分栅电阻器结构及其制作方法技术

技术编号:9382690 阅读:159 留言:0更新日期:2013-11-28 00:55
本发明专利技术提出一种分栅电阻器结构及其制作方法,由所述硬掩模层作阻挡刻蚀形成第一沟槽,然后在所述第一沟槽中形成第一侧墙,接着刻蚀所述第一侧墙,形成第二沟槽,然后在所述第二沟槽中依次形成第二侧墙和虚拟栅极,最后去除所述硬掩模层;由于在进行上述步骤时,所述分栅电阻层的宽度增加且容易调节,进而提高了所述分栅电阻的实用性和灵活性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种分栅电阻器的制作方法,包括:提供半导体衬底;在所述半导体衬底上依次形成分栅电阻层以及硬掩模层;刻蚀所述硬掩模层,形成第一沟槽,所述第一沟槽暴露出所述分栅电阻层;在所述第一沟槽中形成第一侧墙;刻蚀所述第一沟槽中的所述分栅电阻层,形成第二沟槽;在所述第二沟槽中依次形成第二侧墙和虚拟栅极,所述第二侧墙隔离所述分栅电阻层与虚拟栅极;刻蚀去除所述硬掩模层。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:高超
申请(专利权)人:上海宏力半导体制造有限公司
类型:发明
国别省市:

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