基板切割面辅助检测治具制造技术

基板切割面辅助检测治具包括底板和第一反射元件。底板包括承载面，承载面具有基板承载区域，基板承载区域具有第一侧边。第一反射元件设置于承载面上，位于基板承载区域外并靠近第一侧边。第一反射元件具有朝向基板承载区域的第一反射面，且第一反射面与承载面具有第一夹角。基板切割面辅助检测治具用于承载待检测基板，并配合显微镜简单方便的对待检测基板的切割面进行检测，有利于节约成本，并有利于检测切割面的真实切割情况。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
基板切割面辅助检测治具
本技术涉及显示面板制作
，且特别是涉及一种基板切割面辅助检测治具。
技术介绍
在显示面板的生产制造过程中，通常需要利用切割制程来进行切割以分离单个面板，而切割面的均匀性可能会直接影响到后续所组装产品的品质。目前，面板的切割面的观察一般有两种方法。第一种方法是采用3D显微镜直接进行切割面的观察检测。但是，3D显微镜价格昂贵，由于面板通常为矩形，长短边的尺寸不一致，导致每次更换不同的边检测切割面都需要重新调整3D显微镜的焦距，而且设置焦距可能无法满足小尺寸(3?5寸)面板的切割面的检测需求，此外，目前还没有既能把面板直立起来方便检查切割面，又保持其他切割面完好无损的治具。因此，采用3D显微镜进行放大观察检测切割面成本较高且操作复杂，也不利于观察完好的切割面。第二种方法是利用显微镜来观察检测面板之外的其他切割区域的切割面来间接观察面板的切割面。但是，目前的面板大多采用一个直接连接一个(side by side)的设计,并不会存在其他切割区域。即使在切割的过程中有其他切割区域的切割面可以观察，其他切割区域的切割面也不能完全准确的反映面板的切割面的实际情况。因此，利用显微镜来观察检测面板之外的其他切割区域的切割面来间接观察面板的切割面的方法并不十分适用和可靠。
技术实现思路
本技术的目的在于，提供一种基板切割面辅助检测治具，其用于承载待检测切割面的基板，并配合显微镜简单方便的对待检测基板的切割面进行检测，有利于节约成本，并有利于检测切割面的真实切割情况。本技术解决其技术问题是采用以下的技术方案来实现的。一种基板切割面辅助检测治具，其包括底板和第一反射元件。底板包括承载面，承载面具有基板承载区域，基板承载区域具有第一侧边。第一反射元件设置于承载面上，位于基板承载区域外并靠近第一侧边。第一反射元件具有朝向基板承载区域的第一反射面，且第一反射面与承载面具有第一夹角。在本技术的较佳实施例中，上述第一反射元件的长度方向与第一侧边平行。在本技术的较佳实施例中，上述基板承载区域还具有与第一侧边相连接的第二侧边，基板切割面辅助检测治具还包括第二反射元件。第二反射元件设置于承载面上，位于基板承载区域外并靠近第二侧边，且具有朝向基板承载区域的第二反射面，第二反射面与承载面具有第二夹角。在本技术的较佳实施例中，上述第二反射元件的长度方向与第二侧边平行。在本技术的较佳实施例中，上述基板承载区域还具有第二侧边、第三侧边和第四侧边，第三侧边和第一侧边相对，第四侧边和第二侧边相对。基板切割面辅助检测治具还包括第一限位块，第一限位块沿平行于第二侧边的第一方向滑动地设置于承载面上并位于基板承载区域。在本技术的较佳实施例中，上述基板切割面辅助检测治具还包括第一标尺，第一标尺的刻度方向平行于第一方向。在本技术的较佳实施例中，上述基板切割面辅助检测治具还包括第二限位块，第二限位块沿平行于第一侧边的第二方向滑动地设置于承载面上并位于基板承载区域。在本技术的较佳实施例中，上述基板切割面辅助检测治具还包括第二标尺，第二标尺的刻度方向平行于第二方向。在本技术的较佳实施例中，上述基板切割面辅助检测治具还包括承载台，承载台设置于底板上并位于基板承载区域。在本技术的较佳实施例中，上述基板切割面辅助检测治具还包括限位元件。限位元件设置于承载面上，位于基板承载区域外并靠近第一侧边，限位元件相对承载面的高度高于承载台相对承载面的高度，并具有朝向承载台的抵靠面，且抵靠面于承载面的正投影线位于与基板承载区域的第一侧边重合。本技术的基板切割面辅助检测治具，在底板设置有第一反射元件，第一反射元件设置于承载面并位于基板承载区域外，由于第一反射元件具有朝向基板承载区域的第一反射面，且第一反射面与承载面具有第一夹角，当待检测基板设置于基板承载区域时，第一反射面即与待检测基板的切割面倾斜相对，从而将切割面的形貌的光线信息进行反射。此时，配合显微镜来接收第一反射面反射的光线信息，即可简单方便的对待检测基板的切割面进行检测，无需使用昂贵的3D显微镜，也无需使用其他切割区域的间接分析方法，因此，有利于节约成本，并有利于检测获得切割面的真实切割情况。上述说明仅是本技术技术方案的概述，为让本技术的上述
技术实现思路
和其目的、特征、优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明。【附图说明】图1是本技术第一实施例的基板切割面辅助检测治具的结构俯视示意图。图2是图1所示的基板切割面辅助检测治具沿I1-1I线的剖视结构示意图。图3是本技术第一实施例的基板切割面辅助检测治具的使用状态示意图。图4是本技术第二实施例的基板切割面辅助检测治具的结构俯视示意图。图5是图4所示的基板切割面辅助检测治具沿V-V线的剖视结构示意图。图6是图4所示的基板切割面辅助检测治具沿V1-VI线的剖视结构示意图。图7是本技术第二实施例的基板切割面辅助检测治具的使用状态示意图。图8是本技术第三实施例的基板切割面辅助检测治具的结构俯视示意图。图9是图8所示的基板切割面辅助检测治具沿IX-1X线的剖视结构示意图。图10是图8所示的基板切割面辅助检测治具沿X-X线的剖视结构示意图。图11是本技术第三实施例的基板切割面辅助检测治具的使用状态示意图。【具体实施方式】为更进一步阐述本技术为达成预定技术目的所采取的技术手段及所达功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本技术提出的【具体实施方式】、结构、特征及其功效，作详细说明:有关本技术的前述及其它
技术实现思路
、特点及功效，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中将可清楚呈现。通过【具体实施方式】的说明，当可对本技术为达成预定目的所采取的技术手段及所达功效得以更加深入且具体的了解，然而所附图式仅是提供参考与说明之用，并非用来对本技术加以限制。图1是本技术第一实施例的基板切割面辅助检测治具的结构俯视示意图。图2是图1所示的基板切割面辅助检测装置沿I1-1I线的剖视结构示意图。请一并参阅图1和图2，本实施例中，基板切割面辅助检测治具100主要包括底板110以及第一反射元件120。底板110包括承载面111，承载面111具有基板承载区域112。本实施例中，为了配合大多数待检测基板的矩形形状，基板承载区域112大致呈矩形。具体地，基板承载区域112具有第一侧边112a、第二侧边112b、第三侧边112c以及第四侧边112d，其中第一侧边112a与第三侧边112c相对，第二侧边112b与第四侧边112d相对。因此，第二侧边112b平行于第四侧边112d，并定义平行于第二侧边112b的方向为第一方向Al，第一侧边112a平行于第三侧边112c，并定义平行于第一侧边112a的方向为第二方向A2。较佳地，底板110的承载面111上可设置承载台160，承载台160位于基板承载区域112。本实施例中，承载台160大致呈与基板承载区域112相匹配的矩形，但并不以此为限。第一反射元件120设置于底板110的承载面111上，位于基板承载区域112之外并靠近第一侧边112a。本实施例中，第一反射元件120的长度方向与第一侧边112a平行，且优选地，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基板切割面辅助检测治具，其特征在于，该检测治具包括：底板，包括承载面，该承载面具有基板承载区域，该基板承载区域具有第一侧边；以及第一反射元件，设置于该承载面上，位于该基板承载区域外并靠近该第一侧边，该第一反射元件具有朝向该基板承载区域的第一反射面，且该第一反射面与该承载面具有第一夹角。

【技术特征摘要】
1.一种基板切割面辅助检测治具，其特征在于，该检测治具包括: 底板，包括承载面，该承载面具有基板承载区域，该基板承载区域具有第一侧边；以及 第一反射元件，设置于该承载面上，位于该基板承载区域外并靠近该第一侧边，该第一反射元件具有朝向该基板承载区域的第一反射面，且该第一反射面与该承载面具有第一夹角。2.根据权利要求1所述的基板切割面辅助检测治具，其特征在于，该第一反射元件的长度方向与该第一侧边平行。3.根据权利要求1所述的基板切割面辅助检测治具，其特征在于，该基板承载区域还具有与该第一侧边相连接的第二侧边，该基板切割面辅助检测治具还包括第二反射元件，该第二反射元件设置于该承载面上，位于该基板承载区域外并靠近该第二侧边，且具有朝向该基板承载区域的第二反射面，该第二反射面与该承载面具有第二夹角。4.根据权利要求3所述的基板切割面辅助检测治具，其特征在于，该第二反射元件的长度方向与该第二侧边平行。5.根据权利要求1所述的基板切割面辅助检测治具，其特征在于，该基板承载区域还具有第二侧边、第三侧边和第四侧边，该第三侧边和该第一侧边相对，该第四侧边与该第二侧边相对，该基板切割面辅助检测治具还包括第一限位块...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭理超，王雷，
申请(专利权)人：昆山龙腾光电有限公司，
类型：实用新型
国别省市：