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在半导体硅片上淀积与掺杂Pt的工艺方法技术
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文档序号:8981279
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本发明涉及一种在半导体硅片上淀积与掺杂Pt的工艺方法,其特征在于所述方法包括以下步骤:步骤一:将氯铂酸与异丙醇按照1g:10—100ml比例进行混合,混合后在常温下静置大于24小时;步骤二:将静置后的混合溶液用毛笔涂覆在硅片表面上,硅片涂覆...
该专利属于江阴新顺微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过江阴新顺微电子有限公司授权不得商用。
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