存储器健康监视制造技术

一种数据存储设备，可以配置为将第一数据写入到非易失性存储器的存储元件的第一集合和将第二数据写入到非易失性存储器的存储元件的第二集合。第一数据可以通过数据成形操作处理，且第二数据可以不通过数据成形操作处理。数据存储设备可以进一步配置为从存储单元的第二集合读取第二数据的表示，以及基于第二数据的表示确定非易失性存储器的一部分的块健康量度。该部分可以包括存储元件的第一集合和存储元件的第二集合。作为说明性的非限定示例，第一部分可以是非易失性存储器的第一块。

Memory health monitoring

A data storage device can be configured to write the first data to the first set of the storage elements of the non-volatile memory and to set the second data to the second set of the storage elements of the non-volatile memory. The first data can be processed by the data forming operation, and the second data can not be processed by the data forming operation. The data storage device can be further configured to read the representation of the second data from the second set of the storage unit, and to determine the block health measurement of a part of the non-volatile memory based on the representation of the second data. This part can include a first set of storage elements and a second set of storage elements. As an explanatory unqualified example, the first part can be the first part of the nonvolatile memory.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】存储器健康监视
本公开一般涉及存储器健康监视。
技术介绍
数据存储设备可以将成形的数据存储到存储器的多个块以减小所述多个块上的损耗。例如，数据成形操作可以生成具有比具有第二值(例如，逻辑0值)的位更大数目的具有第一值(例如，逻辑1值)的位的成形数据。与存储具有逻辑0值的位相比，存储具有逻辑1值的位到存储器的块可以减小对块的损耗。在数据存储设备的寿命期间，编程(例如，写入)数据到存储器和在存储器擦除数据恶化存储器的健康。因此，存储器块的健康可以基于在存储器块的编程-擦除(P/E)周期的数目。另外，存储器块的健康可以由在存储器块存储的数据中的位错误的数目指示。例如，随着损耗增大，存储元件可能损坏，导致存储的数据中的位错误。因此，存储器块的块健康量度可以基于存储的数据的位错误率(例如，故障位计数(FBC))和P/E周期的数目来确定。但是，某些存储元件的故障可能是注意不到的，除非在存储元件中存储特定值(例如，逻辑1值)。例如，存储元件可能能够存储足够的电荷以表示逻辑0值，但是可能不能存储足够的电荷以表示逻辑1值。因为成形数据可能存储比逻辑0值更多的逻辑1值，某些位故障可以不由基于成形数据生成的位错误率指示。因此，如果位错误率(和相应的块健康量度)基于成形数据确定，则位错误率可能不表示存储器块的平均健康。附图说明图1是配置为测量存储至少一些成形数据和一些未成形数据的存储器的健康的系统的特定说明性示例的框图；图2是图示存储成形数据和未成形数据的图1的存储器104的闭合块的框图；图3是图示存储成形数据和未成形数据的图1的存储器104的打开块的框图；图4是图示图1的数据存储设备的控制器的操作方法的特定示例的流程图；和图5是图示图1的数据存储设备的控制器的操作方法的另一特定示例的流程图。具体实施方式参考附图描述特定实施方式。在描述中，共同的特征遍及附图由共同的附图标记指定。如在此使用的，用于修改比如结构、组件、操作等的元件的序数术语(例如，“第一”、“第二”、“第三”等)本身不指示元件相对于另一元件的任何优先级或者次序，而是仅区分具有相同名称的该元件与另一元件(但是用于序数术语的使用)。参考图1，系统的特定说明性示例被示出且一般被指定为100。系统100包括数据存储设备102和访问设备150。数据存储设备102包括控制器120和耦合到控制器120的比如非易失性存储器的存储器104。数据存储设备102(例如，控制器120)可以配置为在特定时间将成形数据和至少一些未成形数据写入到存储器104的一部分。为了图示，控制器120可以从访问设备150接收要写入(例如，编程)到存储器104的特定部分(例如，第一部分103)的数据。控制器120可以使用一个或多个P/E计数器166保持与存储器104的每个部分相关联的编程和擦除(P/E)周期的计数。P/E周期指的是期间存储器104的部分(例如，块)被擦除且然后以数据写入(例如，编程)的时间段。如果与第一部分103相关联的P/E周期的计数是特定计数值的倍数，则控制器120可以确定在第一部分103在当前P/E周期期间写入一些成形数据和一些未成形数据。作为一个说明性的非限定示例，控制器120可以配置为在每个第一百二十八P/E周期期间，和在其他127P/E周期，将一些成形数据和一些未成形数据写入到第一部分103，控制器120可以将成形数据写入到(且不写入未成形数据到)第一部分103。在特定P/E周期期间，可以通过一个或多个数据成形操作在数据成形器172处理从访问设备150接收到的写入数据(例如，用户数据)的第一部分，以生成第一数据134。写入数据的第二部分可以绕过数据成形器172(或者可以在由数据成形器172处理之前通过一个或多个预处理操作预处理，如在这里另外描述的)，以生成第二数据135。第一数据134可以包括成形数据，且第二数据135可以包括未成形数据。第一数据134可以写入到第一部分103的存储元件的第一集合111，且第二数据135可以写入到第一部分103的存储元件的第二集合112。在特定P/E周期之后，存储器104的第一部分103可以存储一些成形数据和一些未成形数据。成形数据可以包括比具有第二值(例如，逻辑0值)的位更多的具有第一值(例如，逻辑1值)的位，且存储具有第一值的位可以比存储具有第二值的位更慢地损耗存储元件。因为在特定P/E周期期间而不是在其他P/E周期期间将未成形数据写入到第一部分103(到存储元件的第二集合112)，所以在存储器104的寿命期间写入到第一部分103的大百分比的数据是成形数据，这减少了对第一部分103的损耗。为了确定在特定P/E周期期间将未成形数据写入到哪个存储元件，控制器120可以访问未成形数据位置信息162。未成形数据位置信息162可以标识一组或多组字线，且控制器120可以配置为将未成形数据写入到经由该未成形数据位置信息162中标识的一组或多组字线可访问的存储元件(例如，存储元件的第二集合112)。在特定P/E周期之后，控制器120可以在轮询周期期间从经由未成形数据位置信息162中标识的一组或多组字线可访问的存储元件接收未成形数据的表示，如在这里另外描述的。另外，在特定P/E周期之后和在下一P/E周期之前的读取操作期间，控制器120可以接收数据(例如，第一数据134和第二数据135)的表示。控制器120可以在数据成形器172通过一个或多个数据去成形操作处理与存储元件的第一集合111相关联的数据的表示，且不由数据成形器172处理与存储元件的第二集合112相关联的数据的表示(基于经由由未成形数据位置信息162指示的一组或多组字线可访问的存储元件的第二集合112)。在某些实施方式中，一组或多组字线可以和与成形数据的存储相关联的字线散布(intersperse)，以使得在特定P/E周期之后，第一部分103存储以成形数据散布的未成形数据。数据存储设备102(例如，控制器120)可以配置为确定(例如，计算)表示块的健康的存储器104的部分(例如，块)的块健康量度。为了使能表示第一部分103的块健康量度178的计算，控制器120可以配置为在存储器104的第一部分103周期性地启动轮询周期。例如，在第一部分103在特定P/E周期(或者特定P/E周期的倍数)之后，控制器120可以在第一部分103启动轮询周期。在轮询周期期间，控制器120可以执行与第一部分103的健康对应的测量。例如，控制器120可以从存储器104接收第二数据135的表示136，且控制器120(例如，存储器健康监视器176)可以基于该表示136和基于由一个或多个P/E计数器166保持的P/E周期的计数确定块健康量度178。块健康量度178可以基于该表示136的BER。例如，控制器120(例如，纠错码(ECC)引擎174)可以确定该表示136的BER，且存储器健康监视器176可以基于该BER和与第一部分103相关联的P/E周期的计数确定(例如，计算)第一部分103的块健康量度178。在确定存储器104的第一部分103(例如，第一块)的块健康量度178之后，控制器120可以启动一个或多个动作以基于块健康量度增大第一部分103的有效寿命(usefullifetime)。因为基于第二数据135(例如本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数据存储设备，包括：非易失性存储器；以及控制器，耦合到非易失性存储器，所述控制器配置为：将第一数据写入到可经由非易失性存储器的第一字线访问的存储元件的第一集合，所述第一数据通过数据成形操作处理；将第二数据写入到可经由非易失性存储器的第二字线访问的存储元件的第二集合，其中，所述第二数据未通过数据成形操作处理；从所述存储元件的第二集合读取第二数据的表示；和基于所述第二数据的表示确定非易失性存储器的一部分的块健康量度，所述部分包括所述存储元件的第一集合和所述存储元件的第二集合。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.06.25 US 62/184,676;2015.10.27 US 14/924,6151.一种数据存储设备，包括：非易失性存储器；以及控制器，耦合到非易失性存储器，所述控制器配置为：将第一数据写入到可经由非易失性存储器的第一字线访问的存储元件的第一集合，所述第一数据通过数据成形操作处理；将第二数据写入到可经由非易失性存储器的第二字线访问的存储元件的第二集合，其中，所述第二数据未通过数据成形操作处理；从所述存储元件的第二集合读取第二数据的表示；和基于所述第二数据的表示确定非易失性存储器的一部分的块健康量度，所述部分包括所述存储元件的第一集合和所述存储元件的第二集合。2.如权利要求1所述的数据存储设备，其中，所述块健康量度基于所述第二数据的表示的位错误率和基于与非易失性存储器的所述部分对应的编程和擦除周期的计数来确定。3.如权利要求2所述的数据存储设备，其中，所述块健康量度基于所述第二数据的表示的位错误率与一个或多个位错误率阈值的比较来确定。4.如权利要求1所述的数据存储设备，其中，所述数据成形操作配置为生成具有比具有第二值的位更大数目的具有第一值的位的成形数据。5.如权利要求1所述的数据存储设备，其中，所述控制器配置为存储标识与未通过成形操作成形的数据相关联的一组字线的表，且其中，该组字线包括第二字线。6.如权利要求5所述的数据存储设备，其中，所述表进一步标识与未通过数据成形操作成形的数据相关联的第二组字线，其中，所述控制器进一步配置为在第一轮询周期之前将未成形数据写入到可经由该组字线访问的存储元件，且其中，所述控制器进一步配置为在第二轮询周期之前将未成形数据写入到可经由第二组字线访问的存储元件。7.如权利要求5所述的数据存储设备，其中，所述非易失性存储器被划分为多个部分，且其中，所述多个部分中的每一个与表中的相应的条目相关联。8.如权利要求7所述的数据存储设备，其中，所述多个部分包括所述非易失性存储器的多个块。9.如权利要求5所述的数据存储设备，其中，所述控制器进一步配置为在非易失性存储器的所述部分的轮询周期期间，将未通过数据成形操作处理的数据写入到非易失性存储器的所述部分的存储元件的一个或多个集合的每一个，且其中，基于该组字线选择所述存储元件的一个或多个集合。10.一种方法，包括：将第一数据写入到可经由非易失性存储器的第一字线访问的存储元件的第一集合，所述第一数据通过数据成形操作处理；将第二数据写入到可经由非易失性存储器的第二字线访问的存储元件的第二集合，其中，所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：NN杨，I阿尔罗德，
申请(专利权)人：桑迪士克科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：美国,US