【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种。属于集成电路或分立器件制造
技术介绍
在生产分立器件开关二极管、快恢复二极管芯片中有一道非常关键的工序就是重金属掺杂;在半导体硅中掺入重金属后,重金属原子会以替位或填隙方式占据在硅中,形成深能级复合中心,这缩短了少子复合路程,大大提高少子复合几率,减小少子寿命,从而达到减小反向恢复时间的目的。如果没有该工序,所生产出来的二极管芯片反向恢复时间很长,不能用于高频电路中,Pt就是掺杂金属之一。目前国内半导体生产厂家在半导体中掺入Pt原子的方法是将纯度为99.999%的金属Pt通过受控的高能电子束轰击,将电子轰击的动能转化为热能,瞬间使金属Pt融化并转化为气态,均匀地蒸发到半导体硅片上,然后对硅片进行高温处理,以达到将Pt原子掺入到半导体硅中的目的。由于金属Pt在淀积到硅片的过程中是无方向性的,很多都淀积在生产设备中,故会造成很大浪费,这是该技术的缺点之一;另外,该技术所用生产材料成本高,生产设备昂贵是另一弊端。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述不足,提供一种无需贵重金属材料和昂贵的生产设备即可实现的低成本Pt掺杂工艺。本专利技术的 ...
【技术保护点】
一种在半导体硅片上淀积与掺杂Pt的工艺方法,其特征在于所述方法包括以下步骤:步骤一:将氯铂酸与异丙醇按照1g:10—100ml比例进行混合,混合后在常温下静置大于24小时;步骤二:将静置后的混合溶液用毛笔涂覆在硅片表面上,硅片涂覆后在常温下放置,放置时间大于2小时;?步骤三:将上述硅片放入通有N2的高温扩散炉内进行900?1000℃高温处理,处理时间大于15分钟。
【技术特征摘要】
1.一种在半导体硅片上淀积与掺杂Pt的工艺方法,其特征在于所述方法包括以下步骤: 步骤一:将氯钼酸与异丙醇按照Ig =IO-1OOml比例进行混合,混合后在常温下静置大于24小时; 步骤二...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱瑞,吕伟,丁军,陈晓伦,冯东明,其他发明人请求不公开姓名,
申请(专利权)人:江阴新顺微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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