【技术实现步骤摘要】
本技术属于电子封装制造技术,具体涉及一种功率器件封装用覆铜硅基板。现有技术随着三维封装技术发展和系统集成度提高,以大功率发光二极管(LED)、绝缘栅双极晶体管(IGBT)、激光器(LD)为代表的功率器件制造过程中,散热基板的选用成为关键的技术环节,并直接影响到器件的使用性能与可靠性。对于电子封装而言,散热基板主要是利用其材料本身具有的高热导率,将热量从芯片导出,实现与外界的电互连与热交换。但对于功率器件封装而言,基板除具备基本的布线(电互连)功能外,还要求具有较高的导热、绝缘、耐高温、耐电压能力与热匹配性能,一般采用陶瓷覆铜基板(就是金属铜层与陶瓷片的复合结构,该结构充分利用了铜层的高导电、导热能力与陶瓷基片的绝缘、耐热、耐电压能力)。常用的陶瓷覆铜板包括厚膜烧结工艺制备的陶瓷金属化基板、高温直接键合工艺制备的覆铜陶瓷板(DBC)和直接电镀工艺制备的覆铜陶瓷板(DPC)。而常用的陶瓷基片材料则·为氧化铝、氮化铝、碳化硅和氧化铍等。其中,氧化铝的热导率较低(20-30W/mK),氮化铝和碳化硅的价格较高,而氧化铍具有一定的毒性,并且陶瓷材料与芯片材料(一般为半 ...
【技术保护点】
一种覆铜硅基板,其特征在于,在硅片(1)上表面设有热压键合而成的芯片焊接区铜层(2)和上电极引线区铜层(3),在硅片(1)下表面设有热压键合而成的导热和应力补偿铜层(4),以及下电极引线区铜层(3’),上、下电极引线铜层(3、3’)通过硅片(1)内孔中的铜柱(5)实现互连,芯片焊接区铜层(2)、导热和应力补偿铜层(4)、上电极引线区铜层(3)和下电极引线区铜层(3’)的厚度相等,且均为由铜箔表面选择性腐蚀后在硅片表面键合制备而成的铜层。
【技术特征摘要】
1.一种覆铜硅基板,其特征在于,在硅片(I)上表面设有热压键合而成的芯片焊接区铜层(2)和上电极引线区铜层(3),在硅片(I)下表面设有热压键合而成的导热和应力补偿铜层(4),以及下电极引线区铜层(3’),上、下电极引线铜层(3、3’)通过硅片(I)内孔中的铜柱(5)实现互连,芯片焊接区铜层(2)、导热和应力补偿铜层(4)、上电极引线区铜层(3)和下...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈明祥,黄瑾,
申请(专利权)人:武汉利之达科技有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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