半导体器件制造方法技术

一种半导体器件制造方法，其特征在于，所述方法包括：在对半导体器件的待电镀部件进行电镀金属的过程中，对所述半导体器件施加双脉冲电源，并且，在所述电镀的过程中对所述半导体器件施加超声波。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体
，尤其涉及。
技术介绍
随着半导体技术的不断发展，半导体器件(特别是逻辑器件)的关键尺寸不断减小。相应的，后端工艺中的通孔(via)和沟槽的尺寸也不断减小。这意味着金属(诸如铜)的电镀工艺变得越来越困难。另外，在现有技术的铜的电镀工艺中，可能会在铜塞中产生空洞(void)，如图1中所示。从而，可能会导致WAT(晶片接受测试)不通过，并可能导致工艺能力(CP)及成品率低的问题。并且，还会导致EM失效的问题。·因此，存在对克服上述问题的技术的需求。
技术实现思路
本专利技术的目的之一在于改善金属电镀工艺。本专利技术的另一目的在于改善后端工艺中孔(包括贯穿孔和通孔(或者，盲孔))和沟槽的缝隙填充。本专利技术的另一目的在于抑制或消除金属电镀过程中的空洞的发生，从而改善WAT通过率，提高CP成品率，并提高可靠性。根据本专利技术的一个实施例，提供了一种，其特征在于，所述方法包括在对半导体器件的待电镀部件进行电镀金属的过程中，对所述半导体器件施加双脉冲电源，并且，在所述电镀的过程中对所述半导体器件施加超声波。优选地,所述待电镀部件是电介质层或衬底中的开口，所述开口包括沟槽或者孔，所述孔包括贯穿孔或者盲通孔。优选地，所述双脉冲电源的脉冲频率为1800KHZ至5000KHz。优选地，所述双脉冲电源在一个脉冲周期的正向脉冲和反向脉冲的电流比为5 :1 至 10 :1。优选地，所述双脉冲电源在一个脉冲周期的正向脉冲和反向脉冲的时间比为10 I 至Ij 20 I。 优选地，所述超声波是间歇性地施加的。优选地，所述超声波是周期性地施加的。优选地，每次施加超声波的持续时间为5-20秒。优选地，所述超声波的频率为1000-5000HZ，功率为50-1500W。优选地，所述方法还包括在进行所述电镀之前，在待电镀部件的表面上形成金属种籽层。从下面结合附图的具体描述，本专利技术的其他的优点、目的、方面将变得更加明了。附图说明本申请包含附图。附图与说明书一起用于说明本专利技术的原理。通过参考附图阅读下面的详细描述，将更好地理解本专利技术，在附图中图1是示出了现有技术中在诸如铜的金属的电镀工艺中造成的空洞的示意图；图2详细示出了现有技术中金属的电镀工艺中的镀层形成过程的示意图；图3是示出了根据本专利技术的一个实施例的的示意图；图4是示出根据本专利技术一个实施例所施加的双脉冲电源的特性的示意图；以及图5示出了根据本专利技术的另一实施例的半导体器件的制造方法。 应当理解，这些附图仅仅是示例性的，而不是限制本专利技术的范围。在附图中，各组成部分并未严格按比例或严格按实际形状示出，其中的某些组成部分(例如，层或部件)可以被相对于其他的一些放大，以便更加清楚地说明本专利技术的原理。并且，那些可能导致使得本专利技术的要点模糊的细节并未在附图中示出。具体实施例方式下面将结合附图说明本专利技术的实施例。图2以更详细的方式示出了现有技术中金属的电镀工艺中的镀层形成过程。如图2(a)中所示，在器件中，在铜阻挡物201上形成有图案化(例如，具有贯穿孔或者通孔(例如，盲通孔)的电介质层203。铜阻挡物201可以形成在例如半导体衬底(图中未示出)上。通常，如本领域中所公知的，将器件浸入在含铜离子的溶液中，对衬底施加负电势，从而使得铜离子向衬底聚集，并在衬底表面处进行还原反应，从而使得铜被镀在衬底上。在电镀的初始阶段，所形成的金属(例如，铜)205保形地覆盖孔的底面和侧壁并覆盖衬底的表面。由于电镀更易于在凸起的角部处发生，因此随着电镀的铜层的厚度增加，在其角部位置处形成凸起207，如图2(b)中207所示。并且，随着铜层的厚度的进一步增加，孔两端的角部位置处的凸起207将逐渐增大，使得凸起之间的距离越来越近靠近，如图2(c)中209所示；在铜层达到一定厚度时，孔两端的角部位置处的相邻凸起有可能彼此最终搭接，并且可能在通过填充孔而形成的铜塞中留下空洞211，如图2(d)中所示。申请人:在细致研究了诸如铜的电镀工艺过程之后，提出了本专利技术，以抑制或克服现有技术中的上述问题或缺点。图3是示出了根据本专利技术的一个实施例的的示意图。在根据本专利技术的半导体器件的制造方法中，在对器件电镀金属的过程中，对器件施加双脉冲电源。如图3所示，在衬底(图中未示出)上形成有铜阻挡物305，在铜阻挡物305上形成有图案化的电介质层303。所述电介质层303可以是低k(low-k)电介质。所述电介质层303具有开口。所述开口可以包括沟槽(trench)或者孔，所述孔可以包括贯穿孔(throughhole)、通孔(例如，盲通孔)、或者贯穿衬底的孔(例如，所谓的贯穿硅的孔(throughsilicon hole))等等。这里，所述开口作为器件的待电镀铜的部件，更准确地讲，所述开口的表面(例如，侧壁和底面)作为待电镀铜的部件。然而应当理解这仅仅是示例性的。实际上，本领域技术人员可以根据需要自由地选择待电镀的部件，例如衬底、某些层，等等。为了电镀铜，将器件浸入在含铜离子的溶液中。例如，可以通过夹具夹持器件(大多数情况下，是夹持其上形成所述器件的晶片)，并对半导体器件施加双脉冲电源(例如，以所述夹具作为施加电源的电极)。所述双脉冲电源在一个脉冲周期内具有正电势脉冲和负电势脉冲两者，相应地，具有正的脉冲电流(或电压)和负的脉冲电流(或电压)两者。图4示意性地示出了根据本专利技术一个实施例所施加的双脉冲电源的特性。本领域技术人员将理解，例如，在对器件施加负脉冲(也称作正向(forward)脉冲或正向阳极脉冲，也即，阳极接正电压，器件接负电压)时，或者说，在对器件的待电镀的部件(例如，衬底·或者任何其它构件的表面或层)施加负脉冲时，器件或器件的待电镀的部件处于负电势，从而金属离子(例如，铜离子)在器件或器件的待电镀的部件的表面处发生还原反应，从而铜被电镀在器件的表面(或待电镀表面)上。而在对器件施加正脉冲(也称作反向脉冲或反向阳极脉冲，也即，阳极接负电压，器件接正电压)时，或者说，在对器件的待电镀的部件(例如，衬底或者任何其它构件(如，表面或层))施加正脉冲时，器件或器件的待电镀的部件处于正电势，从而溶液中的离子被排斥远离器件，并且在器件或器件的待电镀的部件的表面处发生金属的氧化反应，使得部分的电镀得到的金属例如铜被解离(电离，或者说，被离子化)。根据本专利技术的一些实施例，所述双脉冲电源的脉冲周期(或者频率)可以为约1800KHZ至5000KHZ。另外，优选地，所述双脉冲电源在一个脉冲周期的正向脉冲和反向脉冲的电流比为5 :1至10 :1。优选地，所述双脉冲电源在一个脉冲周期的正向脉冲和反向脉冲的时间比为10 :1至20 :1。在图4的示意性示例中，负㈠电流(即，正向脉冲的幅值)是正⑴电流(即，反向脉冲的幅值)的5倍，而正向脉冲的持续时间是反向脉冲的持续时间的20倍。应当理解，这样的双脉冲电源的波形仅是示意性的，而非限制性的。优选地，在电镀开始时就对衬底施加双脉冲电源，直至电镀完成(例如，孔被完全填充，或者，金属被镀至期望的厚度，等等)。在本专利技术的一些优选实施例中，在电镀的过程中，在施加双脉冲电源的同时，可以对器件施加超声波。一般地，对器件施加超声波自然地会影响到器件周围的溶液。因此，在一些实施方案中，对器件被置于其中的整个溶液施以超声波。超本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体器件制造方法，其特征在于，所述方法包括：在对半导体器件的待电镀部件进行电镀金属的过程中，对所述半导体器件施加双脉冲电源，并且，在所述电镀的过程中对所述半导体器件施加超声波。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周鸣，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造北京有限公司，
类型：发明
国别省市：