一种采用激光位移传感器进行非接触测量工件角度的方法技术

一种采用激光位移传感器进行非接触测量工件角度的方法，属于光电测量技术领域中涉及的测量角度的一种方法。解决的技术问题是：提供一种采用激光位移传感器进行非接触测量工件角度的方法。技术方案为：第一步，建立测量装置；第二步，令光栅尺定尺与被测件保持合适的距离，使被测件上的测量点与激光位移传感器的距离在激光位移传感器的量程范围内；第三步，将被测件的被测表面一和表面二上测量出的四个点坐标数据代入斜率公式Ｋ＝（Ｙ↓［１］－Ｙ↓［２］）／（Ｘ↓［１］－Ｘ↓［２］），求出斜率Ｋ↓［１］及斜率Ｋ↓［２］，根据斜率Ｋ↓［１］、Ｋ↓［２］即可得到两表面的夹角正切值ｔｇθ＝（Ｋ↓［１］－Ｋ↓［２］）／（１＋Ｋ↓［１］Ｋ↓［２］），由此夹角θ可以求出；为了提高测量精度，可取多个测量值并将测量结果求平均。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光电测量
中涉及的一种测量工件角度的方法。
技术介绍
一般情况下，工件角度的测量普遍采用的方法是接触式测量。对 于形状较复杂的工件，接触式的角度测量方法存在着明显的局限性。 一方面受到测量仪器本身尺寸和形状的限制，另一方面被测工件的复 杂程度也使直接接触测量难以实现，如工件内部两个面之间的角度的 测量、复杂模具某种角度的测量等，这是在工业应用及科学研究中经 常遇到的问题。在已有的技术中，与本专利技术最为接近的已有技术是常规的角度 测量普遍采用测角器，如图l所示包括被测件l，测角器2，测角 器的使用方法在许多书中都可以找到。对于形状简单的工件可以直接 采用卡尺测量，而对于测角器无法放置的情形，无法测量。
技术实现思路
为了克服已有技术存在的缺陷，本专利技术的目的在于能对复杂形状 工件实施角度的测量，特设计一种采用非接触式的对工件角度测量的 方法。本专利技术要解决的技术问题是提供一种采用激光位移传感器进行 非接触测量工件角度的方法。解决技术问题的技术方案为第一步，建立测量装置,如图2所示，该装置包括被测件3，光栅尺定尺4，光栅尺动尺5，激光位移传感器6，处理器7，光栅本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种采用激光位移传感器进行非接触测量工件角度的方法，包括被测件，其特征在于第一步，建立测量装置；该装置包括光栅尺定尺（４），光栅尺动尺（５），激光位移传感器（６），处理器（７），光栅数据采集卡（８），第一数据传输线（９），第二数据传输线（１０），计算机（１１）；光栅尺是由光栅尺定尺（４）和光栅尺动尺（５）组成，光栅尺动尺（５）能沿光栅尺定尺（４）的长度方向移动，光栅尺动尺（５）通过导线与光栅数据采集卡（８）连接，光栅数据采集卡（８）的输出端通过第一数据传输线（９）与计算机（１１）的输入端连接；激光位移传感器（６）安装在光栅尺动尺（５）上，随光栅尺动尺（５）移动，激光位移传感器（６）的测量头朝向...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱万彬，李启海，莫仁芸，王成彬，佟丽翠，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：82[中国|长春]