的装置，第三种是检测位置传感器或固体摄像元件(CCD、 CMOS 等)的受光强度分布的装置。所述第一种的现有装置例如公开在JP特开平6-241757号公报(以下称 为专利文献l)、 JP特开平8-210825号公报(以下称为专利文献2)、 JP特 开平8-340124号公报(以下称为专利文献3)中，使光信号通过遮光板的 小孔而向多个受光元件或位置传感器射入，检测光信号的射入位置，并根 据该射入位置来求光源的方向。JP特开平8-264826号公报(以下称为专利 文献4)公开了在遮光材料的两侧后方分开配置多个受光元件，在光信号 射入时，检测向各受光元件的受光面上投影的遮光材料的阴影位置，并根 据该遮光材料的阴影位置来求光源的方向。无论上述那一项技术，都是利 用与日晷同样的原理，由光源方向捕捉射入光或遮光材料阴影的变化并加 以利用。所述第二种的现有装置例如公开在JP特开平1-13681号公报(以下称 为专利文献5)、 JP特许第3508714号公报(以下称为专利文献6)，配置多 个受光元件并使各个受光元件的指向性不同，通过比较各受光元件的受光 输出来求光源的方向。而且所述第三种的现有装置例如公开在JP特开平9-49733号公报(以 下称为专利文献7)、 JP特开平6-241757号公报(以下称为专利文献8), 使光信号通过受光透镜并向多个受光元件或位置传感器射入，检测光信号的射入位置或聚光点形状，并根据这些射入位置和聚光点形状来求光源的方向。JP特开2007-13536号公报(以下称为专利文献9)公开了把光信 号向CCD或CMOS等固体摄像元件射入，检测受光强度最高的固体摄像元 件的像素，根据该像素的位置来求光源的方向。但所述第一种现有装置(专利文献1 4)中，尽管接收从远方的光源呈 放射状扩展的光信号的光束，但由于使光信号通过小孔向受光元件或位置 传感器射入，或是由遮光材料把光信号进行遮光并由受光元件检测其阴影， 所以受光元件或位置传感器的受光量小，它们的输出水平非常低，检测灵 敏度低。所述第二种现有装置(专利文献5、 6)中，由于由受光元件将来自远 方光源的、呈放射性扩展的光信号的光束原封不动地接收，所以为了提高 受光元件的受光输出水平，只有扩大受光元件的受光面积，使成本上升或 使装置大型化。并且，斜面上受光元件的定位精度对检测精度的影响很大， 所以要求有较高的定位精度。 一般来说，在机械化制造处理中能够以高精 度进行相对于平面的定位，但以高精度进行相对于斜面的定位则非常困难。 何况在利用人工的制造过程中，其生产效率和精度不好是显而易见的。所述第三种的现有装置(专利文献7-9)中，由于把光信号通过受光透 镜聚光并向多个受光元件、位置传感器、固体摄像元件射入，所以它们的 受光输出变高。但在使用多个受光元件的情况下，若不增多受光元件的数 量就不能提高检测精度，使成本上升或使装置大型化。在使用位置传感器 或固体摄像元件的情况下，元件的单价高，不能避免成本上升。
技术实现思路
本专利技术是鉴于这种状况而开发的，目的在于提供一种检测灵敏度高且 便宜小型的光角度检测装置、其制造方法和使用它的电子机器。本专利技术的光角度检测装置并列设置第一受光部和第二受光部，该第一 受光部具有把射入光聚光的第一受光透镜和接收被该第一受光透镜聚光的 所述射入光的第一受光元件，该第二受光部具有把所述射入光聚光的第二 受光透镜和接收被该第二受光透镜聚光的所述射入光的第二受光元件，所 述第一受光透镜、所述第一受光元件、所述第二受光透镜和所述第二受光 元件配置为使通过所述第一受光元件的受光面中心和所述第一受光透镜顶点的第一直线、通过所述第二受光元件的受光面中心和所述第二受光透镜 顶点的第二直线、以及通过所述第一受光元件的受光面中心和所述第二受光元件的受光面中心的第三直线形成以该第三直线作为底边的等腰三角 形，并使所述第 一和第二受光元件的受光输出按照所述射入光相对所述第 三直线的射入角来变化。根据该结构，来自光源的射入光经由第 一受光透镜向第 一受光元件射 入，同时还经由第二受光透镜向第二受光元件射入，这时，第一受光元件 和第二受光元件的受光输出水平按照光源的方向而变化。因此，能够根据 第一受光元件和第二受光元件的受光输出水平来求光源的方向。由于使用 第一和第二受光透镜，所以能够把射入光聚光并向第一和第二受光元件射 入，第一和第二受光元件的受光量增加，能够提高第一和第二受光元件的 检测灵敏度。且由于作为第一和第二受光元件能够适用两个光电二极管等， 所以能够把装置的成本抑制低。本专利技术的光角度检测装置中，所述第一和第二受光元件也可以被密封 在同 一透光性树脂内。根据该结构，由于第 一和第二受光元件被密封在同 一透光性树脂内， 所以能够把装置小型化。本专利技术的光角度检测装置中，所述第一和第二受光透镜由密封所述第 一和第二受光元件的透光性树脂的 一部分成型而成。根据该结构，由于把透光性树脂的 一部分成型为第 一和第二受光透镜， 所以能够谋求减少零件个数和降低成本。本专利技术的光角度检测装置也可以在所述第一和第二受光透镜之间设置 有遮光部，利用所述遮光部来防止不经由所述第一受光透镜的光射入所述 第一受光元件以及不经由所述第二受光透镜的光射入所述第二受光元件。根据该结构，由于在第一和第二受光透镜之间设置遮光部，所以经由 第一受光透镜的射入光不会向第二受光透镜射入而成为干扰成分，而经由 第二受光透镜的射入光也不会向第 一受光透镜射入而成为干扰成分。因此， 仅是经由第一受光透镜的有效射入光射入第一受光元件，仅是经由第二受 光透镜的有效射入光射入第二受光元件。即从第一受光元件的规定指向性 偏离的光不向该第 一受光元件射入，且从第二受光元件的规定指向性偏离 的光不向该第二受光元件射入。本专利技术的光角度检测装置中，也可以是所述第一受光元件受光面的法 线、所述第一受光透镜的主轴、所述第二受光元件受光面的法线和所述第 二受光透镜的主轴相互平行，且与所述第三直线垂直。本专利技术的光角度检测装置中，也可以是所述第 一受光元件受光面的法 线与所述第二受光元件受光面的法线相互平行，且与所述第三直线垂直， 所述第一受光透镜的主轴和所述第二受光透镜的主轴分别与所述第一和第 二直线一致，连结第一和第二受光透镜各自顶点的直线与第三直线平行。本专利技术的光角度检测装置中，也可以是通过所述第 一受光元件受光面 中心的法线和所述第一受光透镜的主轴都与所述第一直线一致，通过所述 第二受光元件受光面中心的法线和所述第二受光透镜的主轴都与所述第二 直线一致。本专利技术的光角度检测装置中，也可以是所述第一受光元件和所述第一 受光透镜、所述第二受光元件和所述第二受光透镜被安装在各自的引线框 中，该各个引线框配置为使这些引线框各自的法线与所述第一和第二直线 一致。本专利技术的光角度检测装置中，也可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光角度检测装置，其特征在于，并列设置第一受光部和第二受光部，该第一受光部具有把射入光聚光的第一受光透镜和接收被该第一受光透镜聚光的所述射入光的第一受光元件，　该第二受光部具有把所述射入光聚光的第二受光透镜和接收被该第二受光透镜聚光 的所述射入光的第二受光元件，　所述第一受光透镜、所述第一受光元件、所述第二受光透镜和所述第二受光元件配置为使通过所述第一受光元件的受光面中心和所述第一受光透镜顶点的第一直线、通过所述第二受光元件的受光面中心和所述第二受光透镜顶点的第二 直线、以及通过所述第一受光元件的受光面中心和所述第二受光元件的受光面中心的第三直线形成以该第三直线作为底边的等腰三角形，并使所述第一和第二受光元件的受光输出按照所述射入光相对所述第三直线的射入角来变化。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：和田秀夫，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]