The invention discloses a tray type integrated circuit chip testing device, including test rack and universal probe contact module; wherein, the test rack setting the test tray loading tray, and the tray load test disc lifting movement of the pneumatic lifting parts, and test tray is arranged on the disk carrying test material disk limit limit parts, and lift sensor and controller; the contact module comprises a universal probe pallet, pallet from the top down is provided with a fixed plate, PCB adaptor, PCB adapter plate, A plate, B plate probe probe and probe test, the test probes are respectively fixed on the probe plate and A the probe board of B, and the PCB transfer board connected contact. The invention can treat the measuring IC to carry out the whole disk test, and the testing efficiency is high.
【技术实现步骤摘要】
一种托盘式集成电路芯片测试装置
本专利技术涉及集成电路测试领域,尤其涉及的是一种托盘式集成电路芯片测试装置。
技术介绍
现有技术中,IC测试都是通过专用测试装置单个进行测试,单个测试操作复杂,测试效率较低。因此,现有技术存在缺陷,需要改进。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是:提供一种整盘测试,测试效率高的托盘式集成电路芯片测试装置。本专利技术的技术方案如下:一种托盘式集成电路芯片测试装置,包括测试机架和接触导通用探针模组;其中,测试机架上设置测试料盘载盘、以及使测试料盘载盘升降运动的气动升降部件,并且,测试料盘载盘还设置有对测试料盘进行限位的限位部件、以及升降感应及控制器;接触导通用探针模组包括有托板、托板上由上往下设置有转接插槽、PCB固定板、PCB转接板、探针A板、探针B板和测试探针,其中,测试探针分别固定在探针A板和探针B板内,并与PCB转接板接触连通。应用于上述技术方案,所述的托盘式集成电路芯片测试装置中,还包括一放置在测试料盘载盘上的测试料盘,测试料盘上设置有若干用于放置待测IC的限位框,各限位框与测试探针一一对应。应用于上述技术方案,所述的托盘式集成电路芯片测试装置中,接触导通用探针模组还设置有若干定位销。采用上述方案,本专利技术通过设置测试机架和接触导通用探针模组测试机架,通过在测试机架设置托盘式测试料盘载盘和测试料盘,并通过设置的接触导通用探针模组导通测试料盘上的待测IC,如此,可以进行整盘测试,测试效率高。附图说明图1为本专利技术的结构立体图;图2为本专利技术的正视图;图3为本专利技术的俯视图;图4为本专利技术中测试料盘的结构图; ...
【技术保护点】
一种托盘式集成电路芯片测试装置,其特征在于:包括测试机架和接触导通用探针模组;其中,测试机架上设置测试料盘载盘、以及使测试料盘载盘升降运动的气动升降部件,并且,测试料盘载盘还设置有对测试料盘进行限位的限位部件、以及升降感应及控制器;接触导通用探针模组包括有托板、托板上由上往下设置有转接插槽、PCB固定板、PCB转接板、探针A板、探针B板和测试探针,其中,测试探针分别固定在探针A板和探针B板内,并与PCB转接板接触连通。
【技术特征摘要】
1.一种托盘式集成电路芯片测试装置,其特征在于:包括测试机架和接触导通用探针模组;其中,测试机架上设置测试料盘载盘、以及使测试料盘载盘升降运动的气动升降部件,并且,测试料盘载盘还设置有对测试料盘进行限位的限位部件、以及升降感应及控制器;接触导通用探针模组包括有托板、托板上由上往下设置有转接插槽、PCB固定板、PCB转接板、探针A板、探针B板和测试探针...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈家峰,蒋伟,段超毅,
申请(专利权)人:深圳凯智通微电子技术有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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