光角度检测装置、其制造方法和使用它的电子机器制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光角度检测装置，本发明专利技术一实施例的光角度检测装置具备：第一受光透镜、第一受光元件、第二受光透镜和第二受光元件，所述第一和第二受光透镜以及所述第一和第二受光元件配置为使通过所述第一受光元件的受光面中心和所述第一受光透镜顶点的第一直线、通过所述第二受光元件的受光面中心和所述第二受光透镜顶点的第二直线、以及通过所述第一受光元件的受光面中心和所述第二受光元件的受光面中心的第三直线形成为等腰三角形。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及接收从遥控发送器等的光源射出的光信号并检测该光源方 向的光角度检测装置、其制造方法和使用它的电子机器。
技术介绍
这种现有的装置能够大致区分为下面的三种。第 一种是使光信号通过遮光板的小孔而向多个受光元件(PD等)或位置传感器(PSD)射入的装 置，第二种是把多个受光元件倾斜配置并根据各自的受光强度来检测指向 性差异的装置，第三种是检测位置传感器或固体摄像元件(CCD、 CMOS 等)的受光强度分布的装置。所述第一种的现有装置例如公开在JP特开平6-241757号公报(以下称 为专利文献l)、 JP特开平8-210825号公报(以下称为专利文献2)、 JP特 开平8-340124号公报(以下称为专利文献3)中，使光信号通过遮光板的 小孔而向多个受光元件或位置传感器射入，检测光信号的射入位置，并根 据该射入位置来求光源的方向。JP特开平8-264826号公报(以下称为专利 文献4)公开了在遮光材料的两侧后方分开配置多个受光元件，在光信号 射入时，检测向各受光元件的受光面上投影的遮光材料的阴影位置，并根 据该遮光材料的阴影位置来求光源的方向。无论上述那一项技术，都是利 用本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光角度检测装置，其特征在于，并列设置第一受光部和第二受光部，该第一受光部具有把射入光聚光的第一受光透镜和接收被该第一受光透镜聚光的所述射入光的第一受光元件，　该第二受光部具有把所述射入光聚光的第二受光透镜和接收被该第二受光透镜聚光 的所述射入光的第二受光元件，　所述第一受光透镜、所述第一受光元件、所述第二受光透镜和所述第二受光元件配置为使通过所述第一受光元件的受光面中心和所述第一受光透镜顶点的第一直线、通过所述第二受光元件的受光面中心和所述第二受光透镜顶点的第二 直线、以及通过所述第一受光元件的受光面中心和所述第二受光元件的受光面中心的第三直线形成以该第三直线作为底边的...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：和田秀夫，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]