集成电路的标识制造技术

一般地描述了针对集成电路(IC)产生标识号的技术。在一些示例中，用于产生IC的标识的方法可以包括：选择IC的电路元件；估计针对所选电路元件的IC的属性的测量，其中各个测量与先前应用于IC的相应输入矢量相关联；对至少部分地基于针对所选电路元件的IC的属性所获取的测量而形成的多个等式进行求解，以确定所选电路元件的比例因子；以及对针对所选电路元件的比例因子进行变换，以产生IC的标识号。还公开了其它变体和实施例。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本申请一般涉及集成电路领域，更具体地，涉及集成电路的标识。
技术介绍
集成电路(IC)已经广泛地用于大量电子设备。在一些应用中，集成电路的标识和认证是有用的，例如，出于安全性目的。传统的标识和认证技术需要在IC中包括附加电路、 非易失性存储器和/或固件，这并不总是可行的。
技术实现思路
通常，本公开的实施例提出了与集成电路的标识相关联的各种方法、设备、存储介质和/或系统。在各个实施例中，使计算设备产生包括电路元件的集成电路(IC)的标识号的方法可以包括选择IC的电路元件，以及针对所选电路元件估计IC的属性的测量结果。各个测量结果可以与先前应用于IC的对应输入矢量相关联。该方法还可以包括对至少部分地基于针对所选电路元件的所获取的IC属性的测量结果而形成的多个等式进行求解，以确定所选电路元件的比例因子，以及对针对所选电路元件确定的比例因子进行变换， 以产生IC的标识号。在各个实施例中，对多个等式进行求解可以包括对还基于针对所选电路元件的 IC的另一属性的其它测量结果而形成的多个等式进行求解。该属性和该另一属性可以包括漏电流、延迟、切换功率、寄生电容、电感、电阻、增益、偏置电压、阈值电压、工作温度、功耗或空闲电流中的两个。在各个实施例中，对多个等式进行求解可以包括至少部分地基于测量结果中的误差，对还包括对应的误差项的多个等式进行求解。此外，对多个等式进行求解还可以包括用公式表示包括减小多个等式的误差项的范数(norm)的目标函数的最优化问题。在各个实施例中，对所确定的比例因子进行变换还可以包括选择比例因子中的一个或多个，将一个或多个所选比例因子映射到对应的二进制码，以及使用针对所选比例因子的所映射的二进制码，产生IC的标识号。在各个实施例中，该变换可以包括产生比例因子的概率分布函数(PDF)，将PDF之下的区域分为单独(individual)的部分，使得单独的部分中的每一个具有大致相等的面积，将二进制码分配给单独的部分，使得每个单独的部分与相应的二进制码相关联，基于分配给单独的部分的二进制码，将二进制码分配给单独的部分中包括的单独的比例因子，以及使用分配给单独的比例因子的二进制码，产生IC的标识号。在各个实施例中，该方法还可以包括对所产生的标识的冲突概率进行估计。此外，选择电路元件还可以包括选择第一数量的电路元件。所产生的标识号可以是第一标识号。该方法还可以包括确定冲突概率高于阈值冲突概率，基于确定冲突概率较高来选择第二数量的电路元件，以及产生IC的第二标识号，使得第二标识号具有比第一标识号相对低的冲突概率。第二数量的电路元件可以包括比第一数量的电路元件更多的电路元件。6在各个实施例中，使计算设备产生包括电路元件的集成电路(IC)的标识号的方法可以包括启动将输入矢量应用于包括在IC中的电路元件中的一个或多个，以及响应于输入矢量的应用而接收测量值。该测量值可以与响应于输入矢量的应用的、针对所述一个或多个电路元件的一个或多个属性所测量的值相对应。该方法还可以包括基于对应的测量值来形成多个等式，对所述多个等式进行求解以确定对应的一个或多个电路元件的一个或多个比例因子，以及对所确定的一个或多个比例因子进行变换以产生IC的标识号。所述多个等式中的每一个可以包括对应的一个或多个电路元件的一个或多个比例因子。在各个实施例中，一个或多个属性中的每一个可以包括漏电流、延迟、切换功率、 寄生电容、电感、电阻、增益、偏置电压、阈值电压、工作温度、功耗或空闲电流之一。此外，对多个等式进行求解可以包括对包括与一个或多个电路元件相对应的一个或多个项的等式进行求解。一个或多个项中的每一个包括对应的电路元件的属性的标称值和对应的电路元件的比例因子。此外，对多个等式进行求解可以包括至少部分地基于对应测量值中的误差，对还包括对应误差项的等式进行求解。对于这些实施例，该方法还可以包括用公式表示包括减小多个等式的误差项的范数的目标函数的最优化问题，和/或使用线性规划、逐条线性规划、非线性规划、二次规划、或凸规划来对最优化问题进行求解。在各个实施例中，该方法还可以包括将电路元件中的一个或多个标识为多义 (ambiguous)电路元件。形成多个等式还可以包括形成多个等式，使得从多个等式中的单独等式中排除多义电路元件中的一个或多个。该方法还可以包括引起IC的工作条件的改变，以降低测量值所需的精度。在各个实施例中，对所确定的一个或多个比例因子进行变换还可以包括选择比例因子中的一个或多个，将一个或多个所选比例因子映射到对应的二进制码，以及使用所述二进制码产生IC的标识号。该方法还可以包括标识与已经选择了比例因子的一个或多个电路元件相对应的指示符字符串中的一个或多个比特，将所标识的一个或多个比特设置为1，使得所述指示符字符串指示其比例因子已经用于产生IC的标识号的电路元件。选择比例因子中的一个或多个还可以包括产生比例因子的概率分布函数(PDF)，将PDF之下的区域分为单独的部分，将单独的部分分为第一集合的部分和第二集合的部分，使得第一集合的部分中的单独的部分和第二集合的部分中的单独的部分是交错的(interleaved)，以及选择处于第一集合的部分中的一个或多个比例因子。映射可以包括将二进制码分配给第一集合的部分中的单独的部分，使得第一集合的部分中的每个单独的部分与相应的二进制码相关联，并基于分配给单独的部分的二进制码，将二进制码分配给第一集合的部分中的单独的部分中包括的比例因子。在各个实施例中，对所确定的一个或多个比例因子进行变换还可以包括产生比例因子的概率分布函数(PDF)，将PDF之下的区域分为单独的部分，每一个部分具有大致相等的面积，将二进制码分配给单独的部分，使得每个单独的部分与相应的二进制码相关联， 基于分配给单独的部分的二进制码，将二进制码分配给单独的部分中包括的比例因子，以及使用分配给比例因子的二进制码产生IC的标识号。在各个实施例中，该方法还包括响应于确定一个或多个比例因子和/或产生IC 的标识号，对IC进行认证。对IC进行认证还可以包括通过启动将一个或多个输入矢量应用于IC中包括的电路元件中的一个或多个，询问(challenge) IC的标识；响应于所述询问，接收响应值；将接收到的响应值与存储在IC外部的数据库中的响应值进行比较；以及至少部分地基于所述比较来对IC进行认证。响应值可以包括一个或多个电路元件的一个或多个操作特性的指示。该方法还可以包括至少部分地基于对IC的认证，许可IC或IC的用户对一个或多个服务或设备的访问或操作权。在各个实施例中，该方法还可以包括确定向IC的一个或多个电路元件的数据分配的调度，使得总漏电流、温度、寄生电容或IC老化速度降低。在各个实施例中，该方法还可以包括至少部分地基于所确定的一个或多个电路元件的比例因子，针对在持续时段内要在IC上执行的任务，确定IC的工作电压，使得总漏电流、温度、寄生电容或IC老化速度降低。在各个实施例中，一种设备可以包括处理器，以及具有编程指令的存储介质，被配置为响应于处理器执行指令，使所述设备执行先前描述的方法的一些或所有方面。在各个实施例中，计算机可读存储介质可以具有所述编程指令。以上
技术实现思路
只是示意性的，并不是限制性的。除了上述示意性的方面、实施例和特征之外，其它本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：米奥德拉格·波特科尼亚克，
申请(专利权)人：卡伦茨技术有限公司，
类型：发明
国别省市：